Оптический сферометр Советский патент 1949 года по МПК G01B11/255 G01B9/04 

Описание патента на изобретение SU79150A1

Известны измерительные приборы, в которых в качсстж опоры применяются сферические камни. Радиус сферы камней влияет на качество сочленения радиуса кривизны керна прибора и его опорыОписываемый оптический сферометр разработан на принципе оптического метода контроля, использующего проверку состояния рабочей новерхности камня па основе соответствия его четырем треугольникам. ITpir птом пучок лучей, падающих па хонпческую зюворхность камня, дает при отражении расходящиеся лучи, а пучок лучей, падающих на сферическую поверхность камня, ,т,аот отраженные лу-:и.

На фиг. 1-4 изображена схема оптичсч-кого сферометра.

Предлагаемый, прибор выполнен из кроки1тейна 1. укрепляемого на предметном столи.ке микроскоп к которому прикреиляется изоляционная скоба 2 с укрепленными на ней двумя источниками света. Расстояние А между последними выбрано такое, при котором их лучи встречаются у исследуемого объекта под тлом, близким к 45°. Расстояние S от скобы до исследуемого объекта Е,1брано значительно больще радиуса закругления подпятннка, что позволяет производить измерение расстояния между изображения ПI источников света. В О1-;у.т1Я1)о микроскопа )1ометг|,аотся споптш.тыгаи шкала, позполя1ОП1;ая наблюдать расстояние между изображениями aiao, точек А-, и А2.

Во избежание нанесения специальной пкалы в окуляре микроскопа на предметном столике кренится уст1юйство, позволяющее перемещать испытуемый объект в направлсню прямой AiAo OTifocnтельно тубуса микроскопа.

При отсутствии в окуляре специальиой можно пользоваться микрометром, дающим отсчет с точностью до COTI,IX долей миллиметра. Камень в этом случае перемещают, чтобы добиться подведения под середину окуляра сначала одного изображения, а затем второго. Разницу показаний микрометра отлгечают и, располагая щкалу под

N 79150

соответствующим масштабом, получают величину радиуса. Для удобства наблюдения в окуляре помещается линза с двумя линиями, пересекающимися под углом 90°, из которых одна совпа 1ает с напраилением AiA2.

Предмет изобретения

1- Оптический сферометр для измерения радиуса закругления подпятников, основанный на измерении изображения объекта, отраженного в сферической поверхности подпятника, отличающийся тем, что, с целью увеличения яркости изображения, в нем в качестве светящегося объекта применены два источника света, расположенные на концах скобы, прикрепленной к неподвижной части микроскона.

2.Форма вынолнения оптического сферометра по п. 1, отличающаяся тем, что, с целью уменьшения ошибок измерения, расстояние от скобы до исследуемого объекта в нем выбрано значительно больше радиуса закругления подпятника, что позволяет в частности, производить измерение расстояния между изображениями источников света перемещением измеряемого объекта относительно тубуса микроскопа.

3.Форма выполнения оптического сферометра по пп. 1-2, отличающаяся тем, что расстояние между источниками света

выбрано такое, при котором лучи от них встречаются у исследуемого объекта под углом, близким к 45°.

4.Форма выполнения оптического сферометра по пп. 1-3, отличающаяся тем, что на пути лучей от источников света установлены линзы.

Похожие патенты SU79150A1

название год авторы номер документа
Рефрактометр для прозрачных пластин 1988
  • Амстиславский Яков Ефимович
SU1631373A1
СПОСОБ ОПТИЧЕСКОЙ ТОМОГРАФИИ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРООБЪЕКТОВ И МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1999
  • Левин Г.Г.
  • Вишняков Г.Н.
RU2145109C1
МИКРОСКОП ПРОХОДЯЩЕГО И ОТРАЖЕННОГО СВЕТА 2009
  • Натаровский Сергей Николаевич
  • Скобелева Наталия Богдановна
  • Лобачева Елена Викторовна
  • Сокольский Михаил Наумович
RU2419114C2
МИКРОСКОП ДЛЯ РАБОТЫ В ПРОХОДЯЩЕМ И (ИЛИ) ОТРАЖЕННОМ СВЕТЕ 1986
  • Фолькер Вюрфель[De]
RU2037854C1
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ОСИ КОРУНДОВЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОДПЯТНИКОВ В СОСТАВЕ МАЯТНИКОВ ГАЗОВЫХ ЦЕНТРИФУГ 2011
  • Агапов Николай Афанасьевич
  • Агапов Дмитрий Николаевич
  • Бояринов Олег Вениаминович
  • Кулешов Валерий Константинович
  • Мевиус Вячеслав Владимирович
  • Самуйленкова Татьяна Никитична
  • Сеелев Игорь Николаевич
  • Фортуна Сергей Валерьевич
  • Южаков Дмитрий Геннадьевич
RU2473072C1
УЧЕБНЫЙ ОПТИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 1998
  • Амстиславский Я.Е.
RU2154307C2
Интерферометр 1976
  • Бубис Исак Яковлевич
  • Кузнецов Алексей Иванович
SU603840A1
ОПТИЧЕСКИЙ ТЕНЗОМЕТР 1931
  • Иванов Ю.М.
SU37368A1
Сканирующий оптический микроскоп 1991
  • Вентов Николай Георгиевич
  • Куликов Вадим Евгеньевич
  • Лещенко Сергей Константинович
  • Медзюкас Александр Михайлович
SU1797717A3
Оптический микросферометр для измерения радиуса закругления подпятников 1936
  • Кульбуш Г.П.
SU50886A1

Иллюстрации к изобретению SU 79 150 A1

Реферат патента 1949 года Оптический сферометр

Формула изобретения SU 79 150 A1

SU 79 150 A1

Авторы

Иконников С.Н.

Даты

1949-01-01Публикация

1947-01-08Подача