Дефектоскоп Советский патент 1981 года по МПК G01N29/04 

(54) ДЕФЕКТОСКОП

Изобретение относится к измерител ной технике и может быть использован при ультразвуковом контроле качества материалов. Известно устройство, основанное на реализации ттьезоэлектрического эффекта . Недостатком этиго устройства является невысокая мощность возбуждаемых ультразвуковых колебаний СУЗК). Наиболее близким по технической сущности к изобретению является дефе тоскоп, содержащий моноимпульсш 1й лазер, расположенные по оси его излучения устройство локализации зоны ультразвуковых колебаний (УЗК), последовательно связанный с ним поглощающий элемент, располагаемые в процессе измерения с одной стороны конт ролируемого изделия, и приемник УЗК, располагаемьй с противоположной стороны 2. Недостатком этого дефектоскопа яв ляется низкая точность измерений, связанная с тем, что длина волны генерируемых колебаний плавно не ме- няется. Целью изобретения является повышение точности измерений. Эта цель достигается тем, что дефектоскоп снабжен устройством перестройки ДЛИМ) волш УЗК, расположени 1м за поглощающим элементом оси моноимпульсного лазера и выполненшлм в виде двух металлических плоскопараллельных пластии, установленных соосно, на расстоянии одна от другой, меньшем длины волны УЗК, с возможностыо изменения этого расстояния, а пространство между ними заполнено жидкостью. На чертеже изображена блок-схема дефектоскопа. Дефектоскоп содержит моноимпульсш 1й лазер 1, устройство 2 локализации зоны УЗК, поглощающий элемент 3, устройство 4 перестройки длины волны УЗК и приемник 5 УЗК. Дефектоскоп работает следующим образом. Излучение лазера 1, проходя через устройство 2 локализации зоны УЗК, поглощается элементом 3, где возникает зона повышенного давления, которая со скоростью УЗК распространяется по направлению к устройству 4 перестройки длины волны УЗК. Устройство 4 представляет собой две плоскопараллельные пластинки, выполненные из материала с большим показателем преломления для ультразвуковых волн. Расстояние между пластинками выбирается несколько меньше длины волны . УЗК, возникающей в поглощающей среде а пространство между пластинками заполняется жидкостью, хорошо проводящей УЗК. УЗК, возникающие в поглощающем эл менте 3, попадают в устройство 4. Та как коэффициент отражения для ультра звуковых волн достаточно высок, то УЗК частично отражаются от пластин устройства перестройки длины волны УЗК и остаются внутри него, а частично проходят в исследуемый образец 6. При достаточно высоком коэффициенте отражения УЗК от пластин устрой ства 4 и при базе устройства 4 меньш длины волта УЗК, ультразвуковая волн попадающая в исследуемый обдазец 6 в результате многократных отражений, увеличивает свою длину. Прощедшие 4.4 ерез образец УЗК регистрируются приемником 5. Формула изобретения Дефектоскоп, содержащий моноимпульсный лазер, расположенные по оси его излучения устройство локализации зоны ультразвуковых колебаний ), последовательно связанный с ним поглощающий элемент, располагаемые в процессе измерения с одной стороны контролируемого изделия, и приемник УЗК, располагаемый с противоположной сто- . роны, отличающийся тем, что, с целью повьш1ения точности измерений, он снабжен устройством перестройки длины волны УЗК, расположенным за поглощающим элементом оси излучения моноимпульсного лазера и выполненным в виде двух металлических плоскопараллельных пластин, установленных соосно, на расстоянии одна от другой, меньшем волны УЗК, с возможностью изменения этого расстояния, а пространство между ними заполнено жидкостью. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Выборнов Б. И. Ультразвуковая дефектоскопия. М., Металлургия, 1974, с. 128. 2.R.f. Von. Gutfeld Appi Phus Lett, 1977, 30, N 6, c. 257-259 (прототип) .