Изобретение относится к автоионной микроскопии и предназначено для анализа атомной структуры металлических образцов. Известен автоионный микроскоп, состоящий из вакуумной камеры, флуо ресцирующего экрана, игольчатого об разца, систем напуска изображающего газа и охлаждения образца. Конструк ция микроскопа позволяет работать при пониженном давлении изображающего газа, а также использовать в нем, в качестве изображающих, газы с малой эффективностью возбуждения свечения люминофора ly : Наиболее близким к предлагаемому является автоионный микроскоп, cot держащий внутри вакуумной камеры игольчатый образец, флуоресцирующий экран, системы напуска изображающег газа и охлаждения образца. Недостатком таких автоионных мик роскопов является низкий положитель ный выход обеспечиваемого им микрос копического анализа металлических образцов, т.е. низкий процент иссле дуемых образцов, для -которых удаетс получить удовлетворительные микроизображения атомной структуры поверх ности (например, для образцов из тугоплавких металлов он составляет около 50%) . Это связано о отсутствием в автоионных микроскопах.активного воздействия на структуру промежуточного слоя атомов и молекул изображающего газа, адсорбированных на поверхности образца. Цель изобретения - повышение выхода микроскопического анализа./ Указанная цель достигается тем, что автоионный микроскоп, содержащий внутри вакуумной камеры игольчатый образец, флуоресцирующий экран, системы напуска изображающего газа и охлаждения образца, снабжен дополнительной системой импульсной стимуляции газового разряда, выполненной в виде осесимметричного электрода, размещенного между образцом и экраном и снабженного механизмом перемещения в перпендикулярной оптической оси направлении. . На фиг. 1 показана конструктивная схема предлагаемого микроскопа, на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1 (схема электрода системы стш уляции) f , Автоионный микроскоп включает игольчатый образец 1, установленныйв керамическом держателе 2 и свединеннай с вводами 3 высокого напряжения в изоляторах 4. Вакуумная камера 5 имеет фланец 6, соеданенный со средствами откачки и системой напуска изображающего газа. Дополнительная система стимуляции газового разряда образована осесимметричным электродом 7, выполненным, например в виде сетки и соединенным с механйз мом перемещения, который может включать рычаг 8, связанный с подвижным сердечником 9 электромагнитной катушки 10. Злектрод 7 установлен соосно с игольчатым образцом 1 и узлом экрана 11, снабженного микроканальной пластиной 12 имеет контакт 13 и закреплен в керамической шайбе 14, которая может служить опорой также для дополнительного термокатода 15. Шайба 14 имеет упор 16, контактирующий с рычагом 8, и приливы с отверстиями, ъ КОТОРЫХ проходят направляющие 17. Система охлаждения образца содержит криогенный сосуд 18, свя- занный в тепловом отношении с керамическим держателем 2 образца 1. Устройство работает следукадим образом. В основу конструктивных особенностей автоионн.ого- микроскопа положена идея реализации способа исследования образцов, предполагающая создание в области образца кратковременного газового разряда с одновременным, импульсным удалением (десорбцией и испарением) полем пленки изобргикающего газа и части поверхностных атомов исследуемого материала. Достигается это периодическим введением в пространство между образцом 1 и микроканальной пластиной 12, служащей усилителем яркости формируемого на экране 11 автоионного изображения, системы импульсной стимуляции газового разряда в данном, случае металлокерамического узла: керамической шайбы 14 с термокатодом 15 и электрода 7. Движение указанного узла фиксируется двумя вертикальными направляющими 17. Его верхнее положение реализируется при включенной катушке 10, когда сердеч|ник 9 переводит рычаг 8 в положение, показанное на фиг. 1..При выключе НИИ питания катушки пружина возвраи;а ет рычаг в положение/ показанное на фиг. 1 штриховыми ЛИНИЯМИ, и металлокерамйческий узел, выходит -., . из пространства образец - экран. При работе микроскопа с помсяцью схем автоматического питания и управления ocyщecтвJ lяютcя следующие рабочие Режимы. Сначала на экране 11 микроскопа олучают исходное автоионяое изобраение поверхности образца и фиксирут его кинокамерой. Если его вид вляется иеуловлетворительньм, то ключается питание катушки 10 и, дновременно, нака.п термокатода 15 подачей запирающего потенциала на лёктрод 7. Затем с небольшшл вре-г енньв сдвигом подается отпирсцмций мпульс на электрод 7 и испаряющий мпульс т на образец 1. В результате
в пространстве образец-электрод ини-1 цируется газовый разряд и происходит удаление части пленки изображающего газа и материала самого образца. После этого питание катушки 10 отключается и металлокерамический узел выходит из пространству образецэкран. При этом постоянно осуществляется визуальный контроль качества изображения. Если оно недостаточное, ) то стимуляция газового разряда повто ряется, причём амплитуда отпирающего и испаряющего импульсов увеличиваются на заданную величину. Повторение осуществляется до тех пор, пока не. получится качественное автоионное изо6р1ажение. Полученное изображение фотографируется и производится испарякицимй импульсами одинаковой ..:«. амплитуды) переход к новой поверхности (новому сечению) образца. Микроскопический анализ новой поверхности требует более высокого потенциала на образце для соблюдения условия максимума вероятности автоионезации изображающего газа у по- верхности образца. Если полученное изображение снова оказывается недостаточно качественным, то включаетря
дополнительная система стимуляции разряда и описанный процесс повторяется.
Экспериментально установлено, что необходимым условием эффективности работы микроскопа является размещение электрода 7 на расстоянии 2 5 мм от образца..
В случае превышения верхнего предела, снижается вероятность инициирования газового разряда при оптималь ном поджигающем токе электронов, равным vi,- 3 А, тогда как при рас-5т стоянии, меньшем указанного нижнего предела, газовый пробой приводит к заметному разрушению образца.
- Прибор весьма удобен в работе, его использование резко увеличивает полезный выход анализа, например для образцов из тугоплавких металлов он доведен до 95%, для образцов из металлов, характеризующихся средними температурами плавления до 40%.
Повышение полезного в лхода микроскопического анализа для образцов обеспечивает повышение производительности труда, так как существенно сокргидается время эксперименто1з.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ исследования образцов в автоионном микроскопе | 1980 |
|
SU852101A1 |
Способ автоионно-микроскопического исследования металлов | 1981 |
|
SU1012667A1 |
Автоионный микроскоп | 1984 |
|
SU1186021A1 |
Способ определения коэффициента диффузии газа в твердых телах | 1976 |
|
SU714240A1 |
Автоионный микроскоп | 1978 |
|
SU750611A1 |
СПОСОБ ИНДЕНТИФИКАЦИИ ОТДЕЛЬНЫХ МОЛЕКУЛ НА ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДОГО ТЕЛА | 1993 |
|
RU2114415C1 |
СПОСОБ ЭЛЕКТРОПОЛИРОВКИ МЕТАЛЛОВ В ГАЗОВОЙ СРЕДЕ | 2003 |
|
RU2252273C2 |
ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКОЕ ДИФРАКТОМЕТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО | 1997 |
|
RU2131629C1 |
Автоэлектронный микроскоп-анализатор | 1982 |
|
SU1047330A1 |
ВРЕМЯПРОЛЕТНЫЙ АТОМНЫЙ ЗОНД С КОМПЕНСАЦИЕЙ РАЗБРОСА КИНЕТИЧЕСКИХ ЭНЕРГИЙ ИОНОВ | 1988 |
|
SU1713385A1 |
АВТОИОйНЫЙ МИКРСГСКОП, содержащий внутри вакуумнрй камеры игольчатый образец,флуоресцирующий экран, системы напуска изображающего газа и охлаждения образца, о т л ичающийс я тем, что, с целью повышения выхода микроск-опического анализа, он снабжен дополнительной системой импу ьхгной стимуляции газового разряда, выполненной в 19иде осесимметричного электрода, размещенного между образцом и экраном и снабженного механизмом перемефйьения в перпендикулярном оптической оси направлении
f(-A
В
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
lane .MyWe t.,N«HiKowiO | |||
.FieH-iw microscope wiih on e kle «ciC iwoo-e inter si tiet- | |||
Разборный с внутренней печью кипятильник | 1922 |
|
SU9A1 |
Бобков А.Ф | |||
Автоионный микроскоп | |||
Чугунный экономайзер с вертикально-расположенными трубами с поперечными ребрами | 1911 |
|
SU1978A1 |
Видоизменение прибора для получения стереоскопических впечатлений от двух изображений различного масштаба | 1919 |
|
SU54A1 |
Авторы
Даты
1983-10-15—Публикация
1982-05-19—Подача