РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР Российский патент 1999 года по МПК G01B15/00 G01B15/06 

Описание патента на изобретение RU2129254C1

Изобретение относится к области рентгенографической аппаратуры, к рентгеновским дифрактометрам и может быть использовано при определении напряжений, текстуры и фазового состава конструкции и изделий.

Известен рентгеновский дифрактометр - быстродействующая установка АРД-1 с высоким разрешением для регистрации рентгеновских лучей, состоящая из блока источников питания, рентгеновской трубки, гониометрического устройства, детектора дифрагированного излучения и системы сбора и обработки информации [1].

Наиболее близким к изобретению является рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника излучения и анализатора [2].

Оба известных устройства не обеспечивают возможности проведения измерений параметров материалов узлов и деталей машин при наличии наклоняемого гониометра и неподвижного детектора.

Задачей изобретения является упрощение конструкции рентгеновского дифрактометра, при обеспечении возможности его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала деталей, узлов и конструкций.

Технический результат достигается тем, что в рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника рентгеновского излучения и анализатора, введены, по меньшей мере, один источник рентгеновского излучения и защитная пластина с диафрагмой, причем анализатор выполнен полусферическим, источники рентгеновского излучения совмещены с анализатором и расположены в отверстиях анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое - в области экватора, а защитная пластина с диафрагмой размещена в экваториальной части анализатора.

Изобретение поясняется чертежом, на котором представлена структурная схема устройства. На нем 1, 2 - источники излучения, 3 - анализатор, 4, 5- отверстия в анализаторе, 6 - бериллиевое окно анализатора, 7 - деталь, 0 - 0 - ось симметрии дифрактометра, P-P - ось отверстия, расположенного в области экватора, 8 - пластина с диафрагмой.

Рентгеновский дифрактометр состоит из источников излучения 1 и 2, совмещенных с анализатором 3, причем источники излучения 1 и 2 расположены в отверстиях 3 и 4 полусферического анализатора 3, которые выполнены в зоне полюса по оси симметрии 0-0 и в области экватора по оси отверстия P-P. В экваториальной части анализатора размещается защитная пластина с диафрагмой 8.

Нижняя поверхность пластины является плоскостью фокусировки, то есть именно на ней расположен общий центр 0 всех полусферических поверхностей.

Рентгеновский дифрактометр работает следующим образом.

Моноблок-анализатор располагают на излучаемой поверхности так, чтобы диафрагма пластины 8 находилась над исследуемым участком. Первичные пучки рентгеновских лучей от источников излучения 1 и 2 попадают в центр исследуемого участка, совпадающей с точкой 0, дифрагируют на кристаллической решетке материала изделия и регистрируются анализатором. При этом направление первичных и дифрагированных пучков рентгеновских лучей всегда совпадают с радиусами, проведенными из этого центра, поскольку вершины всех конусов дифракций совпадают с центрами сфер Эвальда.

Совместное использование двух источников рентгеновского излучения предполагает последовательное включение каждого из источников и последовательную идентификацию рефлексов. Применение источников с разной жесткостью излучения позволяет получить и обработать наибольшее количество рефлексов с различными индексами, необходимыми для определения напряженного состояния, текстуры и фазового состава материала изделия.

Изобретение по сравнению с известными техническими решениями обеспечивает возможность его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала, узлов и конструкций.

Литература
1. Анисимов Ю.С., Заневский Ю.В., Иванов А.Б. и др. Автоматическая быстродействующая установка АРД-1 с высоким разрешением для регистрации рентгена. Кристаллография. - 1981, вып. 26 N 6, с. 1305 - 1311.

2. Могульская Т.Д., Кузев С.В. и др. Измерительная система для рентгеноструктурных исследований на основе многоканальных дифрактометров АРГУС. Кристаллография. - 1982, вып. 27, N 4 c. 775 - 784.

Похожие патенты RU2129254C1

название год авторы номер документа
ДЕТЕКТОР РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 1997
  • Лютцау А.В.
  • Брейгин В.Д.
  • Котелкин А.В.
  • Звонков А.Д.
  • Матвеев Д.Б.
  • Маклашевский В.Я.
RU2120620C1
СПОСОБ ИДЕНТИФИКАЦИИ РЕНТГЕНОГРАФИЧЕСКИХ РЕФЛЕКСОВ НА ПОЛУСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ 1996
  • Лютцау А.В.
  • Котелкин А.В.
  • Звонков А.Д.
  • Матвеев Д.Б.
  • Маклашевский В.Я.
RU2131134C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ НАГРУЖЕНИЯ ОБРАЗЦА 1996
  • Лютцау А.В.
  • Котелкин А.В.
  • Звонков А.Д.
  • Матвеев Д.Б.
  • Маклашевский В.Я.
RU2115909C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ 2007
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Кукушкин Сергей Александрович
  • Моос Евгений Николаевич
RU2370758C2
Способ рентгеновского дифрактометрического анализа поликристаллических объектов с аксиальной текстурой 1982
  • Кринари Георгий Александрович
  • Халитов Зуфар Яхьич
  • Евграфов Александр Андреевич
  • Григорьев Юрий Сергеевич
SU1062579A1
РЕНТГЕНОВСКИЙ ФЛЮОРОСКОП 1996
  • Кеткович А.А.
  • Маклашевский В.Я.
  • Соколов В.И.
  • Филинов М.В.
RU2122725C1
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2000
  • Маклашевский В.Я.
  • Кеткович А.А.
  • Филинов В.Н.
RU2179789C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ МОНОКРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ 2007
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Кукушкин Сергей Александрович
  • Моос Евгений Николаевич
RU2370757C2
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2001
  • Маклашевский В.Я.
  • Кеткович А.А.
  • Каксис Ю.А.
RU2204821C1
ДЕТЕКТИРУЮЩИЙ УЗЕЛ ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ ИЗМЕРЕНИЙ 2003
  • Кумахов М.А.
  • Ибраимов Н.С.
  • Лютцау А.В.
  • Лихушина Е.В.
  • Булкин А.Е.
  • Никитина С.В.
RU2242748C1

Реферат патента 1999 года РЕНТГЕНОВСКИЙ ДИФРАКТОМЕТР

Рентгеновский дифрактометр относится к области рентгенографической аппаратуры и может быть использован при определении напряжений, текстуры и фазового состава материалов конструкций и изделий. Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения и анализатора, при этом по меньшей мере два источника излучения совмещены с анализатором, а также из защитной пластины с диафрагмой, размещенной в экваториальной области анализатора. Источники излучения расположены в отверстиях полусферического анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое в области экватора. Рентгеновский дифрактометр представляет собой моноблок-анализатор, в котором источники рентгеновского излучения соединены в единое целое с анализатором. Изобретение позволяет упростить конструкцию рентгеновского дифрактометра при обеспечении возможности его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала деталей, узлов и конструкций. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 129 254 C1

Рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника рентгеновского излучения и анализатора, отличающийся тем, что в него введены по меньшей мере один источник рентгеновского излучения и защитная пластина с диафрагмой, причем анализатор выполнен полусферическим, источники рентгеновского излучения совмещены с анализатором и расположены в отверстиях анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое - в области экватора, а защитная пластина с диафрагмой размещена в экваториальной части анализатора.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1999 года RU2129254C1

Кристаллография
Устройство для видения на расстоянии 1915
  • Горин Е.Е.
SU1982A1
Устройство для выпрямления опрокинувшихся на бок и затонувших у берега судов 1922
  • Демин В.А.
SU85A1

RU 2 129 254 C1

Авторы

Лютцау А.В.

Котелкин А.В.

Звонков А.Д.

Матвеев Д.Б.

Маклашевский В.Я.

Закутаев И.Л.

Слободянюк И.Т.

Даты

1999-04-20Публикация

1996-05-14Подача