СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ Российский патент 2006 года по МПК G01R31/26 

Описание патента на изобретение RU2284538C1

Изобретение относится к электротехнике, а именно к способам определения потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Изобретение может быть использовано на этапе серийного производства ИС, а также на входном контроле при производстве радиоаппаратуры.

Известно [1], что способом анализа форм (параметров) динамического тока потребления могут отбраковываться дефектные и потенциально ненадежные, как правило, цифровые ИС малой, средней и большой степени интеграции, изготовленные по различным технологиям. Наличие аномалий в форме динамического тока потребления или его величины при обращении к заданному логическому элементу (или группе элементов) указывает на наличие дефектов ИС, что снижает потенциальную надежность данной схемы.

Наиболее близким по технической сущности является способ отбраковки ненадежных КМОП ИС [2], по которому ИС устанавливают в термокамеру и измеряют токи потребления при двух фиксированных значениях повышенной температуры, а отбраковывают схемы с наибольшим отношением второго тока к первому.

Недостатком данного способа является сложность измерения тока потребления при повышенных температурах, отсюда большая погрешность в измерениях.

Изобретение направлено на расширение функциональных возможностей диагностических способов и повышение достоверности.

Это достигается тем, что на представительной выборке конкретного типа ИС набирается статистика значений измеряемого динамического тока потребления в цепи питания и земли при выключении и включении инверторов схемы до и после воздействия электростатическим разрядом, напряжением, равным предельно допустимому потенциалу, указанному в технических условиях (ТУ). По полученным данным определяют диапазон допустимых значений коэффициента К=IДвыкл/IДвкл, где IДвыкл - динамический ток потребления при выключении, а IДвкл - динамический ток при включении схемы, находят коэффициент А=KMAX/KMIN (KMAX - максимальное значение К для одной ИС, KMIN - минимальное значение К для той же ИС) для каждой схемы до и после воздействия ЭСР и определяют критерии для отбраковки потенциально ненадежных ИС:

первый критерий: Анач>1,3;

второй критерий: АЭСР>1,3,

т.е. KMAX не должно превышать KMIN более чем на 30% как до воздействия (Анач), так и после воздействия ЭСР (АЭСР) для каждой схемы. ИС считается потенциально ненадежной, если она не удовлетворяет любому из этих двух критериев.

Пример осуществления способа. На произвольно выбранных пяти ИС типа КР1533ЛН1 (шесть логических элементов НЕ) измерили амплитуду динамических токов потребления с помощью стробоскопического осциллографа С7-8 для каждого из шести инверторов каждой схемы в момент его включения и в момент выключения до и после воздействия ЭСР. Результаты измерения до воздействия ЭСР для каждого инвертора каждой ИС представлены в таблице 1, а рассчитанные значения К и Анач - в таблице 2. Минимальные и максимальные значения К в таблице 2 отмечены шрифтом.

Таблица 1№ схемыМомент измеренияДинамические токи потребления IД, мА, по инверторам до ЭСР1234561Включение988898Выключение5351535052512Включение88108109Выключение5252535152523Включение889878Выключение5353525353534Включение10109989Выключение5350525152525Включение9999109Выключение525053535253

Таблица 2№ схемыЗначение К=IДвыкл/IДвкл по инверторам до ЭСРАнач12345615,8896,3756,6256,255,7786,3751,1426,56,55,36,3755,25,7781,2536,6256,6255,7756,6257,5716,6251,3145,355,7785,6676,55,7781,355,7785,5565,8895,8895,25,8891,13

Затем подаем по 5 электростатических разрядов амплитудой 200 В (допустимого значения по техническим условиям) на каждый вход и соответствующий выход каждого инвертора, меняя полярность, после чего измеряем динамический ток потребления.

Результаты измерения после воздействия ЭСР для каждого инвертора каждой ИС представлены в таблице 3, а рассчитанные значения К и АЭСР - в таблице 4. Минимальные и максимальные значения К в таблице 4 отмечены шрифтом.

Таблица 3№ схемыМомент измеренияДинамические ток и потребления IД, мА, по инверторам после ЭСР1234561Включение1099888Выключение5254545252522Включение999101010Выключение5052555253533Включение9911977Выключение5254535252504Включение101110101110Выключение5252535054535Включение10101181010Выключение505054515154

Таблица 4№ схемыЗначение К=IДвыкл/IДвкл, по инверторам после ЭСРАЭСР12345615,2666,56,56,51,2525,5565,7786,1115,25,35,31,1735,77864,8185,7787,4297,1431,5445,24,7285,354,9095,31.125554,9096,3755,15,41,27

По первому критерию потенциально ненадежной будет ИС №3, по второму критерию потенциально ненадежной будет также ИС №3. Таким образом схема №3 будет потенциально ненадежной.

Источники информации

1. РД 11 0682-89. Микросхемы интегральные. Методы неразрушающего контроля динамических параметров.

2. А.С. СССР 1239658. МПК 4 G 01 R 31/26. Опубл.1986 г.

Похожие патенты RU2284538C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 2004
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Емельянов Виктор Андреевич
  • Дунаев Станислав Дмитриевич
  • Москалев Вячеслав Юрьевич
RU2276378C1
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПОНИЖЕННОГО УРОВНЯ НАДЕЖНОСТИ 2010
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Смирнов Дмитрий Юрьевич
  • Золотарева Екатерина Александровна
RU2484489C2
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПО НАДЕЖНОСТИ 2008
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Золотарева Екатерина Александровна
  • Козьяков Николай Николаевич
RU2374658C1
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ИЗДЕЛИЙ ПОНИЖЕННОГО УРОВНЯ КАЧЕСТВА ИЗ ПАРТИЙ ИЗДЕЛИЙ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ 2011
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Антонова Екатерина Александровна
  • Мешкова Мария Александровна
  • Данилин Николай Семенович
RU2511633C2
СПОСОБ РАЗБРАКОВКИ БИПОЛЯРНЫХ ТРАНЗИСТОРОВ 2001
  • Горлов М.И.
  • Адамян А.Г.
  • Ануфриев Л.П.
RU2204143C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕСТАБИЛЬНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ 2003
  • Горлов М.И.
  • Жарких А.П.
RU2249227C1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ 2002
  • Горлов М.И.
  • Жарких А.П.
RU2230335C1
СПОСОБ ВЫДЕЛЕНИЯ ИЗ ПАРТИИ ВАРИКАПОВ ГРУППЫ ПРИБОРОВ ПОВЫШЕННОЙ НАДЕЖНОСТИ 2005
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Козьяков Николай Николаевич
  • Жарких Александр Петрович
RU2303790C1
СПОСОБ РАЗДЕЛЕНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО НАДЕЖНОСТИ 2021
  • Горлов Митрофан Иванович
  • Сергеев Вячеслав Андреевич
  • Шишкин Игорь Алексеевич
  • Трухин Михаил Владимирович
RU2786050C1
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ КМОП ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ ПО УРОВНЯМ НАДЕЖНОСТИ 1992
  • Архипов А.В.
  • Паршин А.В.
  • Пиганов М.Н.
  • Чернобровин Н.Г.
RU2046365C1

Реферат патента 2006 года СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ПОТЕНЦИАЛЬНО НЕНАДЕЖНЫХ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ

Изобретение относится к электротехнике, в частности к способам определения потенциально ненадежных интегральных схем (ИС). Сущность: проводят измерения амплитуды динамического тока потребления для каждого инвертора схемы в цепи питания и земли при включении и выключении инверторов до и после воздействия электростатического разряда (ЭСР). Определяют коэффициенты К=IДвыкл/IДвкл для каждого инвертора схемы до и после воздействия ЭСР, где IДвкл>IДвыкл - амплитуда динамического тока потребления схемы соответственно при включении и выключении. Определяют максимальное KMAX и минимальное KMIN значения коэффициента для каждой схемы. Отбраковывают схемы, если они не удовлетворяют любому из двух критериев

Анач>1,3 и

АЭСР>1,3,

где Анач и АЭСР - коэффициенты соответственно до и после воздействия ЭСР, определяемые для каждой схемы как A=KMAX/KMIN. Технический результат: повышение достоверности и расширение функциональных возможностей. 4 табл.

Формула изобретения RU 2 284 538 C1

Способ отбраковки потенциально ненадежных схем, включающий измерение тока потребления, отличающийся тем, что проводят измерения амплитуды динамического тока потребления для каждого инвертора схемы в цепи питания и земли при включении и выключении инверторов до и после воздействия электростатического разряда (ЭСР) допустимого по техническим условиям потенциала на вход и соответствующий выход каждого инвертора, меняя полярность, определяют коэффициенты К=IДвыкл/IДвкл для каждого инвертора схемы до и после воздействия ЭСР, где IДвкл, IДвыкл - амплитуда динамического тока потребления схемы соответственно при включении и выключении, определяют максимальное KMAX и минимальное KMIN значение коэффициента для каждой схемы до и после воздействия ЭРС и отбраковывают схемы, если они не удовлетворяют любому из двух критериев

Анач>1,3 и

АЭСР>1,3,

где Анач и АЭСР коэффициенты соответственно до и после воздействия ЭСР, определяемые для каждой схемы как A=КMAXMIN.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2006 года RU2284538C1

SU 12309658 A1, 23.06.1986
Способ контроля качества и надежности микросхем 1984
  • Литвинский Игорь Евгеньевич
  • Прохоренко Владимир Александрович
SU1228052A1
СПОСОБ ОТБРАКОВКИ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 1998
  • Горлов М.И.
  • Андреев А.В.
RU2146827C1
US 4678195 A, 30.08.1988.

RU 2 284 538 C1

Авторы

Горлов Митрофан Иванович

Емельянов Антон Викторович

Москалев Вячеслав Юрьевич

Даты

2006-09-27Публикация

2005-02-24Подача