Для контроля кристаллических пластин интерференционно-поляризационных фильтров в процессе их доводки применяют способы, при которых порядок интерференции пластин находят расчетом, основанным на измерении их толщины. Расчет на основе использования табличных констант кристаллов дает возможность в большинстве случаев достаточно точно определять значение целой части порядка интерференции. Однако он не обеспечивает требуемую точность определения дробной части.
Предлагаемый способ позволяет контролировать каждую пластину в отдельности, что упрощает процесс контроля и обеспечивает высокую точность доводки пластин. Это достигается тем, что дробную часть порядка интерференции определяют путем ее дополнения компенсатором до значения 0,25 или 0,75 ) при которой свет, прошедший сквозь компенсатор, будет поляризован по кругу.
На чертеже изображена принципиальная схема устройства для осуществления предлагаемого способа.
Контролируемую кристаллическую пластину 1 и качающуюся кристаллическую пластину-компенсатор 2 помещают в термостат 5 с защитными стеклами 4 ц 5. Излучение с длиной волны , для которой изготовляется интерференционно-поляризационный фильтр, выделяется с помощью светофильтра 6 или монохроматора из пучка света, подаваемого от источника 7. Полученное излучение направляется в термостат через линзу 8 и поляризатор 9. Световой поток, выходяш,ий из термостата, направляется через анализатор 1G, вращающикя от электродвигателя 11, и линзу 12 на приемник излучения 13. Отсутствие модуляции достигается поворотом компенсатора 2; при этом угол поворота- , отсчитываемый по шкале приемника излучения, дает значение дробной части порядка интерференции. Так как круговая поляризация получается, когда дробная часть порядка интерференции при совместном действии пластин 1 и 2 равна 0,25 или 0,75 s то для получения однозначного результата делается второе грубое измерение, при котором поляризатор 9 и анализатор 10 скрещиваются (при включенном электродвигателе 11).
Отсчет по шкале приемника излучения, соответствующий минимуму интенсивности излучения после анализатора 10, дает величину дополнения дробной части порядка интерференции контролируемой пластины / до единицы. Сопоставление результатов двух измерений при вращающемся электродвигателе // и неподвижном (скрещенное положение поляризатора и анализатора) позволяет получить при измерениях однозначный результат.
Предметизобретения
. Способ контроля кристаллических пластин интерференционно-поляризационных фильтров в процессе их доводки, при котором целую часть порядка интерференции пластин находят расчетом, основанным на измерении их толщины, отличающийся тем, что, с целью упрощения контроля и повышения его точности, дробную часть порядка интерференции определяют путем ее дополнения компенсатором до значения 0,25 или 0,75 -, при которой свет, прощедщий сквозь компенсатор, будет поляризован по кругу.
2,
TTTTTTprnii pO
ff0,5
