СВЧ фильтр на основе интегрированного в подложку волновода и способ его изготовления Российский патент 2019 года по МПК H01P1/20 

Описание патента на изобретение RU2686486C1

Предлагаемое изобретение относится к области микроэлектроники, а именно к технике сверхвысоких частот.

Известны СВЧ фильтры на основе интегрированного в подложку волновода, образованные цепочкой связанных резонаторов [N. Keltouma, F. Mohammed, A. Saghir. Design and characterization of tapered transition and inductive window filter based on Substrate Integrated Waveguide technology (SIW). International Journal of Computer Science Issues, Vol. 8, Issue 6, No 3, Nov. 2011. P. 135-138]. Согласно известному техническому решению СВЧ фильтры включают интегрированный в подложку волновод, образованный подложкой диэлектрика (стеклотекстолита FR4), двустороннюю металлизацию и сквозные металлизированные отверстия, соединяющие слои металлизации, ограничивающие резонансные объемы фильтра, входную и выходную линии передачи, сформированные с использованием стандартной технологии печатных плат.

К недостаткам известного технического решения относятся применение в качестве диэлектрика стеклотекстолита и стандартной технологии печатных плат, что приводит к пониженной точности изготовления, тогда как резонаторы фильтра требуют повышенной точности изготовления, возрастающей при повышении рабочей частоты. Кроме того, известное техническое решение не предусматривает мер для подавления паразитных полос пропускания фильтров.

Наиболее близким по технической сущности и достигаемому эффекту является конструкция интегрированного в подложку волновода и фильтра на его основе, изложенная в [G.Pathak. Substrate Integrated Waveguide based RF MEMS Cavity Filter. International Journal of Recent Technology and Engineering (IJRTE).Vol.2.Iss.5. Nov. 2013. P. 46-49]. Согласно данному техническому решению резонаторы фильтра выполнены на основе интегрированного в подложку волновода, сформированного подложкой высокоомного кремния, двусторонней металлизацией и сквозными металлизированными отверстиями, соединяющими слои металлизации, ограничивающие резонансные объемы фильтра, входную и выходную линии передачи. Изготовление фильтра предусматривает формирование сквозных отверстий методом сухого травления по Бошу.

К недостаткам данного технического решения относится наличие паразитных высокодобротных резонансов, приводящих к появлению паразитных полос пропускания в полосовых фильтрах (см., например, патент на изобретение US 6 943 650, Freescale Semiconductor Inc., публикация 2005 г., Hong, Jia-Sheng. Microstrip filters for RF/microwave applications / Jia-Sheng Hong. – 2nd ed. p. 404).

В свою очередь предлагаемая группа изобретений представляет собой дальнейшее совершенствование объектов техники данного класса: предложены конструкция СВЧ фильтра, характеризующегося меньшими массогабаритными характеристиками и обеспечивающего подавление паразитных полос пропускания, а также способ изготовления СВЧ фильтра, характеризующийся повышенной технологичностью и возможностью использования методов микрообработки.

СВЧ фильтр на основе интегрированного в подложку волновода образован цепочкой связанных резонаторов. Конструкция СВЧ фильтра состоит из следующих составных частей: металлического основания, подложки на основе высокоомного монокристаллического кремния, интегрированного в подложку волновода, двусторонней металлизации, входной и выходной линий передачи. В подложке на основе высокоомного монокристаллического кремния с двусторонней металлизацией плоскостей выполнены сквозные металлизированные отверстия, электрически объединяющие металлизацию и задающие (определяющие) зоны объёмных резонаторов фильтра. Интегрированный в подложку волновод сформирован подложкой высокоомного кремния. Сквозные металлизированные отверстия по внешним сторонам фильтра образуют двумерную структуру, параметры которой выбираются из условия , в котором fп – частота [Гц] в полосе пропускания фильтра, fпар – частота [Гц] в паразитных полосах пропускания, а fкр – частота [Гц] из соотношения , где a – шаг структуры [м], D – диаметр металлизированных отверстий [м], ε – относительная диэлектрическая проницаемость подложки, μ – относительная магнитная проницаемость подложки, c – скорость света в вакууме [м/с]. Размеры сквозного отверстия выбраны из соотношения где D – диаметр отверстия [м], Н – толщина подложки [м]. С внешней стороны двумерной структуры расположены слои поглощающего материала, выполненные, например, в виде подложек на основе легированного кремния толщиной Н с двусторонней металлизацией плоскостей, причем слои металлизации электрически соединены с соответствующими слоями металлизации собственно фильтра.

Способ изготовления СВЧ фильтра предусматривает формирование сквозных отверстий в подложке высокоомного кремния методом сухого травления, двустороннюю металлизацию, формирование микрополосковых входной и выходной линии передачи методами фотолитографии и монтаж полученного модуля после резки подложки на металлическое основание. Сухое травление проводят в три этапа. На первом этапе выполняют сухое травление изотропное с образованием фаски на границе «поверхность – отверстие» с размерами не более 0,3 диаметра отверстия. На втором этапе – сухое травление по Бошу с образованием отверстия ортогонального поверхностям подложки. На третьем этапе – сухое травление по Бошу с эффектом нотчинга с образованием фаски с противоположной стороны подложки с размерами не более 0,3 диаметра отверстия. Сухое травление по Бошу с эффектом нотчинга с образованием фаски с противоположной стороны подложки проводят последовательно с контролем под микроскопом либо дифракционным методом in situ.

Формирование сквозных отверстий выполняют через металлическую маску. После формирования сквозных отверстий металлическую маску удаляют методом селективного травления. На противоположной стороне относительно маски перед сухим травлением формируют по растворной технологии полимерное пленкообразующее покрытие толщиной не менее 3 мкм с модулем Юнга покрытия не менее 120 МПа. После формирования сквозных отверстий пленкообразующее покрытие также удаляют методом селективного травления. В качестве полимерного пленкообразующего покрытия используют полиимиды, кардовые полиимиды и/или полиэфиримиды, образующие после формирования сквозного отверстия свободную мембрану.

Двустороннюю металлизацию формируют на основе тонкой пленки золота и слоистой структуры из, по меньшей мере, двух переходных металлов IV периода периодической системы химических элементов. Толщина гальванически осажденного слоя золота составляет не менее 2 мкм. Толщина слоистой структуры составляет не менее 2,5-3,5 мкм. Слоистую структуру формируют методом двустороннего магнетронного распыления и конденсации металлов в вакууме на поверхностях подложки и внутри отверстий. Толщина металлизации стенок отверстий, полученной методом двустороннего магнетронного распыления выбирается из соотношения , где h – толщина металлизации стенок отверстий [м], hп – толщина металлизации поверхностей [м]. Двустороннюю металлизацию формируют на основе структуры титан – медь – золото, с возможным использованием подслоя никеля между слоями меди и золота. Также, возможно формирование двусторонней металлизации на основе структуры хром – медь – золото.

При формировании входной и выходной линии передачи методами фотолитографии фоторезист наносят способом распыления. Фильтр монтируют на металлическое, например, коваровое основание методом вакуумной бесфлюсовой пайки или посадкой на токопроводящий клей, например, контактол. Толщина токопроводящего клея или припоя выбирается из соотношения где hпр – толщина припоя или токопроводящего клея после монтажа [м], S – площадь фильтра [м2], hпр.исх. – толщина припоя или токопроводящего клея до монтажа [м], D – диаметр отверстий [м], HSi – толщина кремниевой подложки [м], n – количество отверстий.

Предложенный СВЧ фильтр и способ его изготовления поясняются следующими изображениями:

фиг. 1 – пример ранее известной конструкции фильтра на основе интегрированного в подложку волновода (вид сверху);

фиг. 1-1 – частотная характеристика фильтра по фиг.1;

фиг. 2 – зависимость критической частоты fкр периодической структуры от диаметра металлизированных отверстий D и шага структуры – a и аппроксимирующая ее прямая;

фиг. 3 – конструкция предлагаемого фильтра на основе интегрированного в подложку волновода с двумерной структурой (вид сверху);

фиг. 3-1 – частотная характеристика фильтра по фиг. 3;

фиг. 4 – вариант конструкции предлагаемого фильтра на основе интегрированного в подложку волновода с двумерной структурой (вид сверху);

фиг. 5 – вариант конструкции предлагаемого фильтра на основе интегрированного в подложку волновода с двумерной структурой (вид сверху);

фиг. 6 – вариант конструкции предлагаемого фильтра на основе интегрированного в подложку волновода со слоями поглощающего материала (вид сверху);

фиг. 7 – фотография заготовок СВЧ фильтров со сформированными сквозными отверстиями;

фиг. 8 – фотография подложки с заготовками СВЧ фильтров;

фиг. 9 – фотография СВЧ фильтра.

На фиг. 1 приведён пример конструкции трёхрезонаторного СВЧ фильтра на основе интегрированного в подложку волновода, сформированного подложкой высокоомного кремния. СВЧ фильтр включает двустороннюю металлизацию и сквозные металлизированные отверстия, соединяющие слои металлизации, ограничивающие резонансные объемы фильтра, входную и выходную линии передачи. Электрические характеристики данного фильтра подобны характеристикам фильтра на объемных резонаторах и содержат паразитные полосы пропускания. Частотная зависимость коэффициента передачи – K фильтра по фиг. 1 показана на фиг. 1-1, на частотах вблизи f=21 ГГц расположена рабочая полоса пропускания, на частотах выше 32 ГГц имеются паразитные полосы пропускания.

Для того чтобы обеспечить подавление паразитных полос пропускания выполняют металлизированные отверстия по внешним сторонам фильтра в виде двумерной структуры, обеспечивающей распространение электромагнитных волн на частотах паразитных полос пропускания с затуханием на частотах рабочей полосы пропускания фильтра. Анализ периодической двумерной структуры металлизированных отверстий привёл к зависимости критической частоты периодической структуры fкр [Гц] от диаметра металлизированных отверстий D [м] и шага структуры – a [м], приведённой на фиг.2, где ε – относительная диэлектрическая проницаемость подложки, μ – относительная магнитная проницаемость подложки, c – скорость света в вакууме [м/с]. На частотах f≤fкр происходит затухание электромагнитных волн в периодической структуре, а на частотах f≥fкр – распространение.

График прямой, аппроксимирующей зависимость критической частоты периодической структуры fкр [Гц] от диаметра металлизированных отверстий D [м] также приведён на фиг. 2. Приближённо данная зависимость выражается соотношением используя которую выбирают шаг металлизированных отверстий – a [м] и диаметр металлизированных отверстий – D [м] так, чтобы частоты в рабочей полосе пропускания фильтра fп были fп<fкр, а частоты паразитных полос пропускания fпар были fпар>fкр. В этом случае будет происходить затухание электромагнитных волн на частотах паразитных полос пропускания за счёт рассеяния в периодической структуре, в то время как на частотах рабочей полосы пропускания затухание из-за рассеяния на периодической структуре будет отсутствовать. На фиг. 3 приведён пример конструкции трёхрезонаторного фильтра при выборе . На фиг. 3-1 приведена частотная зависимость коэффициента передачи – К фильтра, рабочая полоса пропускания расположена на частотах вблизи f=20 ГГц. Сравнение зависимостей на фиг. 1-1 и фиг. 3-1 показывает, что у фильтра по фиг. 3 паразитные полосы пропускания подавлены.

Уменьшение соотношения D/a приведёт к расширению частотной области распространения, то есть к расширению области подавления паразитных полос пропускания. Следовательно, целесообразно уменьшать D/a и, соответственно, при заданном значении величины – a [м] уменьшать величину – D [м]. С другой стороны, увеличение толщины подложки – H [м] приводит к увеличению собственной добротности резонаторов СВЧ фильтра за счёт уменьшения вклада потерь в металле, поэтому целесообразно увеличивать значение толщины – H [м]. Одновременно, для улучшения электрических параметров выгодно уменьшать соотношение D/H, однако уменьшение соотношения D/H усложнит способ изготовления СВЧ фильтра. Основываясь на перечисленных выше выводах, принято, что размеры сквозного отверстия должны быть предпочтительно выбраны из соотношения , где D – диаметр [м], Н – толщина подложки [м].

Частотная характеристика фильтра в части увеличения подавления паразитных полос пропускания на требуемых частотах может быть скорректирована изменением геометрии двумерной структуры, а также введением слоев поглощающего материала с её внешних сторон. На фиг. 4 приведён вариант конструкции фильтра, в котором периодическая структура образована двумя рядами металлизированных отверстий. На фиг. 5 приведён вариант конструкции фильтра, в котором внешний ряд металлизированных отверстий имеет переменный шаг. На фиг. 6 приведён вариант конструкции СВЧ фильтра, в котором с внешних сторон структуры расположены слои поглощающего материала, выполненные в виде подложек на основе легированного кремния толщиной H [м] с двусторонней металлизацией плоскостей. Слои металлизации электрически соединены с соответствующими слоями металлизации собственно фильтра, обеспечивают поглощение электромагнитного поля, рассеянного на металлизированных отверстиях, и препятствуют появлению нежелательных отражений от внешних границ фильтра.

Изготовление СВЧ фильтра предложенной конструкции предусматривает формирование сквозных отверстий в подложке высокоомного кремния последовательным сухим травлением в три этапа. На первом этапе выполняют изотропное сухое травление с образованием фаски на границе «поверхность – отверстие» с размерами не более 0,3 диаметра отверстия. На втором этапе – сухое травление по Бошу с образованием отверстия, ортогонального поверхностям подложки. На третьем этапе – сухое травление по Бошу с эффектом нотчинга с образованием фаски с противоположной стороны подложки с размерами не более 0,3 диаметра отверстия. Сухое травление по Бошу с эффектом нотчинга с образованием фаски с противоположной стороны подложки проводят последовательно с контролем под микроскопом либо дифракционным методом in situ.

Сквозные отверстия формируют через контактную маску, например, маску алюминия. На противоположной стороне относительно маски перед сухим травлением формируют по растворной технологии полимерное плёнкообразующее покрытие толщиной не менее 3 мкм с модулем Юнга покрытия не менее 120 МПа. В качестве полимерного пленкообразующего покрытия используют полиимиды, кардовые полиимиды и/или полиэфиримиды, образующие после формирования сквозного отверстия свободную мембрану. Предложенная последовательность операций выбрана исходя из обеспечения наилучшей технологичности изготовления изделия.

После формирования сквозных отверстий описанным выше образом выполняют двустороннюю металлизацию. Двустороннюю металлизацию формируют на основе тонкой пленки золота и слоистой структуры из, по меньшей мере, двух переходных металлов IV периода периодической системы химических элементов. Предложено формировать двустороннюю металлизацию на основе структуры титан – медь – золото. При этом, возможно использовать между слоями меди и золота подслой никеля. Возможно формирование двусторонней металлизации на основе структуры хром – медь – золото. Толщина слоистой структуры составит не менее 2,5-3,5 мкм при толщине гальванически осажденного слоя золота не менее 2 мкм. Слоистую структуру из двух и более металлов формируют методом двустороннего магнетронного распыления и конденсации металлов в вакууме на поверхностях подложки и внутри отверстий. Итоговую толщину металлизации стенок отверстий, полученную методом двустороннего магнетронного распыления выбирают из соотношения , где h – толщина металлизации стенок отверстий [м], hп – толщина металлизации поверхностей [м]. Предложенная последовательность операций, также, выбрана исходя из обеспечения наилучшей технологичности изготовления изделия.

Далее методами фотолитографии – нанесением фоторезиста распылением (спреевое нанесение) формируют микрополосковые входную и выходную линии передачи. Излишки фоторезиста удаляют с обратной стороны подложки химико-механической обработкой. После формирования микрополосковых линий передачи методом селективного травления (например, в травителе алюминия) удаляют контактную металлическую маску и плёнкообразующее покрытие.

После резки подложки выполняют монтаж СВЧ фильтра на металлическое основание. Фильтр монтируют, по преимуществу, на коваровое основание методом вакуумной бесфлюсовой пайки или посадкой на токопроводящий клей (контактол). При этом, толщину контактола или припоя выбирают из оптимального соотношения , где hпр – толщина припоя или токопроводящего клея после монтажа [м], S – площадь кремниевого фильтра [м2], hпр.исх. – hпр.исх. – толщина припоя или токопроводящего клея до монтажа [м], D – диаметр отверстий [м], HSi – толщина кремниевой подложки [м], n – количество отверстий.

Похожие патенты RU2686486C1

название год авторы номер документа
Планарная СВЧ поглощающая структура и способ ее изготовления 2021
  • Жуков Андрей Александрович
  • Якухин Сергей Дмитриевич
  • Алимов Мидхат Вафинович
RU2781764C1
Многослойная коммутационная плата СВЧ-гибридной интегральной микросхемы космического назначения и способ её получения (варианты) 2019
  • Поймалин Владислав Эдуардович
  • Жуков Андрей Александрович
  • Калашников Антон Юрьевич
RU2715412C1
Способ изготовления микроэлектронного узла 2023
  • Жуков Андрей Александрович
  • Тигашова Ирина Михайловна
RU2804595C1
Способ изготовления сквозных металлизированных микроотверстий в кремниевой подложке 2016
  • Заботин Юрий Михайлович
  • Ануров Алексей Евгеньевич
  • Жуков Андрей Александрович
  • Подгородецкий Сергей Геннадьевич
RU2629926C1
Способ создания двустороннего топологического рисунка в металлизации на подложках со сквозными металлизированными микроотверстиями 2017
  • Жуков Андрей Александрович
  • Запетляев Валентин Михайлович
RU2671543C1
Коммутационная плата на нитриде алюминия для силовых и мощных СВЧ полупроводниковых устройств, монтируемая на основании корпуса прибора 2018
  • Смирнов Игорь Петрович
  • Тевяшов Александр Александрович
  • Корпухин Андрей Сергеевич
RU2696369C1
ПЕРЕСТРАИВАЕМЫЙ ГЕНЕРАТОР ШУМОВОГО СИГНАЛА 2022
  • Тарасов Михаил Александрович
  • Гунбина Александра Анатольевна
  • Фоминский Михаил Юрьевич
  • Чекушкин Артем Михайлович
RU2796347C1
Волновод с копланарно-волноводной согласующей линией передачи 2020
  • Сафронов Александр Николаевич
  • Корнилов Иван Сергеевич
RU2743070C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ СВЧ ПРИБОРОВ 2013
  • Блинов Геннадий Андреевич
  • Пелевин Константин Владимирович
RU2546856C2
СВЧ-вентиль на основе интегрированного в подложку волновода 2023
  • Демшевский Валерий Витальевич
  • Богачев Игорь Алексеевич
  • Сикорская Ирина Александровна
  • Левашов Михаил Сергеевич
  • Пашков Алексей Николаевич
RU2809942C1

Иллюстрации к изобретению RU 2 686 486 C1

Реферат патента 2019 года СВЧ фильтр на основе интегрированного в подложку волновода и способ его изготовления

Использование: для создания СВЧ фильтров. Сущность изобретения заключается в том, что СВЧ фильтр на основе интегрированного в подложку волновода, образованный цепочкой связанных резонаторов, конструкция которого состоит из следующих составных частей: металлического основания, подложки на основе высокоомного монокристаллического кремния с двусторонней металлизацией плоскостей, в которой выполнены сквозные металлизированные отверстия, электрически объединяющие металлизацию и задающие зоны объемных резонаторов фильтра, интегрированного в подложку волновода, сформированного подложкой высокоомного кремния, двусторонней металлизации, входной и выходной линий передачи, характеризуется тем, что сквозные металлизированные отверстия по внешним сторонам фильтра образуют двумерную структуру, параметры которой выбираются из определенных условий. Технический результат: обеспечение возможности повышения точности изготовления. 2 н. и 17 з.п. ф-лы, 9 ил.

Формула изобретения RU 2 686 486 C1

1. СВЧ фильтр на основе интегрированного в подложку волновода, образованный цепочкой связанных резонаторов, конструкция которого состоит из следующих составных частей:

металлического основания,

подложки на основе высокоомного монокристаллического кремния с двусторонней металлизацией плоскостей, в которой выполнены

сквозные металлизированные отверстия, электрически объединяющие металлизацию и задающие зоны объемных резонаторов фильтра,

интегрированного в подложку волновода, сформированного подложкой высокоомного кремния,

двусторонней металлизации,

входной и выходной линий передачи, характеризующийся тем, что сквозные металлизированные отверстия по внешним сторонам фильтра образуют двумерную структуру, параметры которой выбираются из условия

fп < fкр, и fпар > fкр, в котором

fп - частота [Гц] в полосе пропускания фильтра,

fпар - частота [Гц] в паразитных полосах пропускания, а

fкр - частота [Гц] из соотношения где

а - шаг структуры [м],

D - диаметр [м] металлизированных отверстий,

ε - относительная диэлектрическая проницаемость подложки,

μ - относительная магнитная проницаемость подложки,

с - скорость света в вакууме [м/с].

2. СВЧ фильтр по п. 1, характеризующийся тем, что размеры сквозных металлизированных отверстий выбраны из соотношения D/H≥0,35, где D - диаметр отверстия [м], Н - толщина подложки [м].

3. СВЧ фильтр по п. 1, характеризующийся тем, что с внешней стороны двумерной структуры расположены слои поглощающего материала, выполненные, например, в виде подложек на основе легированного кремния толщиной Н [м] с двусторонней металлизацией плоскостей, причем

слои металлизации электрически соединены с соответствующими слоями металлизации собственно фильтра.

4. Способ изготовления СВЧ фильтра, предусматривающий формирование сквозных отверстий в подложке высокоомного кремния методом сухого травления,

двустороннюю металлизацию,

формирование входной и выходной линий передачи методами фотолитографии и

монтаж на металлическое основание после резки подложки, характеризующийся тем, что сухое травление проводят в три этапа:

сухое травление изотропное с образованием фаски на границе «поверхность - отверстие» с размерами не более 0,3 диаметра отверстия,

сухое травление по Бошу с образованием отверстия, ортогонального поверхностям подложки, и

сухое травление по Бошу с эффектом нотчинга с образованием фаски с противоположной стороны подложки с размерами не более 0,3 диаметра отверстия.

5. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 4, характеризующийся тем, что

формирование сквозных отверстий выполняют через контактную металлическую маску,

после формирования сквозных отверстий контактную металлическую маску удаляют методом селективного травления.

6. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 4, характеризующийся тем, что на противоположной стороне относительно маски перед сухим травлением

формируют по растворной технологии полимерное пленкообразующее покрытие толщиной не менее 3 мкм с модулем Юнга покрытия не менее 120 МПа,

после формирования сквозных отверстий пленкообразующее покрытие удаляют методом селективного травления.

7. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 6, характеризующийся тем, что в качестве полимерного пленкообразующего покрытия используют полиимиды, кардовые полиимиды и/или полиэфиримиды, образующие после формирования сквозного отверстия свободную мембрану.

8. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 4, характеризующийся тем, что сухое травление по Бошу с эффектом нотчинга с образованием фаски с противоположной стороны подложки проводят последовательно с контролем под микроскопом либо дифракционным методом in situ.

9. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 4, характеризующийся тем, что двустороннюю металлизацию формируют на основе тонкой пленки золота и слоистой структуры из по меньшей мере двух переходных металлов IV периода периодической системы химических элементов.

10. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 9, характеризующийся тем, что толщина гальванически осажденного слоя золота составляет не менее 2 мкм.

11. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 9, характеризующийся тем, что толщина слоистой структуры составляет не менее 2,5-3,5 мкм.

12. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 9, характеризующийся тем, что слоистую структуру формируют методом двустороннего магнетронного распыления и конденсации металлов в вакууме на поверхностях подложки и внутри отверстий.

13. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 12, характеризующийся тем, что толщина металлизации внутри отверстий, полученной методом двустороннего магнетронного распыления, выбирается из соотношения

hст ≥ 0,5hп, где hст - толщина металлизации внутри отверстий [м],

hп - толщина металлизации поверхностей [м].

14. Способ изготовления СВЧ фильтра по любому из пп. 9-13, характеризующийся тем, что двустороннюю металлизацию формируют на основе структуры титан - медь - золото с возможным использованием подслоя никеля между слоями меди и золота.

15. Способ изготовления СВЧ фильтра по любому из пп. 9-13, характеризующийся тем, что двустороннюю металлизацию формируют на основе структуры хром - медь - золото.

16. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 4, характеризующийся тем, что при формировании входной и выходной линий передачи методами фотолитографии фоторезист наносят способом распыления.

17. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 4, характеризующийся тем, что фильтр монтируют на металлическое основание методом вакуумной бесфлюсовой пайки или посадкой на токопроводящий клей.

18. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 17, характеризующийся тем, что фильтр монтируют на металлическое основание.

19. Способ изготовления СВЧ фильтра по п. 17, характеризующийся тем, что толщина токопроводящего клея или припоя выбирается из соотношения hпр ≤ (S⋅hпр.исх - πD2/4⋅HSi⋅n)/S, где hпр - толщина припоя или токопроводящего клея после монтажа [м], S - площадь фильтра [м2], hпр.исх - толщина припоя или токопроводящего клея до монтажа [м], D - диаметр отверстий [м], HSi - толщина кремниевой подложки [м], n - количество отверстий.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2019 года RU2686486C1

Травитель для выявления макро- и микроструктуры жаропрочных сталей и сплавов 1948
  • Васильев К.Н.
SU115965A1
CN 202019043 U, 26.10.2011
CN 107394323 A, 24.11.2017
US 6943650 B2, 13.09.2005
Zhu Jian, Yu Yuanwei, Zhang Yong, Chen Chen, Jia ShiXing, A HIGH-Q MICROWAVE MEMS RESONATOR, EDA Publishing, DTIP, Italy, 25-27 April 2007.

RU 2 686 486 C1

Авторы

Жуков Андрей Александрович

Алимов Мидхат Вафинович

Якухин Сергей Дмитриевич

Крылов Георгий Сергеевич

Даты

2019-04-29Публикация

2018-04-25Подача