Способ голографического неразрушающего контроля механических дефектов Советский патент 1984 года по МПК G01B9/21 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для обнаружения механических дефектов в элементах конструкций . Известен способ дефектоскопии, состоящий в том, что о наличии дефектов и местах их расположения су дят по картине, получаемой при совмещении голографической интерферограммы тестируемого объекта с ег фотографией, выполненно й в инфракрасном свете 1. Недостатком указанного способа является значительная сложность ег практической реализации. Кроме тог при одновременной регистрации голо графической интерферограммы и инфракрасной фотографии последнюю уд ется получать в качественном виде только для термостабильных материа лов. Наиболее близким по технической сути к предлагаемому является способ голографи.ч ского неразрущающего контроля механических д.фектов, состоящий в том, что получают голо графические интерферограммы эталон ного и тестируемого объектов при идентичных условиях внешнего воздействия и находят места отличий и терферограмм, соответствующие местам расположения дефектов 2. Недостаток известного способа состоит в том, что он позволяет об наружить в тестируемом образце тол ко наиболее грубые механические де фекты по причине, которую можно уяснить на примере двухэкспозидион ных интерферограмм. В том случае картина интерференционных полос на интерферограмме тестируемого объекта описывается уравнением J N 5 J - О сумма ортов направлений наблюдения и освещения поля перемещений эталонного и тестируемого объе тов соответственно; длина световой волны; порядок интерференционных полос. ф1я технологических дефектов поля U и Uj отличаются мало (не более, чем на 10-15%). Причем из сравнения интерферограмм могут быть обнаружены только наиболее сильные механические дефекты, вызывающие в тестируемом объекте значительную концент рацию деформаций (Кц 2, где коэффициент концентрации деформаций) и изменение поля перемещений больше, чем 5-10%. Только такие дефекты заметным образом изменяют интерферограмму тестируемого объекта по сравнению с интерферограь1мой эталона. Более слабые дефекты, вызывающие меньшую концентрацию деформаций (К ц 4 1,5-2), недостаточно изменяют интерферограмму тестируемого объекта и поэтому не могут быть обнаружены указанным способом. Цель изобретения - повышение точности обнаружения и локализации дефектов, не обнаруженных при сравнении интерферограмм, путем выделения из интерферограммы тестируемого Л объекта информации о поле перемещений, связанной только с дефект и. 5 казанная цель достигается тем, что согласно способу, состоящему в том, что получают голографические интерферограммы эталонного и тестируемого объектов при идентичных условиях внешнего воздействия и находят места отличий интepфepoгpaм 1, соответствующие местам расположения дефектов, дополните.ьно получают две муаровые картины,одну из которых образуют путем наложения указанных интерферограмм с совмещением Контуров эталонного и тестируемого объектов, на ней находят области, охватываемые замкнутыми муаровыми полосами, и места пересечения муаровых полос, соответствующие местам расположения дефектов, другую муаровую картину образуют путем наложения со сдвигом двух дублей интерферограммы тестируемого объекта, на ней находят места возникновения новых муаровых полос в процессе плавного увеличения сдвига, соответствующие местам расположения дефектов, и по полученным данным судят оналичии и местах расположения механических дефектов в тестируемом объекте. На чертеже приведена структурная схема одного из возможных устройств, реализующих предлагаемый способ. Устройство состоит из голографического интерферометра 1, устройства 2 восстановления голограмм и получения интерферограмм, приспособления 3 для получения муаровой картины путем наложения интерферограмм эталонного и тестируемого объектов, приспособления 4 для получения муаровой картины путем плавного сдвига двух дублей интерферограммы тестируемого объекта. Голографический интерферометр 1 состоит из лазера, светоделителя, двух зеркал, двух микрообъективов и .штатива для закрепления фотопластинок . Устройство 2 .восстановления го лограмм и получения интерферограмм, состоит из лазера, коллиматора, штатива для укрепления фототехнических пленок. Приспособления 3 и 4 для получения муаровых картин состоят из двух рамок, в которые укрепляются интер

СПОСОБ ГОЛОГРАФИЧЕСКОГО НЕРАЭРУИтКМЦЕГО КОНТРОЛЯ МЕХАНИЧЕСКИХ ДЕФЕКТОВ, СОСТОЯЩИЙ в том, что получают Голографические интерфероrpaiv iH эталонного и тестируемого объектов при идентичных условиях внешнего воздействия и находят места отличий интерферограмм, соответствующие местам расположения дефектов, отличающийся тем, что, с целью повышения точности обнаружения и локализации дефектов, дополнительно получают две муаровые картины, одну из которых образуют путем наложения указанных интерферограмм с совмещением контуров эталонного и тестируемого объектов, на ней находят области, охватываемые замкнутыми мyapoвы y полосами, и места пересечения муаровых полос, соответствующие местам расположения дефектов, другую муаровую картину образуют путем наложения со сдвигом двух дублей интерферограимы тестируемого объекта, на ней находят места возникновения новых муаровых полос в процессе плавного увеличе(Л ния сдвига, соответствующие местам расположения дефектов, и по полученным данным судят о наличии и местах расположения механических дефектов в тестируемом объекте. 4iib N( СЛ