СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НАВИВКИ СПИРАЛИ ДЛЯ ТЕЛ НАКАЛА ИСТОЧНИКОВ СВЕТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НАВИВКИ СПИРАЛИ ДЛЯ ТЕЛ НАКАЛА ИСТОЧНИКОВ СВЕТА Российский патент 1997 года по МПК H01K3/04 

Изобретение относится к электротехнике м может быть использовано в электроламповом производстве для автоматического контроля качества спиральных тел накала в процессе их изготовления.

Цель изобретения повышение оперативности и достоверности контроля.

На фиг. 1 представлена структурная схема устройства, реализующего способ; на фиг. 2 схема взаимного расположения измерительных наконечников и витков в зоне контроля спирали с номинальным шагом; на фиг. 3 то же, спирали с дефектами.

Устройство для контроля качества навивки спиралей для тел накала источников света содержит механизм 1 перемещения спирали 2, первый и второй датчики 3 и 4 обнаружения витков, каждый из которых включает в себя измерительный наконечник (щуп, в виде алмазного клина) 5, связанный с блоком 6 измерения амплитуды его колебаний, который выполнен в виде пьезоэлемента. Выходы датчиков 3 и 4 подключены к входам компаратора 7.

Способ контроля качества навивки спиралей, включающий перемещение спирали 2, преобразование ее профиля на первом и втором участках контроля в электрические сигналы, сравнение их между собой по амплитуде и фазе и определение качества навивки по разности между ними.

Устройство для контроля качества навивки спиралей работает следующим образом.

Механизм 1 перемещения спирали обеспечивает прохождение спирали 2 через первый и второй датчики 3 и 4 обнаружения витков со скоростью V. При перемещении спирали положение витков в зоне датчиков 3 и 4 меняется, что приводит к изменению положения измерительных наконечников 5 относительно ее оси (фиг. 2). Таким образом, амплитуда колебаний измерительных наконечников 5 ограничена поверхностью контролируемой спирали и несет информацию о ее профиле.

Блоки измерения амплитуды колебаний, реагируя на это перемещение, вырабатывают электрическое сигналы, которые сравниваются в компараторе 7.

Закон изменения сигналов при изменении геометрических размеров профиля спирали для обоих датчиков 3 и 4 обнаружения витков идентичны и соотношение между этими сигналами не зависят от типа спирали и ее скорости V, поэтому разностный сигнал зависит только от положения витков в зоне датчиков, что позволяет регистрировать изменение расположения витка в зоне контроля.

При наличии дефекта (изменений геометрических параметров), образуемого в процессе навивки, на выходе компаратора 7 получают сигнал и по нему судят о качестве контролируемой спирали.

Изобретение позволяет повысить оперативность и достоверность автоматического контроля качества навивки спирали за счет сравнения электрических сигналов, полученных при контроле профилей на двух участках спирали.

Существо: спираль перемещают и осуществляют преобразование ее профиля на двух участках контроля в электрические сигналы, которые сравнивают между собой по амплитуде и фазе. 2 с.п. ф-лы, 3 ил.

1. Способ контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, включающий перемещение спирали, преобразование ее профиля на первом участке контроля в электрические сигналы, сравнение их с опорными сигналами по амплитуде и фазе и определение качества навивки спирали по разности между указанными сигналами, отличающийся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности контроля, дополнительно осуществляют преобразование профиля спирали в электрические сигналы на втором участке контроля и используют их в качестве опорного сигнала. 2. Устройство для контроля качества навивки спирали для тел накала источников света, содержащее механизм перемещения спирали и первый датчик обнаружения витков, включающий в себя измерительный наконечник, связанный с блоком измерения амплитуды его колебаний, отличающееся тем, что, с целью повышения оперативности и достоверности, оно снабжено вторым датчиком обнаружения витков, также включающим в себя второй измерительный наконечник, связанный с вторым блоком измерения амплитуды его колебаний, а выходы обоих блоков измерения амплитуды колебаний подключены к входам дополнительно введенного компаратора.