Способ определения качества наклеивания тензорезисторов Советский патент 1984 года по МПК G01B7/16 

СП

4J

ел

4i Изобретение относится к измерительной технике, а именно к тензоме рическим измерениям, и предназначен для определения качества наклеивани тензорезисторов, Известен способ определения качества наклеивания тензорезисторов, заключающийся в том, что на наклеен ный тензорезистор подают импульс электрического тока, в 5-15 раз пре вьлиающий рабочий, и по обугливанию основы обнаруживают непроклеенные участки тензорезистора Cl Недостатки способа - низкая точность оценки качества наклеивания и невозможность автоматизации процесса определения качества. Наиболее близким по технической сущности к изобретению является спо соб определения качества наклеивани тензорезисторов, заключающийся в том, что тензорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление 2 . Данный способ характеризуется не высокой точностью определения качес ва наклеивания, I . Цель изобретения - повышение точ ности. Поставленная цель достигается тем, что согласно способу определения качества наклеивания 1;ензорезис торов, заключающемуся в том,что тен зорезистор наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор элек трический ток и измеряют его сопро.тивление, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры, при которой проводилось наклеивание тен зорезистора, измеряют сопротивление тензорезистора и по измерению сопро тивления определяют качество наклеивания. Способ осуществляется следующим образом Тензорезистор наклеивают на образец и пропускают через тензорезистор электрический ток, величина которого выбирается из условия сохранения работоспособности тензорезистора. Измеряют сопротивление тензорезистора Затем образец помещают в среду, имеющую отрицательную температуру, и выдерживается так в течение времени, необходимого для охлаждения образца до температуры среды. После этого образец нагревают до температуры, при которой проводилось первоначальное измерение,и по истечение времени, необходимого для принятия образцом указанной температуры, вновь измеряют сопротивление тензорезистора. Качество наклеивания определяют по изменению сопротивления тензорезистора. Физическая сущность предлагаемого способа состоит в том, что при охлаждении образца неприклеенные участки тензорезисторов испытывают сильное коробление, решетка тензорезистора деформируется, в результате меняется его сопротивление. После нагрева образца с некачественно наклеенными тензорезисторами до температуры, при которой производилось первоначальное измерение сопротивления,основа тензорезистора (в силу своей пластичности и наличия остаточных деформаций) препятствует решетке тензорезистора принять первоначальное положение, в результате величина его омического сопротивления .значительно отличается от первоначальной. Способ по изобретению позволяет повысить точность определения качества наклеивания тензорезисторов в процессах измерения деформаций и напряжений с помощью тензорезисто

СПОСОБ.ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА НАКЛЕИВАНИЯ ТЕНЗОРВЗИСТОРОВ, заклю-; чающийся в том, что тензорезистйр наклеивают на образец, пропускают через тензорезистор электрический ток и измеряют его сопротивление, о т л и ч ающи и с я тем, что, с целью повышения точности, после измерения сопротивления образец с тензорезистором охлаждают до отрицательной температуры, нагревают до температуры, при которой проводилось наклеивание тензорезистора.измеряют сопротивление, тензорезистора и по измен.ёнию сопротивления определяют качество наклеивания.