Способ дифракционной микрорентгено-гРАфии МОНОКРиСТАллОВ Советский патент 1981 года по МПК G01N23/20 

Описание патента на изобретение SU817552A2

Изобретение относится к ренггеноструктурному анализу. По основному авт. св. 720349, 720350 известен способ дифракционной микрорентгенографии монокрист;аллов, заключающий в том, что дифрагированный исследуемым монокристаллом пучок пропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокристалл, толщину которого выбирают из условий нормального прохождения ,рентгеновского излучения 1. Этот способ обеспечивает увеличе ние дифракционных картин, но в некоторых случаях получа:емое разрешение недостаточно для выявления тонких деталей структуры. Цель изобретения - повышение разрешения получаемой дифракционной картины. Поставленная цель достигается тем что осуществляют сканирован ие исследуемого кристалла рентгеновским пучком и синхронное перемещение средств регистрации, причем отношение скорос ти сканирования исследуемого кристал ла к скорости перемещения средств регистрации выбирают равным отношени ширины -падакидего на совершенный монокристалл пучка к ширине выходящего из указанного кристалла пучка . При этом в одном варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем перемещения щели, установленной между этим кристаллом и .совершенным монокристаллом на пути дифрагированного пучка. В другом варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем его перемещения относительно первичного пучка. На фиг. 1 представлена схема увеличения интерференционных картин с движущейся щелью; на фиг. 2 - схема получения рентгеновских топограмм. Первичный рентгеновский пучок 1 падает под углом Вульфа-Брегга на интерференционную систему из тонких монокристаллов 2. Дифрагированный пучок 3 падает на совершенный монокристсшл 4, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения и который установлен в отражак)щее положение. На пути пучка 3 установлена щель 5. Прошедший через совершенный монокристалл 4 пучок регистрируется на фотопленке 6. При этом производят синхронное перемещение щели 5 и

Похожие патенты SU817552A2

название год авторы номер документа
СПОСОБ ФАЗОВОЙ РЕНТГЕНОГРАФИИ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Ингал Виктор Натанович
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Бушуев Владимир Алексеевич
RU2115943C1
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ОБЪЕКТА 1991
  • Ингал Виктор Натанович
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Ефанов Валерий Павлович
RU2012872C1
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Заргарян Ерджаник Григорьевич
  • Асланян Вардан Григорьевич
SU1133520A1
Способ контроля распределения структурных неоднородностей по площади монокристалла и устройство для его осуществления 1984
  • Мингазин Т.А.
  • Бондарец Н.В.
  • Зеленов В.И.
  • Лейкин В.Н.
SU1225358A1
Способ рентгеновской дифрактометрии 1980
  • Александров Олег Викторович
  • Киселева Кира Вячеславовна
  • Кузнецов Юрий Алексеевич
  • Турьянский Александр Георгиевич
SU911264A1
Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов 1988
  • Абоян Арсен Оганесович
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Хзарджян Андраник Александрович
SU1673933A1
Способ получения рентгеновских проекционных топограмм 1990
  • Абоян Арсен Оганесович
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Хзарджян Андраник Александрович
SU1748030A1
Способ контроля распределения структурных неоднородностей в объеме монокристалла и установка для его осуществления 1986
  • Мингазин Т.А.
  • Бондарец Н.В.
  • Зеленов В.И.
  • Лейкин В.Н.
SU1389435A1
Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения 1983
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Аветисян Гаяне Гарушевна
SU1100641A1
Способ дифракционной микрорентгенографии 1978
  • Безирганян Петрос Акопович
  • Дрмеян Генрик Рубенович
  • Эйрамджян Фердинанд Оганесович
SU720349A1

Иллюстрации к изобретению SU 817 552 A2

Реферат патента 1981 года Способ дифракционной микрорентгено-гРАфии МОНОКРиСТАллОВ

Формула изобретения SU 817 552 A2

SU 817 552 A2

Авторы

Безирганян Петрос Акопович

Дрмеян Генрик Рубенович

Даты

1981-03-30Публикация

1978-09-26Подача