Изобретение относится к ренггеноструктурному анализу. По основному авт. св. 720349, 720350 известен способ дифракционной микрорентгенографии монокрист;аллов, заключающий в том, что дифрагированный исследуемым монокристаллом пучок пропускают через установленный в отражающее положение совершенный монокристалл, толщину которого выбирают из условий нормального прохождения ,рентгеновского излучения 1. Этот способ обеспечивает увеличе ние дифракционных картин, но в некоторых случаях получа:емое разрешение недостаточно для выявления тонких деталей структуры. Цель изобретения - повышение разрешения получаемой дифракционной картины. Поставленная цель достигается тем что осуществляют сканирован ие исследуемого кристалла рентгеновским пучком и синхронное перемещение средств регистрации, причем отношение скорос ти сканирования исследуемого кристал ла к скорости перемещения средств регистрации выбирают равным отношени ширины -падакидего на совершенный монокристалл пучка к ширине выходящего из указанного кристалла пучка . При этом в одном варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем перемещения щели, установленной между этим кристаллом и .совершенным монокристаллом на пути дифрагированного пучка. В другом варианте сканирование исследуемого кристалла осуществляют путем его перемещения относительно первичного пучка. На фиг. 1 представлена схема увеличения интерференционных картин с движущейся щелью; на фиг. 2 - схема получения рентгеновских топограмм. Первичный рентгеновский пучок 1 падает под углом Вульфа-Брегга на интерференционную систему из тонких монокристаллов 2. Дифрагированный пучок 3 падает на совершенный монокристсшл 4, толщина которого выбрана из условия нормального прохождения рентгеновского излучения и который установлен в отражак)щее положение. На пути пучка 3 установлена щель 5. Прошедший через совершенный монокристалл 4 пучок регистрируется на фотопленке 6. При этом производят синхронное перемещение щели 5 и
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ФАЗОВОЙ РЕНТГЕНОГРАФИИ ОБЪЕКТОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) | 1997 |
|
RU2115943C1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ ВНУТРЕННЕЙ СТРУКТУРЫ ОБЪЕКТА | 1991 |
|
RU2012872C1 |
Рентгенографический способ исследования структурного совершенства монокристаллов (его варианты) | 1983 |
|
SU1133520A1 |
Способ контроля распределения структурных неоднородностей по площади монокристалла и устройство для его осуществления | 1984 |
|
SU1225358A1 |
Способ рентгеновской дифрактометрии | 1980 |
|
SU911264A1 |
Рентгеноинтерферометрический способ исследования кристаллов | 1988 |
|
SU1673933A1 |
Способ контроля распределения структурных неоднородностей в объеме монокристалла и установка для его осуществления | 1986 |
|
SU1389435A1 |
Способ получения рентгеновских проекционных топограмм | 1990 |
|
SU1748030A1 |
Способ получения линейно поляризованного рентгеновского излучения | 1983 |
|
SU1100641A1 |
Способ дифракционной микрорентгенографии | 1978 |
|
SU720349A1 |
Авторы
Даты
1981-03-30—Публикация
1978-09-26—Подача