Способ бесконтактного измерения высоких потенциалов Советский патент 1959 года по МПК G01R15/08 

Измерение высоких потенциалов производится посредством измерительных трансформаторов напряжения, шаровых разрядников или емкостных делителей напряжения. Первые два способа достаточно точны, но требуют значительных капитальных затрат. Третий способ дает большие погрешности. В тех случаях, когда класс измерительного устройства не должен быть очень высоким (например, для релейной зашиты), целесообразно применять более простой способ измерения. Для этой цели предлагается в исследуемое электрическое поле помешать двухэлектродную лампу, в цепь которой включены последовательно источник питапия и электроизмерительный прибор, позволяюший определять значение потенциала.

На чертеже изображена схема бесконтактного измерения высоких потенциалов по предлагаемому способу.

В исследуемое поле помеш,ают двухэлектродную лампу /, в анодную цепь которой последовательно включены источники питания 2 и измерительный прибор 3.

При неизменном анодном напряжении лампы / величина ее анодного тока будет пропорциональна величине измеряемого напряжения, так как электрическое поле играет роль управляюш,ей сети. Поэтому по показанию прибора 3 можно определять значение потенциала в исследуемом поле.

Предмет изобретения

Способ бесконтактного измерения высоких потенциалов в электрическом поле, отличаюшийся тем, что, с целью упроидения процесса измерений, в исследуемое поле помеш,ают двухэлектродную лампу, в цепь которой включены последовательно источник питания и электроизмерительный прибор, и значение потенциала определяют по показанию этого прибора.Д

/ II

I