ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ ДВУХСЛОЙНЫХ ПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ Российский патент 2003 года по МПК G01N25/32 G01B7/06 

Таблицы

Изобретение относится к измерительной технике. При термоэлектрическом способе контроля толщины слоев электропроводящих двухслойных материалов, заключающемся в определении толщины слоя по термоэлектродвижущей силе, развиваемой в результате возникновения разности температур по толщине слоев при контакте одной из поверхностей контролируемого материала с горячим и холодным наконечниками, в качестве наконечников используют головки одинаковых термопар, позволяющих измерять температуру в местах контакта. Устанавливают дополнительный холодный наконечник в виде такой же термопары на внешней поверхности другого слоя напротив горячего наконечника и по величинам электродвижущих сил, измеряемых между одноименными электродами термопар, судят о толщине одного из слоев. Толщину другого слоя определяют как разность толщин двухслойного материала и измеренного слоя. Технический результат состоит в уменьшении погрешности измерения и расширении области возможного применения термоэлектрического метода. 2 ил.

Термоэлектрический способ контроля толщины слоев электропроводящих двухслойных материалов, заключающийся в определении толщины слоя по термоэлектродвижущей силе, развиваемой в результате возникновения разности температур по толщине слоев при контакте одной из поверхностей контролируемого материала с горячим и холодным наконечниками, отличающийся тем, что в качестве наконечников используют головки одинаковых термопар, позволяющих измерять температуру в местах контакта, устанавливают дополнительный холодный наконечник в виде такой же термопары на внешней поверхности другого слоя напротив горячего наконечника и по величинам электродвижущих сил, измеряемых между одноименными электродами термопар, судят о толщине одного из слоев, толщину другого слоя определяют как разность толщин двухслойного материала и измеренного слоя.