Дефектоскоп контроля качествапОВЕРХНОСТи издЕлий Советский патент 1981 года по МПК G01N27/82 

54) ДЕФЕКТОСКОП КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ ИЗДЕЛИЙ

равное количеству секторов отметки, т.е. количеству краскоотметчиков. Этот недостаток особенно ощутим при необходимости сопровождать информацию о дефектах при большом числе каналов (например 17, при контроле круглых заготовок). ,

Цель изобретения - упрощение дефектоскопа.

Поставленная цель достигается тем, что дефектоскоп контроля качества поверхности изделий, содержащийсканирующий преобразователь, блок обработки сигнала, датчиксекторов и дефектоотметчики, подключенные к выходу каждого элемента И, число которых равно числу секторов отметки снабжен регистром сдвига, шифратором, дешифратором и датчиком цикла, подключенным к первому входу шифратора, второй вхо которого связан с датчиком сектора и с первым входом регистра сдвига, второй вход последнего подключен к выходу блока обработки сигнала, а выход регистра сдвига подключен к первым входам всех элементов И, вторые входы которых подключены к соответствующим выходам дешифратора, каждый из входов которого связан с соответствующим выходом шифратора.

На чертеже изображена функциональная схема дефектоскопа.

.Дефектоскоп контроля качества поверхности изделий содержит сканирующий преобразователь 1, установленный на вращающейся планшайбе 2, имеющей привод 3, кинематически связанный с приводом механизма подачи изделия 5. На статоре 6 сканирующего устройства размещены датчик 7 секторов и датчик 8 цикла. В состав дефектоскопа входят блок 9 обработки сигнала преобразователя, регистр 10 сдвига со схемой 11 сброса регистра 10 в О, шифратор 12, дешифратор 13, элементы И 14 и дефектоотметчики 15.

Работает дефектоскоп следующим образом.

Изделие 5 перемещается поступательно по рольгангу и одновременно контролируется сканирующим преобразователем 1, сигнал которого преобразуется в блоке 9 обработки сигнала в импульс определенной длительности и амплитуды и поступает на информационный вход регистра 10 сдвига. При повороте планшайбы 2 на угол равный углу одного сектора, датчик 7 вырабатывает сигнал, который посту 1пит рцновременно на первый тактовый вход регистра 10 сдвига и один из входов шифратора 12, где производится счет поступающих на него импульсов датчика секторов, например, в двоичном коде. При этом каждый импульс датчика 7 смещает запись в регистре 10 сдвига на одну ячейку и одновременно увеличивает счет шифратора 12 на единицу. Дешифратор 13 последовательно подает сигнал на элементы И 14 в соответствии с номером сектора, учтенным шифратором 12. Одновременно на вторые входы всех элементов И 14 поступает сигнал с выхода регистра 10 сдвига, если в данном секторе ранее был обнаружен дефект в изделии 5 преобразователем 1 В случае совпадения сигналов на одном из элементов И 14 на его выходе также появится сигнал, который включит соответствующий дефектоотметчик 15.

Для исключения накопления ошибки в случае сбоя в счете шифратора 12 дефектоскоп снабжен датчиком 8 цикла, который вырабатывает сигнал при каждом обороте планшайбы 2. Если при появлении сигнала датчика 8 цикла код шифратора 12 не будет соответствовать числу секторов, то сигнал датчика 8 восстановит это число. Если же код на шифраторе 12 будет соответствовать числу секторов, то сигнал датчика 8 цикла на работу влиять не будет.

-При устойчивой работе дефектоскопа датчик 8 цикла выполняет роль синхронизатора начала счета после включения дефектоскопа.

Для установки регистра 10 в О в дефектоскопе предусмотрена схема 11 принудительного сброса.

Предлагаемый дефектоскоп имеет один канал переноса информации о дефектах из плоскости контроля в плоскость дефектоотметки независимо от числа секторов, в отличие от известных устройств, в которцх число каналов переноса информации равно числу секторов отметки.

Таким образом, эффект от применеНИН данного устройства тем выше, чем больше число секторов отметки, чем больше расстояние от плоскости контроля до плоскости отметки, чем меньше шаг сканирования.

Формула изобретения

Дефектоскоп контроля качества поверхности изделий, содержащий сканирующий преобразователь, блек обработки сигнала, датчик секторов, дефектоотметчики, вход каждого из крторых связан соответственно с выходом элемента И, при этом количество элементов И равно числу секторов, а вход блока обработки сигнала подключен к сканирующему преобразователю, отличающийся тем, что, с целью упрощения, дефектоскоп снабжен регистром сдвига, шифратором, дешифратором и датчиком цикла, подключенным к первому входу шифратора, второй вход которого связан с датчиком секторов и с первым входом регистра сдвига, второй вход регистра сдвига подсоединен к выходу блока обработки сигнала, а выход регистра сдвига подключен к первым входам всех элементов И, вторые входы которых подключены к соответствующим выходам дешифратора, каждый из входов которого связан с соответствующим выходом шифратора.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР

349938, кл. Q 01 N 27/86, 18.07.69.

2.Авторское свидетельство СССР

292108, йл. Q 01 N 27/82,29.07.68.

-гТг-/ ТгТ/ «Ш--Й1й1