Радиометрический дефектоскоп дляКОНТРОля издЕлий C пЕРЕМЕННОйТОлщиНОй Советский патент 1981 года по МПК G01N23/18 

Описание патента на изобретение SU828040A1

ход которого соединен с управляющим входом детектора излучения, источник опорного напряжения, введены запоминающее устройство (ЗУ), ключ и датчик времени прохождения контролируемого изделия в поле детектора. Вход ЗУ соединен через ключ с выходом детектора, выход-с входом управляющего усилителя, а датчик времени прохождения контролируемого изделия - со сканирующим устройством и ключом.

На чертеже показана структурная схема дефектоскопа. Он содержит источник ионизирующего излучения 1, сканирующее устройство 2, датчик 3 времени прохождения зопы ожидаемого дефекта в поле зрения детектора излучения 4, ключ 5, соединяющий детектор излучения с ЗУ 6, управляющий усилитель 7, вход которого соединен с выходом ЗУ, а выход - с управляющим входом детектора, линейный интенсиметр 8, регистратор 9 и источник опорного напряжения 10.

В сканирующем устройстве установлено контролируемое изделие И.

Устройство работает следующим образом.

Излучение от радиоактивного источника 1, пройдя через контролируемое изделие И, падает на детектор излучения 4, возбуждая импульсы напряжения, которые усредняются по времени линейным интепсиметром. Их среднее значение отображается регистрирующим устройством 9. Выходное напряжение детектора 4 через ключ 5 подается также на ЗУ 6, величина постоянной составляющей напряжения сравнивается с опорным напряжением источника 10. Их разность усиливается усилителем 7, управляющим коэффициентом передачи детектора. Сканирующее устройство перемещает изделие таким образом, что в поле зрения детектора периодически появляется зона, в которой ожидается дефект (координаты этой зоны известны). Во время прохождения бездефектных участков в поле зрения детектора 4 ключ 5 замкнут. При этом цепь: ЗУ 6, усилитель 7 с источником опорного напряжения 10, поддерживает среднее значение выходного напряжения детектора

равным опорному с точностью до ошибок регулирования. Во время прохождения в поле зрения детектора зоны ожидаемого дефекта датчик времени 3, синхронизированный с работой сканирующего устройства, отключает ЗУ 6 ключом 5. Поскольку размеры дефекта малы, а изменение толщины за время прохождения дефекта незначительно, то искажениями сигнала от дефекта,

0 вызванными изменением толщины, можно пренебречь. Цепь: ЗУ усилитель, отключающаяся на время прохождения дефекта, не вносит искал ений в сигнал. Описываемое устройство позволяет повысить точность определения параметров дефектов, связанных с недопрессовкой деталей в изделии и осуществить автоматический неразрушающий контроль указанных дефектов.

Формула изобретения

Радиометрический дефектоскоп для контроля изделий с переменной толщиной, содержащий источник излучения, сканирующее устройство, последовательно соединенные детектор излучения, линейный интенсиметр, регистратор и управляющий усилитель, выход которого соединен с управляющим входом детектора излучения, и источник опорного напряжения, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, в него введены запоминающее устройство, ключ и датчик времени

прохождения контролируемого изделия в поле детектора, причем вход запоминающего устройства соединен через ключ с выходом детектора, а выход - с входом управляющего усилителя, датчик времени прохождения контролируемого изделия соединен со сканирующим устройством и ключом.

Источники информации, принятые во внимание при экспертизе

1.Авторское свидетельство СССР № 313081, кл. G 01В 15/02, 1962.

2.Дефектоскопия, 1975, № 6, с. 48 (прототип).

Похожие патенты SU828040A1

название год авторы номер документа
Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов 1982
  • Булгаков Валерий Федорович
SU1027594A2
Устройство для дефектоскопии поверхности 1977
  • Никитенко Николай Федорович
  • Кукса Николай Николаевич
  • Бабкин Владимир Александрович
  • Гуйван Анатолий Григорьевич
  • Сычева Татьяна Александровна
  • Лактионов Валерий Степанович
  • Колесников Юрий Александрович
  • Кабанов Юрий Михайлович
SU787954A1
Устройство для радиационной дефектоскопии 1990
  • Воробьев Владимир Александрович
  • Голованов Валерий Ефимович
  • Голованова Светлана Ивановна
  • Доронина Алевтина Алексеевна
SU1734000A1
Электромагнитный дефектоскоп для контроля протяженных объектов 1980
  • Булгаков Валерий Федорович
  • Жуков Владимир Константинович
SU868549A1
Способ ультразвукового томографического контроля изделий 1990
  • Осетров Александр Владимирович
  • Туржанский Антон Анатольевич
SU1817019A1
Двухканальный дефектоскоп 1980
  • Винокуров Борис Борисович
  • Золотухин Владимир Георгиевич
  • Лещенко Иван Гаврилович
SU896533A2
Способ определения плотности жидких сред и устройство для его осуществления 1986
  • Запаров Эркин Арифович
  • Каримов Иркин Адылович
  • Лысых Валерий Викторович
  • Петренко Виталий Демьянович
  • Имамов Туляган Хусанович
SU1390529A1
Двухчастотный дефектоскоп (его варианты) 1982
  • Винокуров Борис Борисович
  • Гасельник Владимир Валерьевич
  • Степанов Станислав Олегович
SU1068800A1
Способ электромагнитной дефектоскопии объектов с ферромагнитными включениями 1985
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Касимов Геннадий Анатольевич
SU1265585A1
Радиометрический дефектоскоп 1973
  • Колюбин Владимир Александрович
  • Косарев Леонид Иванович
  • Неуструев Николай Иванович
SU485368A1

Иллюстрации к изобретению SU 828 040 A1

Реферат патента 1981 года Радиометрический дефектоскоп дляКОНТРОля издЕлий C пЕРЕМЕННОйТОлщиНОй

Формула изобретения SU 828 040 A1

SU 828 040 A1

Авторы

Габрусенко Игорь Анатольевич

Завьялкин Феликс Михайлович

Даты

1981-05-07Публикация

1979-06-04Подача