Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при автоматизации производственных процессов, например сварки, с использованием промышленньос роботов. Известно устройство для контроля кри визны поверхности предметов, содержащее лазерный излучатель и телевизионную камеру l . Недостатками этого устройства явля- ется невозможность контролирования внут ренней структуры объекта контроля и наличие оптических помех. Наиболее близким техническим решением к изобретению является устройство для контроля кривизны поверхности, содержащее коллимированные источник и детектор гамма-излучения, располагаемые по одну сторону от объекта контроля и последовательно соединенные интенсиметр, подключенный к выходу детектора излучения, и индикатор 2 Недостатком этого устройства является то, что оно не может одновременно измерять также и внутреннюю структуру и качество сварного соединения. Цель изобретения - возможность измерения также и качества шва сварного соединения. Поставленная цель достигается тем, что устройство, содержащее коллимиро- ванные источник и детектор гамма-излучения, располагаемые по одну сторону от объекта контроля, и последовательно соединенные HHteHCHMeTp, подключенный к выходу детектора излучени% и индикатор, снабжено последовательно соединенными вторыми детектором излучения и интенсиметром, схемой измерения отношения и кареткой с приводом, на каретке установлены источник гамма-излучения и де-г текторы излучения, размещенные один над другим на фиксированном расстоянии один отдругого, входы схемы измерения отношений подключены к выходам каждого to интенсиметров, второй вход индикат тора подключен к выходу схемы измерения- отношения, второй выход которой сое3динен с приводом, а второй вход привода и1 одиазначен для аодвчи на него напря iieiiHH уставки. На чертеже представлена блок-схема щ едлагаемого устройства. Устройство содержит источник 1 гамма-излучения, детекторы 2 и 3 гаммаизлучения, два интенсиметра 4 и 5, схему G, измерения отношения, привод 7, подвижную каретку 8, индикатор 9. Источник 1 гамма-излучения и детекторы 2 и 3 гамма-излучения установлены на подвижной каретке 8, причем детектор 3 гамма-излучения разнесен по высоте относительно детектора 2 на величину Л R где 1 - расстояние от каретки 8 до поверхности объекта контроля. Вьисоды интенсйметров 4 и 5 подсоединены ко входам схемы 6 измерения отношения, выход которой соединен с приводом 7 каретки.. Устройство работает следующим образом. Источник 1 гамма-излучения излучае узкий коллимированный пучок гаммаквантов в направлении контролируемого сварного шва на поверхности предмета. Отразившиеся от объекта контроля гамм кванты регистрируются дбтектором 2 излучения и детектором 3 излучения, KOTOpbie преобразовывают гамма-кванты в электрические импульсы. Импульсы по даются на интенсиметры 4 и 5. Известно, что интенсивность гамма-квантов, зарегистрированных детектором излучения на некотором расстоянии относитель но объекта контроля, изменяется в обще виде по закону , .U Де 3, интенсивность гамма-квантов излученных источником 1; интенсивность гамма-квантов зарегистрированных детектором 2 излучения; альбедо отражающей поверхности предмета; расстояние передатчика и де- текторв излучения относитель но предмета. Так как детектор 3 излучения разнесен (носительно детектора 2 излучения по высотена величину Л R, то интенсив ность гамма-квантов, зарегистрированных этим детектором дет.г R2( S6 где интенсивнсють гамма-кванТОЙ, зарегистрированных детектором 3 излучения. В (l) и (2) коэффициент АЕ зависит от плотности поверхности предмета, равномерность которой по всему сварному шву определяется качеством процесса сварки. Например, при наличии в сварном шве пустот и раковин по показанию детектора 2 излучения можно судить о внутренней структуре шва. Однако эти показания достоверны только в том случае, если расстояние детектора 2 излучения относительно поверхности объекта контроля будет постоянным. В реальных условиях кривизна поверхности предмета может изменяться. Для поддержания неизменным расстояния и служит детектор 3 излучения, схема 6 измерения отношения, привод 7 и подвижная каретка 8. Из (1) и (2) следует, что если взять, отношение двух сигналов, снимаемых с детекторов 2 и 3 излучения, то на выходе схемы 6 измерения отношения получим(R + AR) т.е. сигнал на ее выходе не зависит от коэффициента А и несет информацию о профиле поверхности; предмета, В данном устройстве фиксированное значение устанавливается при подаче на привод 7 напряжения уставки (J|-,(, . На второй вход привода 7 со схемы 6 измерения отноше- 1ШЯ подается сигнал U , несуший инфор мацию об истинном расстоянии. При наличии рассогласования между (. оп 1ФИВОД 7 отрабатывает это рассогласование, приводя в движение каретку 8 по высоте R, до тех пор пока Уцрт Upri , При наличии равенства этих напряжений с детектора 2 излучения снимаются показания о качестве сварного шва, которые подаются на индикатор 9. Информация о кривизне поверхности предмета подается на индикатор 9 с выхода схем,: 6 измерения отношения. Фо. рмула изобретения Устройство для контроля кривизны прверхности, содержащее коллимирован- ные источник и детектор гамма-излучения, располагаемые по одну сторону от объекта контроля, и последовательно соединенные интенсиметр, подключенный к выходу детектора излучения, и индикатор, отличающееся тем, что, с целью измерения также и качества шва сварного соединения, оно снабжено после довательно соединенными вторыми детектором излучения и интенсиметром, схемой измерения отношения и кареткой с приводом, на каретке установлены источник гамма-излечения и детекторы излучения, размешенные один над другим на фиксированном расстоянии один от другого, входы схекы измерения отношений подключены к выходам каждого из интенсиметров, второй вход индикатора 696 подключен к выходу схемы измерения отношения, второй выход которой соединен с приводом, а второй вход привода гфедназначен для подачи на него нагфяжения уставки.. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1.Катыс Г. П. Визуальная информация и зрение роботов. М., -Энергия,, 1979, 2.Рудаковский А. А., Крез Д. П. Радиоизотопные методы контроля и измерения уровней. М., Атомиздат, 1967, с. 99 (прототип).
Авторы
Даты
1982-08-23—Публикация
1980-06-19—Подача