Фотоэлектрическое устройство для измерения линейных размеров Советский патент 1982 года по МПК G01B11/00 

Описание патента на изобретение SU968604A2

способностью монохроматического источника 1, а также информационный фотоприемник 12 и электронный блок 13 обработки сигналов. Устройство работает следующим образом. Монохроматический световой пучок от источника 1 с помощью кондёнсора 2 фокусируется на сканатрре 3, который под действием привода 4 совершает гармонические колебания. В результате этого световой поток совершает в пространстве плоские угловые 1к6лебанйя. Прошедший через . объектив 6 сканирующий световой поток совершает аналогичные плоские угловые колебания относительно трчки пер1есечения оптически сопряженной плоскости с оптической осью объектива 6. Поверхность измеряемого объекта 14 расположена в указанной сопряженной плоскости, и отраженный от ее поверхности световой поток собирается объективом 6 в плоскости анализа, где расположен сканатор 3. Когда поверхность измеряемого объекта точно расположена в плоскости, оптически сопряженной через объектив 6 с плоскостью анализа,, световое пятно на поверхности измеряемого объекта 14 сфокусировано и неподвижно, а отраженный световой поток полностью размещается на сксхнаторе 3 и не проходит на фотоприемник 12, установленный за ним.Ког да же поверхность измеряемого объекта выходит из сопряженной плоскости,то отраженный световой поток приходит ;в.., плоскость анализа расфокусированНБ1М и подвижным, его размеры превышают размеры сканатора 3 и на фотоприемник 12 попадает световой поток, промодулированный по амплитуде, вызывая тем самым переменный фотй-- -, электрический сигнал, несущий информацию об изменении линейных размером который затем подается в электронный блок 13 обработки сигналов. Отраженный световой пучокот сканатора 3,, вследствие его колебаний, сканирует по углу, что приводит к во возвратно-постуиательному перемеще-; нию проекции следа пятна на поверхности объектива б. Параметры сканиро вания выбраны так, что угловая ампли туда отклонения пучка сойпалает с апертурным углом объектива 6. Степен диафрагмирования света полосой зависит от мгновенного углового положени пучка в пространстве, при этом центр сканирования пучка совпадает с центро пйлосы 7. В результате плоских угловых колебаний световой поток дополни тельно модулируется в пространстве с помощью непрозрачной полосы 7, нанесенной на поверхность объектива.6 с частотой , равной-удвоеннойчастоте колебаний сканатора 3. Часть светового потока, отраженно- го от измеряемого объекта 14, попадает на фотоприемник 8, с которого фототок поступает на вход узкополосного усилителя 9, настроенного на частоту второй гармоники фотоэлектрического сигнала, а далеесигнал снимается со входа усилителя 9, детектируется амплитудным детектором 10 и поступает на вход блока 11 управления излучательной способности источника 1 монохроматического излучения. При изменении величины отраженного светового потока изменяется значение амплитуды второй гармоники фотоэлектрического сигнала, в блоке регулировки излучательной способности источника излучения вырабатывается сигнал, регулирующий излучательную способ.ность источника света таким образом, что при уменьшении светового потока на фотоприемнике излучательная способность источника света увеличивается и наоборот. Положительный эффект состоит в получении стабильного уровня интенсивности излучения на срезе сканатора в обратном ходе, что повышает . точность измерения. Формула изобретения Фотоэлектрическое устройство для измерения линейных размеров по авт.. св. № 665204, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, сцелью повышения точности измерения, оно снабжено дополнительным фртоприёмником, располагаемым в обратном ходе световых лучей от измеряемого объекта, и электрически связанными узкополосным усилителем фотоэлектрического сигнала, амплитудным детектором и блоком управления излучения источника. света, образующими канал обратной связи источника свет, а на одной из поверхностей объектива, симметрично относительно его центра, нанесена непрозрачная полоса, ориентированная параллельно срезу сканатора и имеющая ширину, равную проекции среза мгновенного светового пучка от сканатора на поверхность объектива. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1. Авторское Свидетельство СССР № 665204, кл. 0,01 В 11/00, 1979.

Похожие патенты SU968604A2

название год авторы номер документа
Устройство для контроля отклонений положений объектов от прямолинейности 1977
  • Плотников Василий Сергеевич
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Остапченко Евгений Петрович
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
SU742708A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ РАСПОЛОЖЕНИЯ ОБЪЕКТОВ И ИХ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ФОРМ 2007
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Авхадеев Владимир Гашигуллович
  • Поставнин Борис Николаевич
  • Савостин Петр Иванович
  • Чугреев Игорь Григорьевич
  • Попиченко Владимир Александрович
RU2366895C2
Фотоэлектрическое устройство для измерения геометрических размеров объектов 1978
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Степанян Роман Карапетович
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Крюков Валентин Иванович
  • Арефьев Александр Александрович
SU785644A1
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ АВТОКОЛЛИМАТОР 2006
  • Ефанов Василий Васильевич
  • Мужичек Сергей Михайлович
  • Горшенин Александр Юрьевич
RU2319990C1
Устройство для измерения задней вершинной рефракции очковых линз 1981
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Крылов Анатолий Николаевич
  • Таран Владимир Александрович
  • Колесник Владимир Васильевич
SU972294A1
Лазерный доплеровский измеритель скорости 2019
  • Дубнищев Юрий Николаевич
  • Нечаев Виктор Георгиевич
RU2707957C1
ЛАЗЕРНЫЙ ДОПЛЕРОВСКИЙ ИЗМЕРИТЕЛЬ СКОРОСТИ 2016
  • Дубнищев Юрий Николаевич
  • Шибаев Александр Александрович
RU2638110C1
Фотоэлектрическое устройство для измерения линейных размеров 1976
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Романов Дмитрий Алексеевич
  • Васильев Виктор Дмитриевич
  • Носов Анатолий Викторович
  • Шерешев Александр Борисович
  • Ходос Семен Алексеевич
SU665204A1
Устройство для измерения перемещений 1982
  • Жилкин Александр Михайлович
  • Здобников Александр Евгеньевич
  • Илюхин Валерий Аркадьевич
  • Илюхин Александр Николаевич
  • Тарасов Виктор Васильевич
SU1167423A1
Двухкоординатный фотоэлектрический микроскоп 1980
  • Привер Леонид Симхович
  • Потапов Александр Алексеевич
  • Егорычев Александр Николаевич
SU894353A1

Иллюстрации к изобретению SU 968 604 A2

Реферат патента 1982 года Фотоэлектрическое устройство для измерения линейных размеров

Формула изобретения SU 968 604 A2

SU 968 604 A2

Авторы

Жилкин Александр Михайлович

Здобников Александр Евгеньевич

Крылов Анатолий Николаевич

Даты

1982-10-23Публикация

1980-12-31Подача