Голографический способ дефектоскопии Советский патент 1984 года по МПК G01B9/25 

Изобретение относится к дефектоскопии и может быть использовано для обнаружения трещин и других дефектов в изделиях машиностроения, электронной и радиотехнической промышленности. Известен способ дефектоскопии на основе метода двухэкспозиционной интерферометрии, включающий освещение объекта когерентным излучением и регистрацию двух голограмм при различном уровне воздействия на объект внешних факторов 1. Однако эффективность обнаружения дефектов методами голографической интерферометрии, их чувствительность и разрешающая способность непосредственно зависят от выбранных направлений векторов освещения и наблюдения контролируемой детали, т.е. от выбранной оптической схемы интерферометра и не могут быть изменены в процессе исследования. Наиболее близким по технической сущности к предложенному является гологра-JQ фический способ дефектоскопии, заключающийся в том, что плоскую волну когерентного излучения фокусируют линзой, формируют точечный источник света при помощи точечной диафрагмы, освещают объект, регистрируют его голограмму, нагружают25 объект, изменяют положение точечного источника путем перемещения диаграммы в направлении, перпендикулярном оптической оси линзы, и регистрируют вторую голограмму. Этим обеспечивается изменение направления вектора освещения контролируе-.30 мой детали в процессе дефектации, а следовательно, и чувствительности голографического интерферометра и приводит к увеличению разрешающей способности данного способа по сравнению с известными. Действительно, чувствительность S интерферометра к деформационным смещениям может быть выражена как S й| 51пв COS«, где N - порядковый номер интерференционной полосы, проходящей через точку поверхности, переместившуюся при наг)ужении в . направлении вектора d на величину ld|; Я-длина волны используемого источника когерентного излучения;д, в - угол между вектооами освещения J , . ... ki, и наблюдения ka;.. ot -угол между вектором смещения d и вектором разности К векторов освещения и наблюдения {К (k, - kz). Недостатком известного способа является то, что величина линейных перемещений X точечной диафрагмы, имеющей отверстие диаметром от 5 до 30 мк, не может быть больше диаметра дифракционного пятна 55 в фокальной плоскости линзы, т,.е. больше десятых-сотых долей миллиметра. В силу этого резко ограничивается диапазон возможг0ных изменении углов освещения контролируемой детали, а следовательно, и возможность увеличения разрешающей способности метода при обнаружении дефектов. Кроме того, в силу гауссова распределения интенсивности света I в указанном диафракционном пятне при перемещении точечной диафрагмы происходит резкое падение интенсивности предметного светового пучка от 1тпаж ДО 1х- Это вызывает соответствующее падение контраста наблюдаемых интерференционных полос, что существенно уменьщает видность аномальных нарушений интерференционной картины в зоне дефекта и, как следствие, дополнительно снижает разрещающую способность метода, а также может послужить причиной пропуска имеющихся дефектов. Цель изобретения - повыщение разрещающей способности способа. Поставленная цель достигается тем, что согласно известному голографическому способу дефектоскопии, заключающемуся в том, что плоскую волну когерентного излучения фокусируют линзой, формируют точечный источник света при помощи точечной диафрагмы, освещают объект, регистрируют его голограмму, нагружают объект, изменяют положение точечного источника путем перемещения диафрагмы в направлении, перпендикулярном оптической оси линзы, и регистрируют вторую голограмму, при изменении положения точечного источника перемещают линзу синхронно с диафрагмой, На фиг. 1 изображена схема, реализующая способ; на фиг. 2 - схема, объясняющая механизм влияния изменения положения освещающего источника , на чувствительность и разрещающую способность . Устройство, реализующее способ, включает линзу 1, диафрагму 2, исследуемый объект 3. Величина линейных перемещений источ« «a определяется геометрическими размерами самой линзы (осветителя), расположенной в предметном пучке. Это обеспечивает существенное расширение диапазона изменения углов освещения контролируе - следствие, увеличение разрещающеи способности. Кроме того, при синхронном перемещении центр точечной диафрагмы постоянно совпадает с фокусом линзы. Благодаря этому точечная диафрагма- всегда пропускает максимальный световой поток, а интенсивность предметного пучка остается неизменной незивисимо от величины перемещения. Это позволяет сохранить заданный контраст интерференционных полос во всем диапазоне изменения углов освещения поверхности 1 нтролируемой детали, повышает видность аномальных нарушений интерференционной картины и тем самым обеспечивает увеличение достоверности контроля. Как видно из фиг. 2

ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ СПОСОБ ДЕФЕКТОСКОПИИ, заключающийся в том, что плоскую волну когерентного излучения , фокусируют линзой, формируют точечный источник света помощи точечной диафрагмы, освещают объект, регистрируют его голограмму, нагружают объект, изменяют положение точечного источника путем перемещения диафрагмы в направлении, перпендикулярном оптической оси линзы, и регистрируют вторую голограмму, отличающийся тем, что, с целвю повышения разрешающей способности способа, при изменении положения точечного источника перемещают линзу синхронно с диафрагмой. с « (Л оо ел О5 О5