Накладной емкостный датчик для контроля толщины полимерных пленок Советский патент 1982 года по МПК G01B7/06 

Описание патента на изобретение SU953445A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля толщины полимерных пленок в процессе их производств Известен накладной измерительный конденсатор, состоящий из диэлекпрической подложки с закрепленными в одной плоскости электродами. Низко потенциальный электрод этого конденсатора выполнен в виде замкнутого контура, окружающего высокопотенциальный электрод 1. Недостатком этого датчика являются существенные погрешности измерения, обусловленные температурными изменениями геометрических размеров и диэлектрических свойств подложки. Наиболее близким техническим решением к изобретению является накг падной емкостной датчик для контроля толщины полимерных пленок, содержащий измерительный и эталонный конденсаторы и диэлектрическую прокладку, на противоположных рабочих повер хностях которой нанесены электроды этих конденсаторов. Рабочие поверхности прокладки и электродов датчи- , ка выполнены плоскими. Большая степень пространственной и конструктивной идентичности измерительного и эталонного конденсаторов датчика позволяет существенно уменьшить погрешности измерения, связанные с дрейфом геометрических размеров электродов и диэлектрических свойств подложки при изменении температурыС21. Недостатками известного датчика являются зависимость погрешности измерения от степени прижатия контролируемой пленки к рабочей поверхности датчика и погрешность измерения, обусловленная внешним воздействием на рабочую поверхность датчика (засорение межэлектродной поверхности, коррозия электродов, возможность короткого замыкания электродов и т.д.). 39 Цель изобретения - повышение точ ности .измерения. Поставленная цель достигается тем, что р, накладном емкостном датчике, содержащем измерительный и эталонный конденсаторы и диэлектрическую прокладку, на противоположных рабочих поверхностях которой нанесены электроды этих конденсаторов, рабочие поверхности диэлектрической прокладки и электродов покрыты стойким к истиранию диэлектрическим слоем и выполнены выпуклыми с радиусом кривизны, выбранным из соотношения --sQ , d где R - радиус кривизны рабочих поверхностей;d - диаметр окружности конденсатора;а const; а 3-5 для полимерных нок, жесткость рых находится в предел 5-10 -1,2«103 им; а 5-7 для полимернь1х пленок, жесткость которых боль 1,2-103 нм; Кроме Toho, диэлектрический слой может быть выполнен из плавленного кварца. На фиг, 1 изображен накладной емкостной датчик для контроля толщи ны полимерных пленок, фронтальный разрез; на фиг. 2 - датчик со сторо рабочей поверхности. Накладной емкостной датчик состоит из измерительного конденсатора 1 и эталонного конденсатора 2, имею щих низкопотенциальные электроды 3 и 4 и высокопотенциальные электроды 5 и 6. Конденсаторы размещены с раз ных сторон диэлектрической прокладки 7 выполненной из материала с большим коэффициентом теплопровоД.ности. Поверхность датчика защищена диэлектрическим слоем 8, стойким к истиранию. Рабочие поверхности диэлектричес кой прокладки, следовательно и элек тродов конденсаторов 1 и 2, нанесенных, например напылением на противоположных рабочих поверхностя прокладки, выполнены выпуклыми (сфе рическими или цилиндрическими) с од наковым. радиусом кривизны. Низко- и высокопотенциальные электроды конденсаторов 1 и 2 с целью исключения влияни я на результат измерения анизотропных свойств контролируемой пленки могут быть выполнены в виде концентрических компланарных колец (фиг. 2). Количество электродов, геометрические размеры и расстояние между ними определяются предполагаемой толщиной контролируемой пленки. Радиус кривизны рабочей поверхности емкостного датчика выбирается в соответствии с прочностными характеристиками контролируемого материала, а также с учетом геометрических размеров конденсаторов. С достаточной степенью достоверности он может быть определен из соотноRгде R - радиус криГ «визны рабочих поверхностей; d - диаметр-окружности конденсатора;, а const; а 3-5 для полимерных пленок, жесткость которых находится в пределах 5-103-1 ,2-103 нм; а 5-7 для полимерных пленок, жесткость которых больше 1 ,240- нм. Выполнение рабочих поверхностей датчика выпуклыми исключает появление воздушного зазора между ним и контролируемой полимерной пленкой при изменении силы прижатия между ними. Благодаря покрытию электродов 3-6 и межэлектродных промежутков стойким к истиранию диэлектрическим слоем 8 (например кварцем) предотвращается засорение датчика и коррозия электродов, а также исключается возможность короткого замыкания электродов датчика. Толщина защитного диэлектрического слоя 8 может быть различной (от 1 мкм до 1000 мкм) и определяется твёрдостью, электропроводностью и толщиной контролируемой пленки, а также степенью выпучивания электрического поля (краевого эффекта) между электродами датчика. Накладной емкостной датчик работает следующим образом. Полимерная пленка, толщина которой контролируется в процессе изготовления, накладывается на рабочую поверхность измерительного конденсатора 1. При ее перемещении изменяется суммарная емкость конденсатора 5 1, пропорциональная усредненному по площади касания значению толщины пленки. Так как емкость эталонного конденсатора 2, идентичного измерительному конденсатору 1, при этом остается неизменной, то сравнение значений емкостей конденсаторов 1 и 2позволяет исключить влияние на результаты измерения дестабилизирую щих факторов, таких, как температуpa и влажность окружающей среды, существенно влияющих на геометричес кие размеры электродов и диэлек трические свойства подложки Выполнение рабочих поверхностей конденсаторов выпуклыми обеспечивает прилегание полимерной пленки по всей контролируемой поверхности без зазора, что обуславливает высокую точность измерения ее толщины, а на несение на рабочую поверхность стой кого к истиранию диэлектрического слоя , например слоя плавленного ква ца, обеспечивает отсутствие микрочастиц материала контролируемой пленки и пыли в межэлектродном пространстве, препятствует прохождению сквозного тока проводимости между электродами, исключает возмож ность замыкания электродов датчика, а также предотвращает их коррозию, что также повышает точность измерения. Формула изобретения Накладной емкостной датчик для контроля толщины полимерных .пленок, содержащий измерительный и эталонныи конденсаторы и диэлектрическую прокладку, на противоположных рабочих поверхностях которой нанесены электроды этих конденсаторов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, рабочие поверхности диэлектрической прокладки и электродов покрыты стойким к истиранию диэлектрическим слоем и выполнены выпуклыми с радиусом кри- г - R вйзны, выбранным из соотношения--sd, - id . где R - радиус кривизны рабочих пСР верхностей; d - диаметр окружности конденсатора;а const; для полимерных пленок, жесткость которых находится в пределах (,240 нм; а для полимерных пленок, жесткость которых больше 1,2 10 нм. 2. Датчик по п. 1,отличающий с я тем, что диэлектрический слой выполнен из плавленного кварца. Источники информации, принятые во внимание при эксперт;изе 1.Авторское свидетельство СССР № , кл. G 01 В 7/06, 1968. 2.Скрипник Ю.А. Свиридов Н.М. р Бурмистенков-.t.A.n. и Свиридов A.M. Измерение толщины диэлектрических материалов. Известия.вузов, Технология легкой промышленности, 1980 № 5, с. 106-109 (прототип).

Похожие патенты SU953445A1

название год авторы номер документа
Накладной емкостный датчик для контроля толщины полимерных пленок 1983
  • Свиридов Николай Михайлович
SU1089398A2
Накладной емкостный датчик 1984
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Бурмистенков Александр Петрович
  • Марченко Валерий Тихонович
  • Ткачук Николай Васильевич
SU1226025A1
Измеритель толщины полимерных пленок 1981
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Свиридов Анатолий Михайлович
  • Ефремов Виктор Александрович
  • Ильенко Анатолий Николаевич
SU966488A1
Измеритель толщины полимерных пленок 1982
  • Свиридов Николай Михайлович
SU1158857A1
Измеритель толщины полимерных пленок 1983
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Свиридов Николай Михайлович
SU1124178A1
Измеритель толщины диэлектрических материалов 1982
  • Свиридов Анатолий Михайлович
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Коломиец Николай Федорович
SU1017907A1
Емкостный датчик влажности газовых сред 1983
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Ефремов Виктор Александрович
SU1133533A1
Измеритель толщины полимерных пленок 1980
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Свиридов Николай Михайлович
SU892201A1
Устройство для измерения диэлектрическихпАРАМЕТРОВ МАТЕРиАлОВ 1979
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Свиридов Анатолий Михайлович
  • Бурмистенков Александр Петрович
SU851285A1
Устройство для контроля качества дисперсных материалов 1986
  • Свиридов Николай Михайлович
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Ефремов Виктор Александрович
  • Гладкий Виктор Николаевич
  • Мандебура Андрей Иванович
  • Любимова Светлана Юрьевна
SU1318897A1

Иллюстрации к изобретению SU 953 445 A1

Реферат патента 1982 года Накладной емкостный датчик для контроля толщины полимерных пленок

Формула изобретения SU 953 445 A1

SU 953 445 A1

Авторы

Скрипник Юрий Алексеевич

Свиридов Николай Михайлович

Иванов Борис Александрович

Свиридов Анатолий Михайлович

Даты

1982-08-23Публикация

1980-10-10Подача