Двухлучевой контактный интерферометр Советский патент 1958 года по МПК G01B9/02 G01J3/26 

Описание патента на изобретение SU114698A1

Существующие двухлучевые контактные интерферометры обладают малым пределом измерений (до ±0,01 мм), что значительно ограничивает область их нрименения.

Предлагаемый интерферометр лишен этого недостатка и позволяет расширить диапазон измерений в 20-30 раз.

Достигается это тем, что между конденсором осветителя и светофильтром интерферометра устанавливается эталон Фабри - Перо.

Устройство прибора показано на чертеже.

Две стеклянные пластины / и 2 заключены в металлическую оправу 3. На поверхности пластин нанесены, обращенные друг к другу, светоделительные слои серебра. Расстояние между пластинами d определяет длину эталона Фабри-Перо. Прибор устанавливается между конденсором осветителя и светофильтром интерферометра, в результате чего в поле зрения микроскопа интерферометра можно наблюдать несколько систем интерференционных полос. Расстояние между черными ахроматическими полосами соседних интерференционных картин равно расстоянию между отражающими поверхностями эталона Фабри-Перо, т. е. величине d. Таким образом, каждый раз, когда наконечник интерферометра проходит такое расстояние, в поле зрения вновь появляется интерференционная картина полос в белом свете. Таких картин можно наблюдать 10-12.

Предлагаемый прибор пригоден для поверки микронных индикаторов, миниметров, микрокаторов и т. п., а также для измерения с высокой точностью длины до 2-3 мм.

Двухлучевой контактный интерферометр, отл ич а ю щи йс я тем, что, с целью расширения .диапазона его работы, между конденсором осветителя и светофильтром интерферометра установлен эталон .Фабри- Перо..

Предмет изобретения

f/

3

Похожие патенты SU114698A1

название год авторы номер документа
ДИФРАКЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР (ВАРИАНТЫ) 2003
  • Коронкевич В.П.
  • Ленкова Г.А.
RU2240503C1
Интерферометр для проверки плоскопараллельных концевых мер 1960
  • Голубкова В.П.
  • Коронкевич В.П.
  • Финкельштейн Е.И.
SU149228A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2264595C2
ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ МАЛЫХ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 1969
SU244633A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2237865C2
УЧЕБНЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ПРИБОР С КРИСТАЛЛОМ ИСЛАНДСКОГО ШПАТА 2001
  • Амстиславский Я.Е.
RU2219490C2
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МНОГОЛУЧЕВОЙ СВЕТОФИЛЬТР (ВАРИАНТЫ) 2012
  • Чесноков Владимир Владимирович
  • Чесноков Дмитрий Владимирович
  • Михайлова Дарья Сергеевна
  • Сырнева Александра Сергеевна
RU2491584C1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ ДИЛАТОМЕР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТКЛР МАЛОРАСШИРЯЮЩИХСЯ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ 1993
  • Аматуни А.Н.
  • Компан Т.А.
  • Тагабилев Г.Х.
  • Шувалов В.И.
  • Мочалов В.В.
RU2089890C1
Устройство для измерения шага точных винтов 1980
  • Гафанович Георгий Яковлевич
  • Литвиненко Анатолий Савельевич
  • Прусихин Олег Викторович
SU953452A1

Иллюстрации к изобретению SU 114 698 A1

Реферат патента 1958 года Двухлучевой контактный интерферометр

Формула изобретения SU 114 698 A1

SU 114 698 A1

Авторы

Коронкевич В.П.

Даты

1958-01-01Публикация

1957-09-14Подача