Способ контроля качества наклеивания тензорезисторов Советский патент 1985 года по МПК G01B7/16 

(Л

С

}1

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению деформаций, и может быть использовано при контроле качества наклеивания тензорезисторов на образце при тензометрировании машин, механизмов, агрегатов технологического оборудования и электромеханических тензометрических преобразователей.

Целью изобретения является расширение номенклатуры тензорезисторов.

Способ осуществляется следующим образом„

Элемент конструкции с наклеенным тензорезистором помещают в вакзгумную камеру. Проволочную решетку тензорезистора подключают к регистрирующему прибору, Вакуумируют камеру, в местах некачественной наклейки тензорезистора имеется воздушная прослойка, в которой при вакуумиро822

вании .вакуздлной камеры возникает избыточное давление. Последнее деформирует проволочную решетку тензорезистора, изменяя при этом его соп- ротивление, которое фиксируется

регистрирующим прибором.

По величине изменения сопротивления судят о качестве наклеивания

тензорезистора, чем больше изменение сопротивления тензорезистора, тем больше неприклеенных участков, т.е тем больше количество воздушных пузырьков. .

Использование предлагаемого изобретения позволяет с минимальными затратами времени производить контроль качестве наклеивания тензорезисторов любых типов, с различной

термостойкостью и различными геометрическими размерами.

СПОСОБ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРЕЗИСТОРОВ на образец, заключающийся в том, что наклеенный тензорезистор нагружают и по изменению сопротивления тензорезистора судят о качестве наклеивания, отличающийся тем, что, с целью расширения номенклатуры тензорезисторов, образец с наклеенным тензорезистором помещают в вакуумную камеру, а нагружение осуществляют вакуумированием.