СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НАВИВКИ СПИРАЛИ ДЛЯ ТЕЛ НАКАЛА ИСТОЧНИКОВ СВЕТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ Российский патент 1995 года по МПК H01K3/04 

Изобретение относится к электротехнике и может быть использовано в электроламповом производстве для автоматического контроля спиральных тел накала источников света.

Цель изобретения повышение достоверности и информативности контроля.

На фиг.1 представлена принципиальная схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 силуэт спирали при ширине щели h t и h 2t; на фиг.3 то же, при ширине щели h<t и t<h<2t.

Контроль навивки спирали осуществляется следующим образом.

В световом потоке источника 1 света размещают витки 2 спирали, навитые на керне 3, например, из вольфрамовой проволоки. В качестве базы измерения используют источник спирали, величину которого выбирают из соотношения
nt<l<(n+1)t, где l контролируемый участок спирали;
t шаг спирали;
n ноль и целые числа (0,1,2,3.).

Прошедший мимо спирали световой поток преобразуют в электрические сигналы. При этом о качестве навивки судят по постоянству параметров электрических сигналов.

Устройство содержит последовательно расположенные на одной оптической оси источник 1 света, конденсорную и проекционную линзы 4 и 5, экран 6 с щелью 7 и фотоприемник 8, который электрически соединен с анализатором 9 параметров импульсов. Имеется механизм перемещения спирали (не показан).

Световой поток источника 1 света проецируется при помощи системы линз 4 и 5 на экран 6 и, пройдя через щель 7 в экране, попадает на фотоприемник 8. Витки и расположенный внутри спирали керн 5 экранируют световой поток. В результате этого в нем появляется информация о профиле спирали, образуя изображение верхнего и нижнего силуэтов а и b витков на экране 6.

Световые лучи, оставшиеся внизу и вверху силуэта, попадают на фотоприемник 8, который вырабатывает электрический сигнал, свидетельствующий о наличии витков 2 и керна 3. Анализатор 9 параметров импульсов формирует код, содержащий информацию о поступившем сигнале, для последующей обработки его в процессоре и для управления технологическим процессом изготовления спиралей, а в полуавтоматических системах и для индикации.

Подбор базы измерения, который связан с необходимостью получения при перемещении спирали с постоянной скоростью изменения светового потока на выходе фотоприемника 8, осуществляется с помощью изменения ширины h щели 7 в экране 6.

При h t (фиг. 2) изменения в световом потоке как в верхнем, так и в нижнем силуэтах а и b отсутствуют. Выхождение витка или межвиткового промежутка из-за зоны контроля будет сопровождаться синхронным вхождением в эту зону ближайшего или последующего витка или межвиткового промежутка в зависимости от ширины h nt щели 7.

Контроль участка спирали, величина которого не кратна шагу спирали (фиг. 3), т.е. nt<h<(n+1)t, нарушает эту синхронность, вызывая изменения в световом потоке и, как отклик на это изменение, электрический сигнал в виде импульса на выходе фотоприемника 8.

Полученные таким образом изменения светового потока на выходе фотоприемника 8 вызовут в его цепи изменения электрического тока в виде последовательности импульсов. Так как эти импульсы однозначно связаны с профилем спирали и являются измерительными, то по ним вычисляют с помощью анализатора 9 параметры спирали. Постоянство этих параметров свидетельствует о качестве навивки.

В предлагаемом способе контроля качества спиралей и устройстве для его осуществления по сравнению с известными расширена информация о геометрии спирали. В результате значительно повышается достоверность контроля при навивке, появляется возможность использования на других операциях по изготовлению тел накала, позволяет автоматизировать процесс контроля, повысить его производительность и осуществить оперативную коррекцию параметров технологического режима навивки.

Использование: электровакуумное производство при автоматическом контроле спиральных тел накала для источников света. Сущность изобретения: между конденсорной и проекционной линзами протягивают контролируемую спираль. Изображение спирали проецируется на экран с щелью и далее на фотоприемник, электрически связанный с анализатором импульсов. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.

1. Способ контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, согласно которому проецируют контролируемый участок спирали на фотоэлемент, мимо которого она перемещается а о качестве судят по сигналу с фотоприемника, отличающийся тем, что, с целью повышения достоверности и информативности, величину контролируемого участка выбирают из соотношения
nt < l < (n + 1)t,
где l контролируемый участок спирали;
t шаг спирали;
n ноль и целые числа. 2. Устройство для контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, содержащее последовательно расположенные на одной оптической оси источник света, конденсорную и проекционную линзы, между которыми расположена контролируемая спираль, экран со щелью, фотоприемник и механизм перемещения спирали, отличающееся тем, что, с целью повышения достоверности и информативности контроля, в него введен анализатор параметров импульсов, электрически соединенный с фотоприемников, а ширина щели экрана выбрана из соотношения
nt < h < (n + 1)t,
где h щель экрана;
t шаг спирали;
n ноль и целые числа.