Способ контроля толщины кристаллических пластин для интерференционно-поляризационных светофильтров в процессе их доводки Советский патент 1954 года по МПК G01B11/06 G01B9/02 

Предлагаемый способ контроля толщины кристаллических пластин для интерференционно-поляризационных светофильтров в процессе их доводки более прост и точен по сравнению с существующими способами, основанными на непосредственных измерениях. Его применение позволит сократить время изготовления кристаллических п/гастин, а их термостатирование при этом отпадает. Способ этот заключается к тол1, что контролируют только первую опорную пластину, наблюдая и спектроскоп совпадение максимума интерференционной полосы с данной спектральной линией. Все же остальные иластины контролируют, наблюдая 1П1терференционную картину, создаваемую контролируемой н опорной пластинами. О достижении требуемой толщины пластин судят в одних случаях по симметричности вторичных максимумов, в других - по совпадению минимумов, относящихся к одной пластине, с максимумами, относяпхимися к другой пластине. Каждая точно доведенная предыПЛМИЯЯ ПЛМГТИМЯ nnnnunu СП--; ттаоп - сг для последующей, например, первая - для второй, вторая - для третьей и т. д. В тех случаях, когда штеется возможность получить монохроматическое излучение достаточной интенсивности с длиной волны Я, совпадающей с длиной волны /.„, для максимального пропускания фильтра, можно измерять остаточную разность фаз с помощью компенсато)а, например, Сенармона. Величина остаточной разности фаз и температура кристаллической пластины позволяют определить излишек толщины, который нужно снять при полированн) поверхности. Пред м е т и з о б р е т е н и я Способ контроля ТО.ЧЩИНЫ кристаллических пластин для интерференционно-поляризационных светоф 1льтров, в процессе их доводки, отличающийся тем, что, с целью упрощения процесса контроля и повышения его точности, перрлю- опорную - пластину контролир чот путем наблюдения при постоянн;.ч температуре в спектроскопе совпадения максимума интерференциокно ппгтпгг-, Т1Я1Т1ГШТ rnrvT Tno№ 99386 -2 -

ей, все же остальные пластины конт-максимумов и совпадению мииимуролируют, наблюдая интерференци-мов, относящихся к одной пластине,

онную картину, создаваемую контре-с максимумами, относящимися «друлируемой и опорной пластинами, и огой пластине, причем опорными явдостижении требуемой толщины су-ляются первая пластина для второй,

дят по симметричности вторичных вторая - для третьей и т. д.