Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа Советский патент 1983 года по МПК G01N23/207 

Описание патента на изобретение SU1010527A1

Изобретение относится к рентгеноструктурному анализу и может быть использовано для исследования быстропрот,екающих процессов, например фазовых превращений при скоростной электротермической обработке сталей и сплавов.. . Известно устройство для рентгено структурного анализа, содержащее источник рентгеновского излучения, образец и детектор излучения с ус- тановленной перед ним неподвижной щелью. . Распределение интенсивности дифрагированного излучения в этом уст ройстве регистрируется последовательно при перемещении детектора с установленной перед ним не подвижной щелью TI. Однако скорость перемещения детектора со щелью в устройстве неболЁшая и составляет 16 град/мин, вследствие чего оно непригодно для исследования быстропротекающих процессов . Наиболее близким по технической сущности к изобретению является уст ройство для высокоскоростного рент:геноструктурного анализа, содержаще установленные на фокусирующей окруж ности источник рентгеновских лучей, держатель образца, подвижную щелевую диафрагму и установленный за ней детектор излучения и систему регистрации f2 . Однако известное устройство имеет неравномерную скорость перемещения щелевой диафрагмы из-за несовершенства рычажно-кулачкового механизма. Кроме того, при одновременной регистрации нескольких дифракцио.нных линий требуется такое же количество щелевых диафрагм и ры чагов для их перемещения, что услож няет и делает более тяжелым, а следовательно, более инерционным рычаж кулачковый механизм, который не позволяет перемещать щелевую диафрагму с равномерной скоростью, достаточной, для получения временного разрешения менее 0,03 с. Указанный, недостаток CHnkasT точ ность определения пространственновременного положения дифракционной ЛИНИИ, распределение интенсивности ней и, следовательно, точность исследований быстропротекающих процессов . Цель изобретения - повышение точ ности исследований быстропротекакяци процессов. Цель достигается тем, что в устрой стве для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа, содержащем уст новленные на фокусирующей окружности источник рентгеновских лучей, держат образца, подвижную щелевую диафрагму установленный за ней детектор излуче ния и регистрирующую систему, щелевая диафрагма выполнена в виде замкнутой ленты с поперечными прорезями, изогнутой по контуру фокусирующей окружности и снабжена механизмом ее поступательного шагового перемещения, причем расстояние между прорезями равно линейному размеру входного окна детектора. На чертеже показана схема предлагаемого устройства. Устройство содержит источник 1 рентгеновского излучения, исследуемый образец 2, щелевую диафрагму в форме ленты 3 со щелями, детектор 4 излучения, механизм 5 многократного перемещения ленты и регистрирующее устройство 6. Источник 1 рентгеновского излучения, исследуемая поверхность образца 2, щелевая диафрагма в .форме ленты 3 со щелями расположены на фокусирующей окружности, а детектор 4 излучения находится за лентой 3 со щелями. Механизм 5 многократного перемещения ленты 3 со щелями представляет собой лентопротяжный механизм, широко применяемый в технике магнитной записи. Регистрирующее устройство б состоит из линейного широкополосного усилителя, амплитудного дифференциального дискриминатора и запоминающего устройства (не показаны) . Устройство работает следующим образом. Источник 1 рентгеновского излучения облучает исследуемую поверхность образца 2, возникающие дифракционные линии попадают в разные точки фокусирукяцей окружности, на которой расположена Лента 3 со щелями. При движении этой ленты 3 с помощью механизма 5 ее щели равномерно пробегают по всем дифракционным линиям, а детектор 4 излучения преобразует необходимую дифракционную линию в электрические сигналы, которые регистрируютсд устройством б регистрации.: .В случае регистрации нескольких дифракционных линий устанавливается такое же количество детекторов излучения и устройство регистрации. Временное разрешение рентгеновской съемки.определяется скоростью перемещения ленты и расстоянием между щелями,равным линейному размеру окна рентгеночувствительного элемента детектора излучения. Расстояние между щелями выбрано таким для того, чтобы избежать набегания двух: щелей на поверхность рентгеночувствительного элемента детектора 4 излучения. Механизм 5 многократного перемещения ленты со щелями обеспечивает

Э010527

равномерную скорость перемещения с 0,001 с), что в двою очередь повыминимальнш отклонением от 0,05 до « :шает точность определения пространст1%, ,венно-временного положения дифрак- ,

Благодаря выполнению щелевой диаф- :циоиной линии и исследований бысхрорагмыб форме ленты со щелями, снаб- протекающих процессов, женной механизмом многократного пе-

ремещения этой ленты с равномерной Использование, предлагаетлого устскоростью по фокусирующей окружное- ройства позволяет изучать фазовые .ти, улучшено по сравнению с извест- ; превращения при скоростном электроHfcw устройством временное разреше- нагреве и тем самым усовершенствоние при регистрации дифракционных 0 вать теря ообработку сталей и сплалиний более, чем на порядок (до. . BOB.

Похожие патенты SU1010527A1

название год авторы номер документа
Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа 1978
  • Бурдин Владимир Викторович
  • Свинаков Василий Максимович
  • Карпов Роман Романович
  • Скворчук Василий Пахомович
SU763750A1
Устройство для рентгеноструктурного анализа (его варианты) 1981
  • Блудилин Евгений Николаевич
  • Гриднев Виталий Никифорович
  • Гуревич Майор Ефимович
  • Журавлев Борис Фомич
  • Лариков Леонид Никандрович
  • Минаков Вениамин Николаевич
  • Трефилов Виктор Иванович
SU1035488A1
Установка для дифракционных исследований биологических объектов 1985
  • Корнеев Владимир Николаевич
  • Сергиенко Петр Михайлович
  • Шамаров Альвиан Матвеевич
SU1245970A1
Способ рентгеноструктурного анализа поверхности изделий 1989
  • Кошелев Вячеслав Евгеньевич
  • Посысаева Людмила Владимировна
SU1793343A1
Рентгеновский дифрактометр по схеме Гинье для исследования поликристаллических материалов 1984
  • Беляевская Елена Анатольевна
  • Ингал Виктор Натанович
  • Комяк Николай Иванович
  • Мясников Юрий Гиларьевич
SU1245966A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ СОВЕРШЕНСТВА СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ СЛОЕВ 2007
  • Зельцер Игорь Аркадьевич
  • Кукушкин Сергей Александрович
  • Моос Евгений Николаевич
RU2370758C2
УСТАНОВКА ДЛЯ ТОПО-ТОМОГРАФИЧЕСКИХ ИССЛЕДОВАНИЙ ОБРАЗЦОВ 2017
  • Асадчиков Виктор Евгеньевич
  • Бузмаков Алексей Владимирович
  • Дымшиц Юрий Меерович
  • Золотов Денис Александрович
  • Шишков Владимир Анатольевич
RU2674584C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ МАЛОУГЛОВОЙ ТОПОГРАФИИ (ВАРИАНТЫ) 1997
  • Комардин О.В.(Ru)
  • Альберт Ф. Лоуренс
  • Лазарев П.И.(Ru)
RU2119659C1
СПОСОБ ТОМОГРАФИЧЕСКОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МИКРОСКОПИЧЕСКИХ ОБЪЕКТОВ И СКАНИРУЮЩИЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2009
  • Юдаков Михаил Александрович
  • Волков Юрий Петрович
  • Мантуров Алексей Олегович
RU2413204C2
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕНТГЕНОФЛУОРЕСЦЕНТНОГО АНАЛИЗА МАТЕРИАЛОВ С ФОРМИРОВАНИЕМ ПОТОКА ВОЗБУЖДЕНИЯ ПЛОСКИМ РЕНТГЕНОВСКИМ ВОЛНОВОДОМ-РЕЗОНАТОРОМ 2014
  • Егоров Владимир Константинович
  • Лукьянченко Евгений Матвеевич
  • Руденко Вячеслав Николаевич
  • Егоров Евгений Владимирович
RU2555191C1

Реферат патента 1983 года Устройство для высокоскоростного рентгеноструктурного анализа

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ВЫСОКОСКОРОСТНОГО РЕНТГЕНОСТРУКТУРНОГО АНАЛИЗА, содержащее установленные на фокусирующей окружности источник рентге.новских лучей, держатель образца, подвижную щелевую диафрагму и установленный за ней.детектор излучения с входным окном и регистрирующую систему, отличающеес я тем, что, ,с целью повышения точHOu ft исследования быстропротекающих процессов, щелевая диафрагма выполнена в виде замкнутой ленты с поперечными прорезями, изогнутой по контуру фокусирующей окружности, и снабжена механизмом ее поступатель,, ного шагового перемещения, причем расстояние между прорезями равно, линейному размеру входного окна детектора. СО ел to vj

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1983 года SU1010527A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Хейкер Д.М
и Зевин Л.С.
Рентгеновская дифрактометрия
.М., Физматгиз, 1963, с.63-66
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Финкель В.А.ВысокотемператУР ная рентге нография
М., Металлур- .
гия, 1968/ с.80-81 (прототип)

SU 1 010 527 A1

Авторы

Петьков Валерий Васильевич

Карпов Роман Романович

Вовк Ярослав Николаевич

Подорожный Владимир Петрович

Даты

1983-04-07Публикация

1982-01-28Подача