Накладной рефрактометр Советский патент 1958 года по МПК G01N21/41 G01J1/04 

Описание патента на изобретение SU115766A1

Предлагается накладной рефрактометр для определе 1ия показателя преломЛбНИя .к дисперсии крупных блоков оптического стекла, отличаюи,ийся от известных тем, что в нем применена призма с дополнительно отражающей гранью, шариирно прикрепленная к корпзсу ;;)ибора.

На фиг. 1 показана схема рефрактомет)а; на фиг. 2-устройство д.тя крепления измерительно призмы- )нкрный 1араллелограмм; на ()иг. :)-изл;ерительная призма.

Источн1-;к / монохро.матического света освещает прополированную зертихал зну -о 10зерхность спытуеЛ ого блока 2 стекла, на котором основанием 5 с помощью ножек 4 установлен рефрактометр.

На горизонтальной поверхности блока стекла прополирована площадка, а которую с помощью спе 1иального устройства о на им.мерсионном слое толщиною 0,02- 0,04 ;VLW устанавливается с заданной точностью измерительная призма 5, которая, кроме обычных двух преломля.ющих граней, имеет дополнительную отражающую грань.

Лучи монохроматического света выходят, преломляясь, из верхней грани Призмы И положение их отсчитывается по стеклянному лимбу 7 с полющью отсчетного M iKpocKona 8. Стекляннь : . расположен по оси 9 оитиче.хсп трубы 10 рефра стометра.

В специальном устройстве (фи 2) i3 мерите льна я призма // прочно укреплена на .мостике 12, о 10рные ножки 13 которого ониparOTJH на пропп.ч/фованную площадку блока 14 стекла. РасстояHiio между 1лоскостью опорных ножек мостики и площадкой на блоке опс;-Г1С;:чзает постоянство толщин ; iiMMCpc:ioHHoro слоя и предохраняег HCi-iOpXHOcib измерительной призмы ;п :к;зре кдс: ия.

Мэ::гнк устройства соединен с осног1ан е: 1д рефрактометра при помощи 1г;арнирного параллелограмма J(), li. которого парал.чельнр: Г1ьЧос: огти контакта блока стекла. Это обеспечивает полну О с а л с у ст а н о в ку п з м ы относ п те.ч ь н о блока сгекла.

В ;;з сригсльной рнзме АБГ ч)1;. 3i сторона ЛГ служит для контакта ее с стекла, а сторона БГ ;1зляет:;; зеркальной.

О.ггзчески призма ЛБГ разворачиБУ Тся 3 ноомальнлю прямоуголь р;:(-: ;;nK3MV ABB.

Прел0л лем;1ые .мучи / я II выходящие из призмы АБГ, пересекаются в точке Е, которая определяет положение материальной о:и лимба и позволяет лучше заполнить зрячок оптической трубы рефрактометра.

Точка Е 3 призме АБГ расположена дальше -от блока, чем соэтветствуюш,ая ей точка Д в прямоугольной призме АБВ. Это позволяет исследовать образцы блоков стекла ; в том случае, когда они по размеру больше, чем сам прибор.

I i 1 е д м е т и 3 о б J) е т е н и я

1. Накладной рефракто:метр дл:-; измерения показател преломления

и д:и;:с;). крупных олоков онгкlechoio стекла, о т л н ч а эт ш и и с я те:м, что, с целью обеспечения воз можнОСти расположения материальной оси лимба достаточно далеко от НОверхности из.меряе.мого образца, ириз.ма рефрактометра выполнена с дополнительной отражающей граиь.ю.

/, Форма выполнения рефракто,метр н по п. 1, от л к ч а ю щ а я с я тем, что, с целью достижения параллельности входной грани призмы :::.,ер.х:1ости образца при установке на нем рефракто.метра, соединен.ие призмы с корпусом рефрактометра выполнено при п-омопи шарнирного пп}ал.;е.лограмма.

Похожие патенты SU115766A1

название год авторы номер документа
Автоколлимационный окуляр 1952
  • Тельтевский И.А.
SU105956A1
Приспособление для изготовления желатиновых ступенчатых фотометрических и сенситометрических клиньев 1944
  • Вентман Л.А.
  • Тельтевский И.А.
SU71760A1
РЕФРАКТОМЕТР 2005
  • Пеньковский Анатолий Иванович
RU2296981C1
ОПТИЧЕСКИЙ ТЕОДОЛИТ МОИЧЕНКО 1970
SU272574A1
Способ контроля состояния жидкой текущей среды 2020
  • Гребенникова Надежда Михайловна
  • Давыдов Вадим Владимирович
RU2747962C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СРЕДНЕЙ ДИСПЕРСИИ СВЕТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2014
  • Пеньковский Анатолий Иванович
RU2563310C2
РЕФРАКТОМЕТР 1992
  • Пеньковский А.И.
  • Петрановский Н.А.
RU2049985C1
ПОЛЯРИЗАЦИОННО-РАЗДЕЛИТЕЛЬНЫЙ БЛОК 1966
SU186150A1
Рефрактометр типа пульфриха 1972
  • Молочников Борис Израилевич
  • Исхаков Бронислав Омарович
  • Аникин Николай Алексеевич
SU494668A1
РЕФРАКТОМЕТР ДИФФЕРЕНЦИАЛЬНЫЙ ПОРТАТИВНЫЙ 2011
  • Пеньковский Анатолий Иванович
RU2488096C2

Иллюстрации к изобретению SU 115 766 A1

Реферат патента 1958 года Накладной рефрактометр

Формула изобретения SU 115 766 A1

,,, ,. , М

SU 115 766 A1

Авторы

Тельтевский И.А.

Даты

1958-01-01Публикация

1951-02-12Подача