Способ анализа веществ Советский патент 1956 года по МПК G01N23/207 G01N33/20 

Предметов изобретеипя способ анали;;.; вепсств, с целью ииредсле) содержания различных элсмеитов, и частност1. вольфрама в иыстрорс кущс) стали.

Предлагаемый оп.Сио явлиется более совершенЕ ым ло сравнению с изпестныMi способами нодоГнгого рода, та;; как он обеснечиваст значительное ускиренш иро.цесса оиреде.тения различных элементов, например, вольфрама, в iii)iicyTCTi iii н Кото 1ых других элементов, наипн..И ). тнтана.

Уто достигается благодаря тпму, что ирн анализе нсследуемык образец нодвергаетси бомбарднров ;е зарл-.л-ннымц «.цлп J-частицам и по интенсивности потока отраженных от образца частиц онределяют процентное содер.канне тех или иных элементов в ве цест1:е.

В основу предлагаемого снособа иолмжено псиользоваиие pa3i;iiii стенени р; есеивания 1азлнчными элементами нотпка заря ,1;е11ных частиц.

Применяя для облучени; образца различные тнны част1 ц (3, у-частицы и т. и.) с 1а:-;личнон максимальной унс)rueif, ложно исследовать указаннылг снособом состав иоверхЕюстных с.шев вещества различных ТОЛ1ДИН, внлоть до моиомолекул111)ных. HJIH этом мол;но нсиользовать образцы любого размера и измерять только ноток отраженных частиц, окранируи основное из.гученне. Как показали )еследопан1гя с нрнмененнем -частиц, интенсивность нх обратного )ассенваиня i:,,,,„,, зависит от- иорядкового номера элемента п определяется следу1о;цеГ формулой:

- 4 7

к, п 41II - -

где: ,,,,/,- lorreiicHBHOCTb потока отраженных электронов в ми./м:1 1.:

А -постоянпыи коэффициент; Z - порядковый номе) элемс та в таблнце Д. It. Менделеева.

Upit облучении образцов, изготовленных пз мате))иалов с различным содеря;аннем 1;сс.тедуемого элемента, значительна отличающегося ио по 1;|дково 1у иомеру от основного вeп ecтвa, интенсивность нотока отрал;рнных частиц будет зависеть от процентного содержания итого элемента. Существенны пнте)ес дл1( практики представляет аналнз следующих элементов: во.гьФрама в сталн и титане, и молибдена в титане, берилия в .меди,, бора в i|jeppo6ope п др. Химическнй ака.шз ciMe i;i;aHn; ятих :-,:;ментов в ука.мШНых металлах п силаг.ах Н1);дставляет большие труднисти.

Предлагаемый сиисоб мол;ет быть о уигествлен прн нсно.и.зиванин раз.тичных ycT ioiicTB, HaHjjiiMe), Гирцсвого счетчика Гепге11а-Ми ллера, ион1 зац1гониой | т. и. Наиболее целееооб|)азиым будет нр1гменен1е ионнзационной каме)ы, к торая обеепечит неноередственное cpai.ненпе исследуемото образца с эта.лоно( н фнксацню содержания он|)еделяемогп элемента, напрнмер, вольфра а в быстр режущен сталн с иомо1цыо измерителышго прибора. П ) с д м с т и 3 о б р с т с н н я Снособ анализа всщсстп. нанрпмср, 6biCTpopc;i;y neii clvi.nt на содержанне вольфрама, о т л и ч а о щ и it с я тем, что исследуемый образец вещества облучают потоком заряженных, например, я- или -/-частиц и но измеренной интенсивности отраженного от образца излучения оиределяют процентное содержанне требуемоIo элемента в веществе.