Бесконтактный способ измерения удельного электрического сопротивления образца цилиндрической формы Советский патент 1988 года по МПК H01L21/66 

Описание патента на изобретение SU1134051A1

Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к области измерения параметров полупроводниковых материалов. Контроль за качеством полупроводниковых материалов, критичных к загрязненным, требует возможности измерения их удельного сопротивления без контактирования с поверхностью, например образцов, упакованных в полиэтиленовую пленку. Известен бесконтактный способ определения удельного сопротивления р цилиндрических стержней из долупроводникового материала с использованием генератора высокой частоты. В этом способе контролируемый образец вводят в катушку индуктивности, запитываемую от генератора. Затем определяют потери на вихревые то ки, рассчитывают величину сопротивления образца и находят значение р К недостаткам способа можно отнести то, что искомый параметр определяется в результате расчетов, а сам способ может быть использован пр измерениях образцов только с малым удельным сопротивлением ( Ом-см Наиболее близким является бесконтактный способ измерения удельного электрического сопротивления образца цилиндрической формы путем подачи на образец через кольцевые электроды, связанные с образцом емкостными связями, меняющегося во времени напряжения о Недостатком этого способа является его сложность, обусловленная тем что необходимы измерения с помощью моста, при этом для уравновешивания плеч моста необходимо одновременно подбирать емкость и сопротивление, причем с увеличением сопротивления и уменьшением емкости точность измерения падает. И, кроме того, в результате измерений определяют сопротивление образца, а не значение р, которое нужно рассчитать. Целью изобретения является упрощение процесса измерения путем непосредственного измерения удельного сопротивления образца. Поставленная цель достигается тем, что в бесконтактном способе измерения удельного электрического сопротивления образца цилиндрической формы путем подачи на образец через кольцевые электроды, связанные с образцом емкостными связями, прикладывают импульс напряжения прямоугольной формы, измеряют амплитуду тока через образец, причем электроды устанавливают друг от друга на расстоянии 1, удовлетворяющем соотношению: . °° . г/1 V , ,h ч 4 f sin ( x)sin(g х) 2 1х2 171x1 . (1) где D - диаметр образца; h - ширина электродов; 1ч (х), 1,(х) - функция Бесселя, а удельное сопротивление определяют как отношение амплитуды импульса напряжения к амплитуде импульса тока. На фиг. 1 приведена схема размещения электродов у образца, где образец 1, электроды 2, ширина электрода h, расстояние между электродами 14 на фиг. 2 - принципиальная схема устройства для реализации способа, где импульсный генератор 3, измеритель 4 тока через образец; на фиг. 3 - зависимости расстояния между электродами 1 от диаметра образца D при которых измеряемое сопротивление между электродами равно удельному сопротивлению материала образца, где кривая 5 при см, кривая 6 при см, кривая 7 при ,5 см; на фиг. 4 - схема для проверки способа, где скоростной осциллограф 8; на фиг. 5 - осциллограмма тока через образец. Предлагаемый способ состоит в следующем. Берут образец цилиндрической формы диаметром D, удельное сопротивление которого необходимо определить без непосредственного контакта с образцом, например цилиндрический образец, упакованный в полиэтиленовую пленку. На образец 1 накладывают два кольцевых электрода 2, шириной h, расположенные друг от друга на расстоянии 1. К образцу через электроды прикладывают прямоугольный импульс напряжения от импульсного генератора 3. Практически длительность фронта прямоугольного импульса генератора t должна удовлетворять условию:RC .к. при этом протекающий через образец импульс тока будет иметь такую же амплитуду и форму, как и при непосредственном контакте поясков с образцом. Измеряя с помощью измерителя импульсного тока А протекающий через образец ток, можно определить сопротивление образца между электродами, как отнощение амплитуды импульса напряжения генератора 3 к амплитуде импульса тока, измеренного измерителем 4. В качестве измерителя импульса тока можно использовать, например, включенное последовательно с образцом малое сопротивление, импульс напряжения с которого измеряется с помощью измерителя импульсных напряжений - импульсного осциллографа или импульсного вольтметра.

Для нахождения связи между удельным сопротивлением f и сопротивлением R образца между электродами можно воспользоваться следующей форму- лой:

21 . ,hч

sin (5 x)sin{5 х)

f..dx.

1-, -1 1

Отсюда видно, что электроды могут быть выставлены друг от друга на таком расстоянии 1, чтобы измеренное сопротивление R было в точности равно удельному сопротивлению образца. Дпя этого при заданном значении диаметра образца D и ширины электродов h расстояние между электродами 1 должно удовлетворять соотношению:

00 ,1

h D

1 :: r-l .

D

сг x 1,1x7

i; (4)

При вьшолнении соотнощения (4) измерение сопротивления образца между электродами и есть фактически измерение удельного сопротивления образца р . В отличие от прототипа предлагаемый способ предусматривает измерение р путем измерения амплитуды импульса тока, протекающего через образец при приложении к нему прямоугольного импульса напряжения при определенном соотнощении между диаметром образца и расстоянием между электродами. Следовательно, данным способом осуществляется непосредственное измерение удельного сопротивления и

не требуются дополнительные расчеты для определения удельного сопротивления после проведения измерений. .Соотношение (4) для требуемого расстояния между электродами записано в неявной форме. Однако не составляет труда произвести численные расчеты интеграла в правой части выражения (4) и получить зависимость для расстояния между электродами 1 от диаметра образца D при разной ширине электродов h в явной форме. Результаты таких расчетов приведены на фиг. 3. Устанавливая электроды на расстоянии 1, определяемом с помощью этих кривых для каждого значения диаметра образца D и щирины электродов h можно произвести непосредственное измерение удельного сопротивления образца р. I

Пример. От импульсного генератора 3 через омический делитель подавали на измеряемый образец импульс напряжения, амплитудой 10 воль и длительностью 100 наносекунд. Импульс на образец подавали через электроды, . связанные с образцом через . емкостные связи (фиг. 1). Соответст(3) 30 вующие емкости С показаны на схеме фиг. 4. Протекающий через образец импульс тока измеряли с помощью скоростного осциллографа 8 по падению напряжения V на последовательно включенном сопротивлении 220 Ом. Диаметр измеряемого образца составлял 2,6 Ом. Измерения производились при ширине электродов 0,5 см и 1,0 см. Б соответствии с кривыми 7 и 6 на фиг. 3 электроды устанавливались на расстоянии друг от друга соответственно 4,6 см и 5,1 см. Типичная осциллограмма импульса тока через образец показана на фиг. 5. Из осциллограммы видно, что спад вершины импульса является незначительным, сле довательно емкости между и электродами и образцом С имеют достаточно большую величину для неискаженной передачи импульса (т.е. удовлетворяют условию (2)..

Измеренные по величине спада вершины импульсов емкости С составляли соответственно 50 и 100 пф (при ширине электродов 0,5 см и 1,0 см). Амплитуда импульса тока через образец составляла в обоих случаях 7 10 ампера, т.е. измеренное удельное сопртивление образца составляло 5 14,410 Ом-см. Эта величина совпадает с удельным сопротивлением того же образца, измеренного прямым контактным методом. Предлагаемый способ измерения удельных сопротивлений обладает существенными преимуществами по сравнению с прототипом. Во-первых, метод измерения в прототипе является косвенным, измеряется не удельное сопротивление материала образца, а сопротивлением между поясками электродами. После этого необходимо производить вычисления для нахождения удельного сопротивления. В пред лагаемом же способе электроды устанавливают согласно формуле (4) таки образом, что измеряемая величина является удельным сопротивлением образца. Во-вторых, проведение изме рений в прототипе связано со сложньми операциями компенсации в одном из плеч моста одновременно двух величин - емкостей между электродами и образцом и сопротивления образца. В предлагаемом способе отсутствуют эти операции, после подключения электродов измеритель 4 (фиг. 2) сразу покажет на своей шкале величи ну удельного сопротивления образца .(при соответствую0;ей предварительно градуировке этой шкалы). Следовател 1 но, предлагаемый способ упрощает процесс измерения. Способ позволяет измерять большие удельные сопротивления, в то время как в аналоге с удельным сопротивлением не более 10 Ом-см. Кроме того, в аналоге величина удельного сопротивления измеряется не непосредственно, а косвенно. Сначала определяют потери в образце, а по ним путем расчетов находят удельное сопротивление, при этом возможны погрешности, так как связь между удельным сопротивлением и потерями не является простой. Предлагаемый способ свободен от этого недостатка, так как в нем удельное сопротивление измеряется непосредственно. По сравнению с контактными методами измерения удельных сопротивлений предлагаемый способ имеет то преимущество, что, во-первых, можно непосредственно измерять удельные сопротивления образцов , упакованных в изолирующую пленку и, во-вторых, при этом исключаются погрешности из-за образования р-п переходов в месте контакта электродов с образцом в случае измерения удельных сопротивлений полупроводников.

Похожие патенты SU1134051A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения удельного сопротивления образцов полиалюминатов натрия 1989
  • Груздев Александр Иванович
SU1700454A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СКОРОСТИ РАСПРОСТРАНЕНИЯ ВКЛЮЧЕННОГО СОСТОЯНИЯ СИЛОВЫХ ТИРИСТОРОВ 1992
  • Синявский В.А.
RU2028640C1
Способ локального контроля удельного сопротивления полупроводников и устройство для его осуществления 1990
  • Штурбин Анатолий Вениаминович
  • Шалыгин Вадим Александрович
  • Румянцева Ирина Дорофеевна
  • Антюшин Владимир Сергеевич
SU1822972A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ЕМКОСТИ ЕМКОСТНОГО ДАТЧИКА 1989
  • Астайкин А.И.
  • Помазков А.П.
SU1736257A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОКА В КАНАЛЕ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРОБОЯ ДИЭЛЕКТРИКА 2015
  • Пахотин Владимир Александрович
  • Закревский Владимир Александрович
  • Сударь Николай Тобисович
RU2589509C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ СОПРОТИВЛЕНИЯ ПРОВОДЯЩЕГО СЛОЯ НА НЕПРОВОДЯЩЕЙ ПОДЛОЖКЕ 1992
  • Белов А.А.
  • Бухалов Л.Л.
  • Филаретов Г.А.
  • Яковлев А.С.
RU2040074C1
Высокочастотный плазмотрон 1975
  • Гончар Н.И.
  • Звягинцев А.В.
  • Митин Р.В.
  • Прядкин К.К.
SU544348A1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ПРОНИКНОВЕНИЯ ЧЕРЕЗ КОНТУР ЗАПРЕЩЕННОЙ ЗОНЫ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2004
  • Черныш В.Ю.
  • Петренко О.В.
  • Бадаев Б.В.
  • Ловцевич С.В.
RU2265248C1
Способ измерения спектров эффекта фарадея различных веществ 1978
  • Ушаков Иван Игнатьевич
SU697897A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОДА ДЛЯ ЭЛЕКТРОРАЗРЯДНОЙ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ И ЭЛЕКТРОД ДЛЯ ЭЛЕКТРОРАЗРЯДНОЙ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ 2006
  • Терамото Хироюки
  • Сато Юкио
  • Сузуки Акихиро
  • Гото Акихиро
  • Накамура Казуси
RU2417137C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 134 051 A1

Реферат патента 1988 года Бесконтактный способ измерения удельного электрического сопротивления образца цилиндрической формы

БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ УДЕЛЬНОГО ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ ОБРАЗЦА ЦИЛИНДРИЧЕСКОЙ ФОРМЫ путем подачи на оОразец через кольцевые электроды, связанные с образцом емкостньми связями, меняющегося во времени напряжения, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса измерений, к электродам прикладывают импульс напряжения прямоугольной формы, измеряют амплитуду тока, проходящего через образец, причем электроды устанавливают друг от друга на расстоянии 1, удовлетворяющем соотношению: 00 )sin(|x) ., -dx. 1 ... .где D - диаметр образца; i h - ширина электродов; 1,(х) (Л 1((х) функция Бесселя, а удельное сопротивление определяют как отношение амплитуды импульса напряжения к амплитуде импульса тока.

Формула изобретения SU 1 134 051 A1

С

С 4

Фс/г.2

Фиг, 4

Фиг.5

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1134051A1

Zucker
Contaetless Method for the Egtinalion of Resisting and Zefltime of Semiconductors
Rev
Sci Instrum, 1956, V
Прибор с двумя призмами 1917
  • Кауфман А.К.
SU27A1
Способ модулирования для радиотелефонии 1923
  • Коваленков А.И.
SU409A1
Ковтонюк Н.Ф., Концевой Ю.А
Измерение параметров полупроводниковых материалов
М., Металлургия, 1970, с
Прибор, замыкающий сигнальную цепь при повышении температуры 1918
  • Давыдов Р.И.
SU99A1

SU 1 134 051 A1

Авторы

Закутин В.В.

Ромасько В.П.

Хейфец М.И.

Шендерович А.М.

Шестакова В.С.

Даты

1988-01-23Публикация

1983-09-26Подача