Способ измерения толщины непроводящегопОКРыТия Советский патент 1981 года по МПК G01B7/06 

(54) СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ НЕПРОВОДЯЩЕГО ПОКРЫТИЯ управляемые резистивные аттенюаторы 7 и 8 соединены с выходом генератора 9синус сидального напряжения, который соединен также со входом схемы 10упраеления. Выходы схемы 10 управления соединены со входами управления аттенюаторов 7 и 8. Выходы У и Wj включены на вход нуль-органа 11, выход которого соединен со схемой 10 управления, которая имеет также вход 12 начальная установка. Способ иэн ерения толщины покрытия осуществляется следукяцим образом. В начальный момент на вход 12 схе мы 10 управления подают импульс, и аттенюаторы 7 и 8 устанавливаются в начальное положение, при котором, например, аттенюатор 8 не ослабляет си.гнал генератора 9, а аттенюатор 7 ослабляет сигналгеиерачора 9 до нуля В этом случае ток «гмакс и i 0, т.е., отношение чисел ампервитков Р 2 «О. Вследствие близости про водящего основания 1 к катушкам W , 2, W разность ЭДС де катушек Wj и W iie равна нулю, на выходе нульоргана 11 отсутствует сигнал, и на выходах схемы 10 управления появляют ся управляющие сигаогал, в результате чего величищя ослабления аттенюаторов 7 и S начинают изменяться-: у аттебНйатора 8 - возрастать, у аттенюатора 7 - уменьшаться. Возникает ток Jg, амплитуда которого возрастает, а амплитуда тока Jg уменьшается. Это приводит к Монотонному увеличению значения ампервитков ц и монотон му уменьшению вихревых токов в основании Ij при этом величина разно ти ЭДС монотонно уменьшается, в момент, когда достигнуто состояние, при котором , срабатывает нул орган 11, на его выходе появляется сигнал стоп, воздействующий на сх му 10 управления, что приводит к фи сации положения аттенюаторов 7 и 8. В этом положении определяют значени ампервитков и по нему судят о величине измеряемой толщины покрытия 2. Применение предлагаемого способа позволяет повысить точность измерений, так как результат измерения не зависит от изменения напряжения генератора 9, величина р может быть задана, а следовательно, и зарегистрирована с малой погрешностью, отсутствуют операции измерения вносимой ЭДС или вносимых сопротивлений и связанные-с ними погрешности; результат измерения мало зависит от значения электропроводности основания. Формула изобретения Способ измерения толщины непроводящего покрытия на проводящем неферромагнитном основании, заключающийся в том, что накладывают на контролируемое изделие со стороны непроводящего покрытия вихретоковый нак-. ладной преобразователь и измеряют величину ЭДС, наводимую в его измерительной катушке, отличающийс я тем, что, с целью повышения точности измерений, устанавливают на фиксированном расстоянии соосно с первым второй накладной вихретоковый преобразователь, возбуждают с его помощью противофазное первому электромагнитное поле, изменяют отношение ампервитков преобразователей, регистрируют значение этого отношения в момент равенства нулю вихревых токов в основании и по нему судят о толщине покрытия. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Справочник Неразрушающие испытания. Под ред. Р. Мак-Мастера. М., энергия, 1965, ч.1, с. 195-216. 2.Справочник Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Под ред. В.В. Клюева, М., Машиностроение, 1976, ч. и с.144 (прототип).