Способ контроля совмещаемости фотошаблона Советский патент 1981 года по МПК H01L21/00 

Описание патента на изобретение SU819856A1

(54) СПОСОБ КОНТРОЛЯ СОВМЕЩАЕМОСТИ ФОТОШАБЛОНОВ

Похожие патенты SU819856A1

название год авторы номер документа
Способ изготовления и контроля комплекта фотошаблонов 1981
  • Погоцкий Эдуард Иосифович
  • Полякова Наталья Георгиевна
  • Точицкий Эдуард Иванович
  • Строенко Анатолий Андреевич
SU1026198A1
Устройство для проекционной печати и совмещения рисунков фотошаблона с подложкой 1972
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU481145A1
Способ фотолитографии (его варианты) 1980
  • Сагайдак Дмитрий Ильич
  • Погоцкий Эдуард Иосифович
  • Зятьков Иван Павлович
  • Зубарева Мирослава Михайловна
  • Туромша Евгений Петрович
SU966655A1
УСТАНОВКА КОНТАКТНОЙ ФОТОЛИТОГРАФИИ ДЛЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН С БАЗОВЫМ СРЕЗОМ 2018
  • Самсоненко Борис Николаевич
RU2691159C1
Комплект фотошаблонов 1978
  • Устинов Владислав Федорович
SU809432A1
Трехканальный фотоэлектрический микроскоп 1971
  • Гаврилкин Анатолий Александрович
SU498591A1
УСТРОЙСТВО для СОВМЕЩЕНИЯ И ЭКСПОНИРОВАНИЯ РИСУНКОВ ФОТОШАБЛОНА И ПОЛУПРОВОДНИКОВОЙ 1973
  • Авторы Изобретени Витель А. Т. Буравцев, В. Ф. Лысюк, А. Н. Киселев, В. А. Лисовский, А. П. Грамматин, Э. А. Лустберг А. С. Уксусов
SU372595A1
Способ формирования изображения на подложке 1982
  • Цветков Юрий Борисович
  • Кизилов Анатолий Николаевич
  • Рубцов Иван Николаевич
  • Курмачев Виктор Алексеевич
  • Мартыненко Владимир Павлович
  • Якименко Александр Николаевич
SU1100604A1
Способ подготовки к контактному экспонированию и устройство для его осуществления 1977
  • Детлеф Ульрих
  • Петер Вестфаль
  • Дитер Эскольд
  • Хельмут Штельценмюллер
SU750614A1
УСТРОЙСТВО ПОЗИЦИОНИРОВАНИЯ ОБЪЕКТОВ 1990
  • Дубиновский А.М.
  • Дубиновский М.А.
  • Кучин А.А.
  • Кравцов Ю.И.
RU2011161C1

Иллюстрации к изобретению SU 819 856 A1

Реферат патента 1981 года Способ контроля совмещаемости фотошаблона

Формула изобретения SU 819 856 A1

1

Изобретение относится к микроэлектронике, преимущественно к производству интегральных микросхем, и может быть использовано при контроле совмещаемости комплекта фотошаблонов гибридных интегральных схем, больших гибридных интегральных схем, полупроводниковых интегральных схем, а также фотошаблонов печатных плат.

Известен способ контроля совмеш,аемости фотошаблонов методом контрольной фотолитографии на полупроводниковых пластинах 1. Сущность его заключается в следующем: на полупроводниковую пластину делают произвольную пропечатку 1-го фотошаблона из .комплекта. Затем на установке совмещения делают пропечатку второго фотошаблона,. совмещая его с первым. Таким образом, для комплекта из N фотошаблонов избирается N-1 полупроводниковых пластин со следами двойных совмещ,енных пропечаток. По отклонениям размеров зазоров между совмещаемыми элемента 1и судят с точности совмещения каждой пары фотошаблонов в технологической последовательности, т.е. первый с вторым, второй

С третьим и т.д. Такой способ является дорогим и трудоемким.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ контроля совмещаемости фотошаблонов, включающий последовательное проецирование изображений фотошаблонов на экран, ориентирование этих изображений относительно базовых меток на экране, совмещение изображений фотошаблонов между собой и оценку довмещаемости фотошаблонов 2.

Цель изобретения - снижение трудоемкости контроля комплекта фотошаблонов. , Достигается это благодаря тому, что в способе контроля совмещаемости фотошаблонов, включающем последовательное проецирование изображений фотошаблонов на экран, ориентирование этих изображений относительно базовых меток на экране, совмещение изображений фотошаблонов между собой и оценку совмещаемости фотошаблонов, проецирование изображений всех фотошаблонов на экран производят через один и тот же оптический канал, а совмещение изображений фотошаблонов между собой производят путем последовательного перемещения их относительно оси оптического канала с частотой стробоскопирования.

На чертеже схематично представлено устройство для реализации предлагаемого способа контроля совмещаемости изображений фотошаблонов.

Устройство состоит из диска 1 с закрепленными на нем фотошаблонами 2, экрана 3, оптического канала, Состоящего из импульсного осветителя 4, коллиматора 5, объектива 6, системы синхронизации, состоящей из осветителя 4, датчика 7, фотоэлектрического датчика 8 и блока синхронизации 9.

Пример. На диске 1 закрепляют любое количество фотошаблонов 2, предварительно совместив их по реперным знакам 10, с базовыми метками 11 на экране 3. Затем диск 1 приводят во вращательное движение. В момент введения фотошаблона 2 в оптический канал (4, 5, 6) при совпадении реперных знаков 10 фотощаблона 2 с базовыми метками на экране 3 синхронизированно, посредством системы синхронизации, включают импульсную лампу 4, которая проецирует через объектив 6 изображение фотощаблона 2 на экран 3. Аналогично вводятся и проекцируются изображения остальных фотошаблонов, причем частота прохождения фотошаблонов через оптический канал составляет не менее 10 Гц.

Благодаря некоторой длительности зрительного впечатления, каждое последующее изображение будет накладываться на предыдущее (стробоскопический эффект), и на экране 3 будет видно совмещенное изображение 12 всего комплекта фотощаблонов. На экране визуально или с помощью специальных устройств, управляемых от ЭВМ, проводят оценку совмещаемости комплекта фотошаблонов.

Использование предлагаемого способа контроля совмещаемости изображений фотошаблонов, благодаря введению в один оптический канал любого количества фотощаблонов с частотой не менее 10 Гц, по сравнению с существующими способами снижает трудоемкость контроля совмещаемости. фотощаблонов; повыщает точность контроля и позволяет контролировать одновременно любое количество фотощаблонов или заданное число слоев, что значительно повышает качество и сокращает сроки изготовления прецизионных фотощаблонов для производства ИС.

Формула изобретения

Способ контроля совмещаемости фотошаблонов на экран, ориентирование этих изображений относительно базо вых меток на экране, совмещение изображений фотощаблонов между собой и оценку совмещаемости фотошаблонов, отличающийся тем, что, с целью снижения трудоемкости контроля комплекта фотощаблонов, проецирование изображений всех фотощаблонов на экран производят через один и тот же оптический канал, а совмещение изображений фотощаблонов между собой проводят путем последовательного перемещения их относительно оптического канала с частотой стробоскопирования.

Источники информации,

принятые во внимание при экспертизе

1.«Введение в фотолитографию под редакцией В. .П. Лаврищева. - М., «Энергия, с. 106, 1977.2.«Введение в фотолитографию под ред. В. П. Лаврищева. - М., «Энергия,

с. 107, 1977 (прототип).

SU 819 856 A1

Авторы

Богатов Павел Николаевич

Борщев Вячеслав Николаевич

Спалек Юрий Михайлович

Черепков Алексей Иванович

Даты

1981-04-07Публикация

1979-05-29Подача