Способ спектрального анализа металлографических и минералогических шлифов Советский патент 1950 года по МПК G01J3/28 

Известные способы спектрального анализа металлографкческпх и иинералогпческих шлпфов не обеспечЕвают возиожностп определения хнмнческого состава отдельных крнсталлическпх фаз шлифа.

Описываемы способ спектрального анализа отличается от известных тем, что изучаемая искра создается под зеркальным объсктилим, обеснечивающнм большое расстояние между поверхностью шлифа и первой оптической поверхностью, вследствие чего имеется возможность определять химический состав отдельных крпсталлпческнх фаз в металлографических и минералогических шлифах.

На чертел-се изображена оптнческая схема лрибора, обеспечивающая осуществление способа снектрального анализа металлографических и минералогических шлкфии.

С целью анализа отдельных кристаллических фаз иглифа искрово разряд осуществляется между электродом (1) и изучаемым местом шлифа (2). Искра, получаемая при разряде, проектируется через 1гикроскои с зеркальиым микроэбъектлвом (3) на щель спектрографа (4). Для визуального иаблюдения новерхности иыифа и правильной установки электрода над изучаемым местом шлифа последний освеИ1;ается с помощью лампы (5) через систему: конденсор (6), откидная призма (7), микрообъектив (8), отражательное

зеркало (9) и зеркальный микрооб.ектив (о). Наблюдение иоверхности ведется в лучах, отрал;еипых от iiLTHclia, через зеркальный микрообъектив (8), отра:-кательное зеркало (9) и окуляр (10).

Зеркало (9) покрыто алюминием так, чтобы иучок иадающих на него лучей частично 11)оходил в окулярную часть микроскопа. Окуляр (10) с 1абжен нерекрестнем, с помощью которого в процессе работы осуществляется совмещение того места шлифа, которое нодлеяогг снектральиому анализу. Изображение иерекрестия окуляра через зеркальный мнкрообъектив (3) совпадает с нзобрал;ением (ентра щели спект1)ографа иосле микрообъектива (8), от;)а;:;ательного зеркала (9) и микрообъектива (3). Совмещение излучаемого места шлифа с цеитром иерекрестпя обеспечивает и еовпаденпе его изображения со щелью снектрографа.

Для точной установки острия электрода (1) над поверхностью шлифа в конструкции ирибора доляшо быть предусмотрено микрометренное )1еремещение в трех взаимно нериендикул.чрных нанравлениях.

После трубой установки острня, осуществленной прн наблюденни в луну (11), оио может быть наблкххаемо через микроскоп при некоторой фокусировке микроскона, сфокусированного ранее на поверхность шлпфа.

MiiK.poMCTpciiHbDi перомещеинсм конец острия совмещается с перекрестием окуляра и устанавливается на заданное расстояние от новсрхн()сти шлифа.

С целью анализа илиф(1в 3 пеэлектропроводных материалов со:,да.от искру между двумя электродами разрядника, одии из которых сонрикасастся с изучаемым местом иглифа.

П р с д м е т II3 о о р е т е н и я

1. Сиособ снектрального аиалнза металлографических п мииералопдческнх шлифов, О т л и ч а 10 щ и и с я , что, г целью анализа отдельиых кристаллических фаз хнлифа, нскро)ой разряд между электродом н изучаемым местом И1лифа ироектиру от через микроскоп с зеркальным микрообт) на щель спектрографа.

2. Бидоизме}1еине способа спектрального анализа по л. 1, о т л и ч а. ю щ е е с я тем, что, с целью анализа И1Л111|;о; лз неэлсктронроводных материалов, созда i Ci;py мслхду двумя электродами разрядjuu;a, одии из которых сонрикаса.ется с ;:зучаемьи местом 1илифа,

га

VVu..i/7 I

7777y7777Z777