Известны двойные микроскопы с поляризационной оптикой, предназначенные для изучения прозрачных шлифов в проходящем свете и непрозрачных (аншлифов) в отраженном свете.
Недостатками известных двойных микроскопов являются ограниченные возможности изучения оптических свойств микрозерен по методу Друде, выявления микропрофиля зерен, определения отражательной способности поверхностей их, измерения толщины пленок интерференционным и др. методами.
В предлагаемом двойном микроскопе эти недостатки в значительной мере устраняются тем, что изучение зерен минералов и технических материалов в шлиф|ах и аншлифах проводится при больших углах падения лучей На изучаемую пове рхность и тем, что в нем применена дополнительная диафрагма со щелью и цилиндрическая линза (в сочетании с поляризацирнной оптикой). Это и позволяет измерять оптические константы микрозерен по методу Друде или путем сравнения яркостей бликов, отрал :енных от границ шлиф-иммерсия, иммерсия-воздух, изучать микропрофиль зерен, наблюдая полосы равного наклона в тонкой пленке иммерсионной жидкости, нанесенной на исследуемую поверхность, измерять толщину окисных и солевых пленок интерференционным способом (для толщин пленок до 4 мк) и по оценке расстояний между изображениями щели (для толщин более 4 мк). Все это позволяет получать результаты оптических исследований, трудно достижимые другими известными методами и приборами.
На фиг, 1 изображена оптическая схема двойного мик1роскопа; на фиг. 2 - вид поля зрения микроскопа при введении цилиндрической линзы.
Яркий источник света 1 (ртутная лампа) посылает лучи через коллектор 2, светофильтр 5 и поляроид 4 и освещает горизонтальную щель 5. Изображение щели 5 через коллиматорный объектив 6 и микрообъектив 7 проектируется на поверхность изучаемого образца 8. Щель 9 шириной 1 мм, установленная в передней фокальной плоскости микрообъек
