СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ Российский патент 2003 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение RU2217697C1

Таблицыс

Похожие патенты RU2217697C1

название год авторы номер документа
БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2003
  • Виноградов В.И.
  • Захаров М.А.
  • Мурашев В.М.
RU2249787C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2007
  • Пономарев Борис Борисович
  • Евдокимов Андрей Сергеевич
RU2367904C2
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 2008
  • Миронченко Владимир Ильич
RU2380655C1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 2013
  • Овчинников Сергей Сергеевич
  • Тымкул Василий Михайлович
  • Кузнецов Максим Михайлович
  • Носков Михаил Федорович
  • Чесноков Дмитрий Владимировия
RU2535519C2
СПОСОБ АВТОФОКУСИРОВКИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ИНФОРМАЦИОННОМ СЛОЕ НОСИТЕЛЯ ИНФОРМАЦИИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Щетников А.А.
  • Ашкиназий Я.М.
  • Федоров Е.Н.
  • Чеглаков А.В.
RU2162253C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЛАГООБЕСПЕЧЕННОСТИ ЛИСТВЕННЫХ РАСТЕНИЙ 2019
  • Бондарева Людмила Александровна
  • Суханова Марина Владимировна
RU2710009C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ОДНОРОДНОГО НАНОСЛОЯ В ИНФРАКРАСНОМ ИЗЛУЧЕНИИ 2012
  • Никитин Алексей Константинович
  • Кирьянов Анатолий Павлович
  • Жижин Герман Николаевич
  • Чудинова Галина Константиновна
RU2470257C1
Устройство для определения длины распространения поверхностной электромагнитной волны инфракрасного диапазона за время одного импульса излучения 2018
  • Никитин Алексей Константинович
  • Герасимов Василий Валерьевич
  • Князев Борис Александрович
RU2699304C1
Способ определения профиля показателя преломления оптических неоднородностей и устройство для его осуществления 1990
  • Преснов Михаил Викторович
SU1777053A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ВЫСОКОТОЧНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИКО-ТЕХНИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ОБЪЕКТА 2007
  • Бржозовский Борис Максович
  • Грачев Дмитрий Владимирович
  • Елисеев Юрий Юрьевич
  • Захарченко Михаил Юрьевич
  • Захарченко Юрий Федорович
RU2353925C1

Иллюстрации к изобретению RU 2 217 697 C1

Реферат патента 2003 года СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Способ определения качества поверхности объекта основан на формировании монохроматического зондирующего светового пучка, подаче сформированного пучка на поверхность объекта для получения зеркальной и диффузной компонент отраженного от поверхности объекта светового излучения, преобразовании отраженных от поверхности объекта зеркальной и диффузной компонент светового излучения в фототоки путем их подачи для последующей обработки на устройство преобразования светового излучения в фототок, подключенное к блоку обработки информации. Причем перед подачей на поверхность объекта зондирующего светового пучка из последнего выделяют часть излучения для формирования опорного светового пучка, формируют парные импульсы равной длительности из опорного пучка и отраженной от поверхности объекта диффузной составляющей и из опорного пучка и отраженной от поверхности объекта зеркальной составляющей, полученные импульсы попарно поочередно-последовательно подают на устройство преобразования светового излучения в фототок и далее определяют качество поверхности объекта по формуле. Устройство для определения качества поверхности объекта содержит источник монохроматического зондирующего светового пучка, вогнутое зеркало с входным отверстием, фотоприемное устройство для регистрации светового излучения, подключенное к блоку обработки информации. Устройство снабжено обтюратором в виде диска с окном, фокусирующей системой, первым, вторым и третьим зеркалами и светоделительным элементом, причем вогнутое зеркало выполнено в виде параболоида вращения, в котором предусмотрено выходное отверстие, а диск обтюратора со стороны фотоприемного устройства выполнен с зеркальной зоной на торцевой поверхности и парой зеркальных элементов. Технический результат заключается в повышении точности измерений. 2 с. и 6 з.п.ф-лы, 5 ил.

Формула изобретения RU 2 217 697 C1

1. Способ определения качества поверхности объекта, основанный на формировании монохроматического зондирующего светового пучка, подаче сформированного пучка на поверхность объекта для получения зеркальной и диффузной компонент отраженного от поверхности объекта светового излучения, преобразовании отраженных от поверхности объекта зеркальной и диффузной компонент светового излучения в фототоки путем их подачи для последующей обработки на устройство преобразования светового излучения в фототок, отличающийся тем, что перед подачей на поверхность объекта зондирующего светового пучка из последнего выделяют часть излучения для формирования опорного светового пучка, формируют парные импульсы равной длительности из опорного пучка и отраженной от поверхности объекта диффузной составляющей и из опорного пучка и отраженной от поверхности объекта зеркальной составляющей, полученные импульсы попарно поочередно-последовательно подают на устройство преобразования светового излучения в фототок, а качество поверхности объекта определяют по формуле

где Rq - среднее квадратическое отклонение профиля;

Nd - интенсивность в импульсе диффузной компоненты светового излучения, отраженного от исследуемой поверхности объекта;

Nr - интенсивность в импульсе зеркальной компоненты светового излучения, отраженного от исследуемой поверхности объекта;

Nod - интенсивность в импульсе опорного пучка, парного с импульсом диффузной компоненты отраженного излучения;

Nor - интенсивность в импульсе опорного пучка, парного с импульсом зеркальной компоненты отраженного излучения;

kd - коэффициент, характеризующий соотношение интенсивности в импульсе диффузной компоненты светового излучения, отраженного от исследуемой поверхности объекта, и интенсивности в импульсе зондирующего светового пучка;

kr - коэффициент, характеризующий соотношение интенсивности в импульсе зеркальной компоненты светового излучения, отраженного от исследуемой поверхности объекта, и интенсивности в импульсе зондирующего светового пучка;

λ - длина волны зондирующего излучения.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что интенсивности импульсов опорного светового пучка, зеркальной и диффузной компонент отраженного от исследуемой поверхности объекта светового излучения измеряют за период одного цикла поочередно-последовательной подачи на устройство преобразования светового излучения в фототок.3. Устройство для определения качества поверхности объекта, содержащее источник монохроматического зондирующего светового пучка, вогнутое зеркало с входным отверстием, фокус которого расположен на оси зондирующего светового пучка и совмещен с поверхностью объекта, фотоприемное устройство для регистрации зеркальной и диффузной компонент светового излучения, отраженного от поверхности объекта, подключенное к блоку обработки информации, отличающееся тем, что оно снабжено обтюратором в виде диска с окном, установленным перед фотоприемным устройством, фокусирующей системой, первым, вторым и третьим зеркалами и светоделительным элементом, причем вогнутое зеркало выполнено в виде параболоида вращения, в котором предусмотрено выходное отверстие, а диск обтюратора со стороны фотоприемного устройства выполнен с зеркальной зоной на торцевой поверхности и парой зеркальных элементов, один из которых размещен между окном диска обтюратора и его зеркальной зоной, а второй - симметрично первому относительно окна диска обтюратора, при этом светоделительный элемент установлен на выходе источника зондирующего светового пучка для формирования опорного пучка, а первое зеркало - за светоделительным элементом напротив входного отверстия параболоида вращения для подачи зондирующего светового пучка на поверхность объекта, зеркальная компонента отраженного от поверхности объекта светового излучения оптически сопряжена с фотоприемным устройством через выходное отверстие параболоида вращения, второе и третье зеркала и зеркальную зону диска обтюратора, диффузная компонента отраженного от поверхности объекта светового излучения оптически сопряжена с фотоприемным устройством через отражающую поверхность параболоида вращения, фокусирующую систему и окно диска обтюратора, а опорный пучок оптически сопряжен с фотоприемным устройством через зеркальные элементы диска обтюратора.4. Устройство по п.3, отличающееся тем, что зеркальные элементы диска обтюратора выполнены в форме клина, закрепленного основанием на торце диска обтюратора.5. Устройство по п.3 или 4, отличающееся тем, что оно дополнительно содержит оптронную пару в виде фото- и светодиода, размещенных напротив друг друга по разные стороны диска обтюратора, причем фото- и светодиод оптически сопряжены через отверстие, предусмотренное в диске обтюратора, и подключены к блоку обработки информации.6. Устройство по любому из пп.3-5, отличающееся тем, что фокусирующая система выполнена в виде телескопа, ориентированного окуляром в сторону фотоприемного устройства.7. Устройство по любому из пп.3-6, отличающееся тем, что оно дополнительно снабжено узкополосным фильтром с полосой пропускания, совпадающей с полосой излучения источника монохроматического зондирующего светового пучка, установленным на входе фотоприемного устройства.8. Устройство по любому из пп.3-7, отличающееся тем, что поверхность диска обтюратора выполнена из светопоглощающего материала.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2003 года RU2217697C1

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА ПОВЕРХНОСТИ 1996
  • Стариков Сергей Владимирович
RU2104480C1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФЕКТОВ ПОВЕРХНОСТИ 2000
  • Сорокин П.А.
  • Селиверстов Г.В.
RU2165612C1
US 3771880 А, 13.11.1973
DE 3626724 А, 11.02.1988.

RU 2 217 697 C1

Авторы

Егоров В.Н.

Корзюков В.Г.

Сахарова Н.А.

Синайский В.В.

Даты

2003-11-27Публикация

2002-07-08Подача