Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок Советский патент 1984 года по МПК G11B5/46 

Описание патента на изобретение SU1117691A1

Г

Х|

Од

со

Похожие патенты SU1117691A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля исправности системы головки - магнитные диски 1990
  • Фельдман Александр Михайлович
  • Белый Александр Георгиевич
SU1748194A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПАРАМЕТРИЧЕСКОГО КОНТРОЛЯ МНОГОСЛОЙНЫХ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ 2003
  • Карпов С.В.
  • Усатый А.И.
  • Мороз А.И.
  • Евтюхин А.С.
  • Бутурлинов И.В.
  • Адамов Д.Н.
  • Бирюков О.Ю.
  • Гусынин М.В.
RU2256187C1
Устройство для контроля качества изделий 1986
  • Паречин Владимир Иванович
SU1399831A2
Устройство для контроля качества изделий 1985
  • Поляков Генрих Александрович
  • Паречин Владимир Иванович
  • Авгученко Григорий Васильевич
  • Майзельс Рафаил Михайлович
SU1272374A1
УСТРОЙСТВО КОНТРОЛЯ КОНТАКТИРОВАНИЯ ИНТЕГРАЛЬНЫХ СХЕМ 1991
  • Петров Л.Н.
  • Кармызов С.И.
RU2020498C1
Устройство для контроля 1986
  • Паречин Владимир Иванович
SU1386967A1
Устройство для контроля магнитных головок 1988
  • Рачков Михаил Михайлович
  • Муртазин Аухат Муртазинович
  • Проводников Андрей Леонидович
SU1610492A1
Устройство для контроля фазировки обмоток магнитных головок аппарата магнитной записи 1987
  • Андриенко Николай Семенович
  • Реденский Алексей Аврамович
  • Андрущенко Василий Федорович
  • Чуманов Игорь Васильевич
SU1385142A1
Аппарат магнитной записи 1979
  • Реденский Алексей Абрамович
  • Чуманов Игорь Васильевич
SU809328A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ МАГНИТНЫХ ВИДЕОГОЛОВОК 1991
  • Анциферов В.А.
RU2018177C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 117 691 A1

Реферат патента 1984 года Устройство для контроля качества интегральных магнитных головок

УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА ИНТЕГРАЛЬНЫХ МАГНИТНЬК ГОЛОВОК, содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральной магнитной головки, генератор испытательного сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми головками, и блок управления, выход которого подключен к входу генератора, о тличающееся т.ем, что, с целью повышения достоверности контроля качества интегральных магнитных головок, в него дополнительно введены второй генератор испытательного сигнала и вторая токопроводящая шина, причем вход второго генератора испытательного сигнала подключен к выходу устройства управления, а выход - к второй токопроводящей шине, которая размещена на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первой токопроводящей шине, над или под ней.

Формула изобретения SU 1 117 691 A1

Ф«/а/ Изобретение относится к области приборостроения, в частности к устройствам для контроля качества интег ральных магнитных головок (ИМГ), и может быть использовано на разных стадиях изготовления ИМГ. Известно и широко распространено устройство контроля ИМГ, содержащее контрольный магнитный диск, тракты записи и воспроизведения, тест сигна ла, элементы позиционирования ИМГ и механизм вращения диска l J. Недостатки устройства - большие аппаратурные затраты и невозможность контроля качества ИМГ на ранних стадиях изготовления (до резки подложки на элементы и установки их в держатель) . Известно также устройство контроля магнитных головок (МГ), содержаще не менее двух обмоток в процессе изготовления, состоящее из генератора испыта1ельного гармонического сигнала, подключенного к одной обмотке МГ, и измерителя нелинейных искажений, подключенного к другой обмот ке МГ 2 , Недостатками данного устройства являются, во-первых, невозможность контроля МГ, содержащих только одну обмотку, и, во-нторых, недостаточная чувствительность к дефектам в области зазора МГ. Наиболее близким к изобретению по технической сущности является устройство для контроля качества интегральных магнитных головок, содержащее анализатор сигнала, подклю ченньй к выводам интегральных магни ных головок, генератор испытательно го сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми интеграль ными магнитными головками, и блок управления, выход которого подключе к входу генератора. Известное устройство работает сл дующим образом. Ток, создаваемый генератором испытательного .ся€ нала токопроводящ шине, индyциpytV элекТродвижзпцую си лу в обмотке контролируемой МГ, воз действующую на анализатор сигнала. Анализатор сигнала преобразует инфо мацию о качестве ИМГ, имеющуюся во входном сигнале, в удобнзпо для опер тора форму (3 . 912 Недостатком известного устройства является низкая достоверность контроля. Цель изобретения - повьш1ение достоверности контроля качества ИМГ. Указанная цель достигается тем, что в устройство для контроля качества интегральных магнитных головок, содержащее анализатор сигнала, подключенный к выводам интегральной магнитной головки, генератор испытательного сигнала, подключенный к токопроводящей шине, размещенной на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, и блок управления, выход которого Подключен к входу генератора, дополнительно введены второй генератор испытательного сигнала и вторая токопроводящая шина, причем вход второго генератора испытательного сигнала подключен к выходу устройства управления, а выход к второй токопроводящей шине, которая разме-. щена на общей подложке с контролируемыми интегральными магнитными головками, параллельно первой токопроводящей шине, над или под ней. Введение второго генератора и второй токопроводящей шины позволяет создать в области зазора ИМГ вращающееся (перемещающееся) магнитное поле, интерференционный ноль (минимум) которого совершает возвратнопоступательные движения в плоскости полюсных наконечников поперек зазора ШГ. Повышение достоверности контроля по сравнению с известным устройством достигается за счет того, что пространственно-временная структура поля, создаваемого предлагаемым устройством, подобна структуре поля, воздействующего на зазор МГ п)и считывании информации, записанной на магнитный диск, а проверка по рабочему сигналу всегда является предпочтительной, в частности, для контроля эффективной ширины рабочего зазора МГ. Уровень выходного сигнала контролируемой ИМГ определяется соотношением токов генератора и., эффективной шириной рабочего зазора. 11овьш ение достоверности контроля по сравнению с устройством 2 достигается за. счет повьш1ения чувствительности к параметрам зазора, магнитное сопротивление которого сравнительно невелико и слабо влияет на измеряемый уровень коэффициента нелинейных искажении устройства 2 3 даже при наличии короткого замыкания зазора. На фиг, 1 приведена функциональная схема устройства;- на фиг, 2 - конструкция ИМГ с расположенными на ней токопроводящими ринами; на фиг, 3 временные диаграммы напряженности маг нитных полей. Функциональная схема устройства (фиг, 1) содержит устройство 1 управления, подключенное к входу первого генератора 2 испытательного сигнала, к выходу которого подключена токопроводящая шина 3. Устройство управления подключено также к входу второго генератора 4 испытательного сигнала, к выходу которого подключена токопроводящая шина 5, К выходу ИМГ 6 подклю чена схема 7 анализа наведенного в ИМГ сигнала. ИМГ (фиг. 2) включает подложку 1, проводник 2 и подковообразньй ферроматериал 3, который образует передний 4 и задний 5 зазоры. Параллельно плос кости полюсных наконечников размещена токопрЪводящая шина 6, а с обратной стороны (параллельной) - токопроводящая шина 7.. Устройство работает следующим образом. 6914 Управляемые устройством 1 управления и генераторы 2 и 4 испытательного сигнала создают в токопроводящих шинах 3 и 5 противоположно направленные импульсы тока трапецеидальной формы, сдвинутые друг относительно друга во времени таким образом, чтобы создаваемые им напряженности магнитного поля (фиг. 3 «,, 5 ) создавали суммарную напряженность магнитного поля в области зазора ИМГ 6, изменяющуюся- по пилообразному закону (фиг. 3 в). Схема 7 анализа, в простейшем случае осциллограф, показывает сигнал, наводимьй в ИМГ, по -кдторому, например, методом сравнения с эталоном можно судить о качестве контролируемой ИМГ. Техническая эффективность изобретения по сравнению с известным устройством заключается в повьппении достоверности контроля параметров зазора ИМГ, что объясняется большей чувствительностью предлагаемого устройства к параметрам зазора за счет сканирования поля в плоскости зазора. Экономическая эффективность от повьш ения достоверности контроля ИМГ заключается в уменьшении потерь от своевременно вьивленного брака.

я.

У

Ф4/г.З

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1117691A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Ефимов Е.Т
Магнитные головки
М., Энергия, 1976, с
Термосно-паровая кухня 1921
  • Чаплин В.М.
SU72A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба 1920
  • Богач Б.И.
SU11A1
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. 1921
  • Богач Б.И.
SU3A1
Телефонный аппарат, отзывающийся только на входящие токи 1921
  • Коваленков В.И.
SU324A1

SU 1 117 691 A1

Авторы

Зайцев Вячеслав Александрович

Белоус Виктор Васильевич

Вулло Леонид Иосифович

Синьковский Александр Анатольевич

Даты

1984-10-07Публикация

1983-10-03Подача