СВЧ-СПОСОБ ИНТРОСКОПИИ НЕОДНОРОДНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ МЕДЛЕННОЙ ВОЛНОЙ Российский патент 2007 года по МПК G01N15/08 G01R27/32 

Описание патента на изобретение RU2301987C1

Предлагаемое изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий на металле при разработке неотражающих и поглощающих покрытий, а также в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности.

Известен СВЧ-способ контроля нарушения сплошности, базирующийся на воздействии контролируемой среды или объекта на сигнал, прошедший через образец /см. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. Клюева. T.1. - М.: Машиностроение, 1976. C.198/.

Недостатками данного способа являются: низкая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей из-за влияния переотражений; необходимость согласования границы раздела с приемной и излучающей антеннами; невозможность измерения неоднородностей покрытий на металлической подложке; трудность реализации способа для объекта с большими геометрическими размерами.

Известен СВЧ-способ контроля внутреннего состояния объекта, в основе которого лежит воздействие контролируемой среды или объекта на сигнал, прошедший через образец, либо отраженный от него /см. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. Клюева. T.1. - М.: Машиностроение, 1976. С.201/.

Недостатками данного способа являются: низкая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей из-за влияния переотражений; необходимость начального согласования плоскостей поляризации приемной и передающей антенн, когда сигнал в приемной антенне равен нулю; трудность реализации способа для многослойных сред.

Известен СВЧ-способ контроля нарушения сплошности, заключающийся в создании электромагнитного поля в объеме контролируемого материала и последующей регистрации изменения параметров, характеризующих высокочастотный сигнал, отраженный от дефекта или поверхности образца /см. Приборы для неразрушающего контроля материалов и изделий. Справочник под ред. Клюева, T.1. - М.: Машиностроение, 1976. C.199/.

Недостатками данного способа являются: наличие непосредственной электромагнитной связи между приемной и передающей антеннами; влияние изменения зазора между поверхностью контролируемого материала и приемной антенной; малая чувствительность и низкая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей; наличие зон необнаружения дефекта из-за интерференции волн; большие габариты измерительной системы, реализующей данный способ.

Известен принятый за прототип СВЧ-способ локализации неоднородностей диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на металле и оценки их относительной величины /Патент №2256115 RU, МПК7 G01N 22/02. Опубл. 10.07.05. Бюл. №19/, заключающийся в создании электромагнитного поля поверхностных медленных волн над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке, измерении затухания напряженности поля поверхностной медленной волны в нормальной плоскости относительно ее распространения по всей поверхности покрытия и последующей оценки площади неоднородности по значениям коэффициентов затухания поля, рассчитанным по известным формулам.

Недостатками данного способа являются: малая чувствительность и не высокая точность локализации и оценки геометрических и электрофизических параметров неоднородностей; отсутствие возможности визуализации распределения неоднородностей по площади сканируемой поверхности.

Техническим результатом изобретения является повышение точности определения неоднородностей покрытия, оценки их геометрических и электрофизических параметров и визуализация их размещения по поверхности покрытия по пространственному распределению дисперсии коэффициента нормального затухания поля поверхностной медленной волны.

Сущность изобретения состоит в том, что в СВЧ-способе интроскопии неоднородности диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий поверхностной медленной волной, заключающемся в создании электромагнитного поля поверхностной медленной волны над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения напряженности электрического поля, рассчитывают математическое ожидание mα и дисперсию Dα коэффициента нормального затухания электрического поля поверхностной медленной волны в каждой точке измерений сканируемой поверхности по формулам:

и

,

где αj - коэффициент нормального затухания;

j∈[1, ...n-1] - количество измерений по нормали к поверхности (по оси Y);

в микропроцессорном устройстве для каждой точки измерений сканируемой поверхности запоминаются значения математического ожидания mα и дисперсии Dα;

по матрице значений дисперсии коэффициента затухания поля по всей поверхности сканирования строят пространственное распределение дисперсии Dα коэффициента нормального затухания поля поверхностной медленной волны, пространственная картина которой визуально отображает форму и геометрические размеры неоднородностей.

Реализация СВЧ-способа интроскопии неоднородности диэлектрических покрытий поверхностной медленной волной осуществляется следующим. С помощью устройства возбуждения медленных поверхностных волн, представляющего собой рупорную антенну 1 (фиг.1), возбуждают медленную поверхностную Е - волну, длиной λ, вдоль расположенного на электропроводящей металлической подложке 2 диэлектрического покрытия 3 с неизвестными параметрами: толщиной слоя b, относительной диэлектрической проницаемостью ε, относительной магнитной проницаемостью μ, модулем волнового сопротивления ZB и фазовой скоростью VФ; при условии обеспечения режима ее одномодовости, т.е. отсутствия следующей моды волны Н, выбирая длину волны генератора λг из условия:

,

где εмакс, μмакс, bмакс - максимально возможные значения диэлектрической и магнитной проницаемостей и толщины покрытия.

С помощью системы приемных вибраторов 4, расположенных в дальней зоне (ДЗ), в начальной точке сканирования поверхности (x1, z1), расположенной на линии максимума диаграммы направленности (ДН) устройства возбуждения медленной поверхностной волны, направленной вдоль оси Z, измеряют напряженность поля Е поверхностной волны в нормальной плоскости относительно направления ее распространения (в точке y1). Делают первоначальный шаг Δy=d и измеряют напряженность поля поверхностной волны в точке y2=y1+d.

Рассчитывают коэффициент нормального затухания α1 из выражения:

,

где Е(y) и E(y+d) - напряженности поля поверхностной волны в нормальной плоскости относительно направления распространения в разнесенных точках измерений y и y+d;

d - расстояние (шаг) между точками измерений.

Переводят приемный вибратор в следующую точку с координатами (X1 Z1 Y3), делая постоянный либо адаптивно изменяющийся относительно величины изменения коэффициента затухания шаг Δy и повторяют измерения.

Вычисляют все значения αj, где j∈[1, ...n-1] - количество точек измерений (по оси Y).

По значениям коэффициентов нормального затухания электрического поля поверхностной медленной волны αj определяют математическое ожидание mα (среднее значение)

и дисперсию коэффициента затухания Dα как функцию геометрических и электрофизических параметров неоднородностей:

.

В микропроцессорном устройстве (МПУ) запоминаются координаты точки сканирования поверхности и значения mα и Dα для данной точки измерений.

Делают шаг Δz1 в направлении максимума ДН и проводят аналогичный цикл измерений коэффициента затухания в точке (x1, z1+Δz) и так далее в пределах заданного изменения размера покрытия по оси Z от начального Zн до конечного Zкон.

Делают шаг Δx, перемещая аппертуру излучателя и приемные вибраторы, и производят аналогичный цикл измерений коэффициента затухания по направлению максимума ДН по оси Z в обратном направлении от Zкон до Zн.

Производят сканирование всей поверхности в пределах заданного изменения размера покрытия.

По массиву значений Dα по всем дискретным точкам измерений строится зависимость дисперсии коэффициента затухания как функция геометрических и электрофизических параметров неоднородностей в координатах XYZ - картина распределения неоднородности по сканируемой поверхности.

Для устранения погрешности от влияния конечных размеров площади сканирования переводят излучатель и приемные вибраторы так, чтобы максимум ДН был направлен по оси Х, и определяют коэффициент затухания по алгоритму как и для рассмотренного выше случая, когда максимум ДН был направлен по оси Z. Результаты измерений и вычислений усредняют в каждой дискрентной точке.

На Фиг.2 представлена экспериментальная зависимость дисперсии коэффициента нормального затухания как функции геометрических и электрофизических параметров неоднородностей в координатах XYZ, полученная при сканировании поверхности диэлектрического покрытия с различными неоднородными включениями, такими как простое отверстие диаметром 7 мм и ферритовый шарик диаметром 7 мм при длине волны генератора λг=8,3 см.

Таким образом, предлагаемый способ позволяет повысить точность определения и оценки неоднородностей геометрических и электрофизических параметров непроводящих покрытий на металлической подложке и позволяет визуализировать их размещение по поверхности покрытия по пространственному распределению дисперсии коэффициента нормального затухания поля поверхностной медленной волны.

Похожие патенты RU2301987C1

название год авторы номер документа
СВЧ СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ И ОЦЕНКИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛЕ 2012
  • Федюнин Павел Александрович
  • Казьмин Александр Игоревич
  • Федюнин Дмитрий Павлович
  • Хакимов Тимерхан Мусагитович
RU2507506C2
СВЧ-СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ВЛАЖНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ НА МЕТАЛЛЕ И УСТРОЙСТВО, РЕАЛИЗУЮЩЕЕ СПОСОБ 2006
  • Дмитриев Дмитрий Александрович
  • Федюнин Павел Александрович
  • Дмитриев Сергей Александрович
  • Панов Анатолий Александрович
RU2338179C1
СВЧ-УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И ОБНАРУЖЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛЕ 2015
  • Казьмин Александр Игоревич
  • Манин Василий Александрович
  • Федюнин Павел Александрович
  • Федюнин Дмитрий Павлович
RU2594761C1
СВЧ СПОСОБ ЛОКАЛИЗАЦИИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛЕ И ОЦЕНКА ИХ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ВЕЛИЧИНЫ 2002
  • Федюнин П.А.
  • Дмитриев Д.А.
  • Каберов С.Р.
RU2256165C2
СВЧ СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПОДЛОЖКЕ 2015
  • Казьмин Александр Игоревич
  • Манин Василий Александрович
  • Федюнин Павел Александрович
  • Федюнин Дмитрий Павлович
RU2604094C1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ И ОЦЕНКИ ДЕФЕКТОВ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПОДЛОЖКЕ 2023
  • Казьмин Александр Игоревич
  • Федюнин Павел Александрович
  • Блинов Андрей Владимирович
  • Федюнин Дмитрий Павлович
  • Рябов Даниил Александрович
RU2803321C1
СВЧ-СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ ПАРАМЕТРОВ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ НА МЕТАЛЛЕ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО РЕАЛИЗАЦИИ 2003
  • Федюнин Павел Александрович
  • Федоров Николай Павлович
  • Дмитриев Дмитрий Александрович
  • Каберов Сергей Рудольфович
RU2273839C2
СВЧ-УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И ОЦЕНКИ ДЕФЕКТОВ В МНОГОСЛОЙНЫХ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ 2020
  • Казьмин Александр Игоревич
  • Федюнин Дмитрий Павлович
  • Федюнин Павел Александрович
  • Блинов Андрей Владимирович
RU2759151C1
СВЧ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ И ТОЛЩИНЫ СПИНОВЫХ ПОКРЫТИЙ НА МЕТАЛЛЕ 2002
  • Федюнин П.А.
  • Карев Д.В.
  • Дмитриев Д.А.
  • Каберов С.Р.
RU2251073C2
ДИАГНОСТИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ КОНТРОЛЯ СОСТОЯНИЯ ЗАЩИТНОГО ЛАКОКРАСОЧНОГО ПОКРЫТИЯ АРТИЛЛЕРИЙСКИХ БОЕПРИПАСОВ 2017
  • Евсюткин Алексей Владимирович
  • Устинов Евгений Михайлович
  • Алчинов Виктор Иванович
  • Питайкин Дмитрий Александрович
  • Сонин Николай Сергеевич
RU2697427C2

Иллюстрации к изобретению RU 2 301 987 C1

Реферат патента 2007 года СВЧ-СПОСОБ ИНТРОСКОПИИ НЕОДНОРОДНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ МЕДЛЕННОЙ ВОЛНОЙ

Изобретение относится к способам определения неоднородностей электрофизических и геометрических параметров диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий на поверхности металла и может быть использовано при контроле состава и свойств твердых покрытий в химической, лакокрасочной и других отраслях промышленности. СВЧ-способ интроскопии заключается в создании электромагнитного поля поверхностной медленной волны над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения напряженности электрического поля. Рассчитывают математическое ожидание mα и дисперсию Dα коэффициента нормального затухания электрического поля поверхностной медленной волны в каждой точке измерений сканируемой поверхности по приведенным математическим формулам. По матрице значений дисперсии коэффициента затухания поля по всей поверхности сканирования строят пространственное распределение дисперсии коэффициента нормального затухания поля поверхностной медленной волны, пространственная картина которой визуально отображает форму и геометрические размеры неоднородностей. Техническим результатом изобретения является повышение точности определения неоднородностей покрытия, оценки их геометрических и электрофизических параметров. 2 ил.

Формула изобретения RU 2 301 987 C1

СВЧ-способ интроскопии неоднородности диэлектрических и магнитодиэлектрических покрытий поверхностной медленной волной, заключающийся в создании электромагнитного поля поверхностной медленной волны над диэлектрическим покрытием на электропроводящей подложке и последующей регистрации изменения напряженности электрического поля, отличающийся тем, что рассчитывают математическое ожидание mα и дисперсию Dα коэффициента нормального затухания электрического поля поверхностной медленной волны в каждой точке измерений сканируемой поверхностности по формулам

и

где αj - коэффициент нормального затухания; j∈[1, ...n-1] - количество измерений по нормали к поверхности (по оси Y);

в микропроцессорном устройстве для каждой точки измерений сканируемой поверхности запоминаются значения математического ожидания mα и дисперсии Dα;

по матрице значений дисперсии коэффициента затухания поля по всей поверхности сканирования строят пространственное распределение дисперсии Dα коэффициента нормального затухания поля поверхностной медленной волны, пространственная картина которой визуально отображает форму и геометрические размеры неоднородностей.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2007 года RU2301987C1

СВЧ СПОСОБ ЛОКАЛИЗАЦИИ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ В ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ И МАГНИТОДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЯХ НА МЕТАЛЛЕ И ОЦЕНКА ИХ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ВЕЛИЧИНЫ 2002
  • Федюнин П.А.
  • Дмитриев Д.А.
  • Каберов С.Р.
RU2256165C2
Способ определения дефектов в материале 1980
  • Грач Иосиф Майорович
SU1056027A1
РЕЗЕРВИРОВАННОЕ УСТРОЙСТВО 1991
  • Ткаченко В.А.
  • Тимонькин Г.Н.
  • Дмитров Д.В.
  • Харченко В.С.
  • Ткаченко С.Н.
  • Мощицкий С.С.
  • Толубко В.Б.
RU2015544C1
DE 19927258 A, 23.12.1999.

RU 2 301 987 C1

Авторы

Федюнин Павел Александрович

Дмитриев Дмитрий Александрович

Панов Анатолий Александрович

Даты

2007-06-27Публикация

2005-10-19Подача