Изобретение относится к области электронной техники, а именно к датчикам магнитного поля, и может быть использг зано при создании магчиторезисторрв (МР).
Известен магнитореэистор, содержащий резистивный элемент, выполненный в виде диска Корбино.
В такой структуре за счет конфигурации исключаетсяЭДС Холла, однако
Ч- - . достигаемое при атом увеличение
чувствительности к магнитному полю недостаточно, так как с изменением магнитного поля проводимость изменяется только за счет изменения дрейфовой скорости свободных носителей заряда (СНЗ).
Наиболее близким по технической сущности к устройству по изобретению является магниторезистор, содержащий пластину из примесного полупроводника с двумя омическими контактами, ширина которой превышает расстояние между омическими контактами. .
Однако такой магниторезистор обладает также недостаточной чувствительностью.
Целью изобретения является увеличение магниточувствительности.
Поставленная цель достигается тем, что в .известном магниторезисторе, содержащем пластину из примесного полупроводника с омическими контактами, ширина которой превышает расстояние между омическими контактами, расстояние между омическими контактами соизмеримо с одной из характерных длин свободных носителей заряда примесного полупроводника.
Расстояние между омическими контактами может быть соизмеримым с минимальной характерной длиной свободных носителей заряда примесного полупроводника.
На фиг. 1 и 2 даны варианты устройства по изобретению: пластина примесного полупроводника 1, омические контакты 2, 3.
Движение свободных носителей заряда в примесных полупроводниках можно характериз(ррать набором характерных длин (.Ь.) по импульсу, по энергии, по долинам и по спину, которые могут проходить свободные носители заряда в данном примесном полупроводнике без изменения своего характерного параметра (импульса, энер гии, индекса долины, спина) - радиуса г в плоскости, перпендикулярной вектору В магнитной индукции:
Vm
Р 131
Кроме того, такой рассеянный СНЗ будет дрейфовать в направлении внешнего электрического поля Е .
Каждый СНЗ имеет свой набор характеристических параметров (ХП), который определяет скорость V и эффективную массу m СНЗ. При рассеянии СНЗ хотя бы по одному из своих ХП изменяются V и/или m и, следовательно, радиус окружности г, по которой движется СНЗ в однородном магнитном поле 8, перпендикулярном к направлению V . В таком поле СНЗ с абсолютной
величиной заряда (о) под действием силы Лоренца движется по окружности постоянного радиуса.
Если расстояние L между омическими контактами выполнено сравнимым с одной из характерных длин L . свободных носителей заряда в примесном полупроводнике, то в таком магниторезисторе при В 0 электроны проходят расстояние L без рассеяния, магниторезистор имеет минимальное сопротивление. Изменение магнитного поля изменяет концентрацию электронов проводимости и, следовательно, сопротивления.
При малых В только электроны
с малыми V m возвращаются в контакт 2,; остальные электроны рассеиваются и дрейфуют к контакту 3 - сопротивление МР увеличивается. При дальнейшем увеличении В все большая часть электронов возвращается в контакт 2 и все меньшая часть дрейфует к контакту 3, причем дрейфовая скорость уменьшается. Это приводит к дальнейшему увеличению сопротивления МР и т.д. Так как увеличение сопротивления R (в) связано с уменьшением концентрации и одновременно с уменьшением дрейфовой скорости электронов
то оно будет больше, чем в случае, когда сопротивление определяется только подвижностью свободных носителей заряда, как это имеет место в известных устройствах. Это увеличивает рсзистивное отношение В/ В R(B)/R/0/, где - сопротивление МР при В и, следовательно, чувствительность магниторезистора.
На увеличение резистивного отношения влияет также уменьшение величины R/0/, так как при 8 0 электроны проходят расстояние L без рассеивания
Наибольшая чувствительность магниторезистора к магнитному полю достигается при вьтолнении расстояния L меяаду омическими контактами сравнимым с длиной свободного пробега СНЗ по импульсу, т.е. с наименьшей из характерных длин СНЗ примесного полупроводника. В этом случае СНЗ двигаясь в магнитном поле от контакта 2 к контакту 3, не будут рассеивать ни один из своих характерных параметров, т.е. число балластных СНЗ, дрейфующих от контакта к контакту, будет сведено до минимума. Практически все СНЗ будут управляться магнитным полем и чувствительность достигает наибольшего
данного примесного позначения для лупроводника
Магниторезистор по изобретению может быть эффективно использован при исследовании топографии магнитных полей в малых объемах для бесконтактного измерения токов в дефектоскопии, технике сверхпроводящих машин, для относительной ориентации предметов в пространстве. Наиболее эффективным будет его использование в вычислительной технике для считывания информации с запоминающих устройств на магнитных доменах. Благодаря высокой чувствительности замена им известных датчиков магнитного поля позволит упростить вторичную измерительную аппаратуру, повысить надежность устройств., сократить расход энергии на- измерение магнитного поля.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ определения подвижности неосновных носителей заряда (его варианты) | 1983 |
|
SU1160484A1 |
ПОЛУПРОВОДНИКОВЫЙ ДЕТЕКТОР С ВНУТРЕННИМ УСИЛЕНИЕМ НА ОСНОВЕ ПОЛУИЗОЛИРУЮЩЕГО АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 2015 |
|
RU2586081C1 |
Датчик магнитного поля | 1977 |
|
SU680567A1 |
Дефлектор ИК-излучения | 1983 |
|
SU1165163A1 |
ДЕТЕКТОР РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ | 1987 |
|
SU1466485A3 |
ОБЪЁМНОЕ ПОЛУПРОВОДНИКОВОЕ УСТРОЙСТВО С УПРАВЛЯЕМЫМ ПАДАЮЩИМ УЧАСТКОМ ИНДУЦИРОВАННОЙ ВОЛЬТАМПЕРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ | 2022 |
|
RU2792816C1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ | 1993 |
|
RU2079853C1 |
СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ И ИЗМЕРЕНИЯ ПОТОКА ИК ИЗЛУЧЕНИЯ | 1996 |
|
RU2113745C1 |
ДЕТЕКТОР ИМПУЛЬСНОГО ИОНИЗИРУЮЩЕГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 1991 |
|
SU1814399A1 |
Термометр сопротивления | 1982 |
|
SU1118872A1 |
1. МАГНИТОРЕЗИСТОР, содержащий пластину из примесного полупроводника с омическими контактами, ширина которой превышает расстояние между омическими контактами, отличающийся тем, что, с целью увеличения чувствительности, расстояние между омическими контактами соизмеримо с одной из характерных длин свободных носителей заряда примесного полупроводника. 2. Магниторезистор по п. 1, о тличающийся тем, что расстояние между омическими контактами соизмеримо с минимальной характерной длиной свободных носителей заря(Л да примесного полупроводника.
Фиг 2
Викулин И..М | |||
и др | |||
Полупроводниковые датчики, М., Сов | |||
радио, 1975, с | |||
Приспособление в центрифугах для регулирования количества жидкости или газа, оставляемых в обрабатываемом в формах материале, в особенности при пробеливании рафинада | 0 |
|
SU74A1 |
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Викулин И.М | |||
и др | |||
Полупроводниковые датчики, М., Сов | |||
радио, 1975, с | |||
Приспособление в центрифугах для регулирования количества жидкости или газа, оставляемых в обрабатываемом в формах материале, в особенности при пробеливании рафинада | 0 |
|
SU74A1 |
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды | 1921 |
|
SU4A1 |
Зб. |
Авторы
Даты
1986-02-23—Публикация
1979-12-10—Подача