Эндоскоп Советский патент 1986 года по МПК A61B1/55 

f

Изобретение относится к оптико- механическому приборостроению, конкретно к эндоскопии, и может быть использовано для исследовааня объектов в труднодоступных полостях с возможностью определения размеров дефектов и расстояния от прибора до дефекта.

Цель изобретения - сокращение времени обнаружения дефектов с одновременным измерением размеров последних,

На фиг,1 изображен эндоскоп,, общий вид , на фиг.2 - оптическая схема эндоскопаI на фиг.З - ви,ц поля зрения эндоскопа,

Эндоскоп содержит рабочую оптические системы 2 и 3 формирюза™ ния изображения, которые представ- ляЪт базовый объектив и объектив видоискателя, канал 4 подсветкиs погружаемую трубку 5, противоположную рабочей части 6s внешний световод 7 подсветки и осветитель 8

Оптическая система (фиг.2) эндоскопа содержит два оптических информационных канала 9 и 10 соответственно, оптические измерительные элементы 11 и 12 и широкоугольный окуляр 13. Оптическая система 3 формирования изображения5 оптический канал 10 передачи информации, измерительный элемент 12 и широкоугольный окуляр 13 образуют видоискатель эндоскопа. При этом канал передачи изображения и оптические системь фомирования изображения расположены таким образом, что их оптические оси смещены друг относительно друга на угол Cf , определяемый соотношением

11

arctg -- 5 qi с arctg -- ., ,

где S. и Sg - минимальное и максимальное расстояния визирования между вход- ныг-ш зрачками объективов

f - оптическая база систе формирования изображения,

Все оптические элементы установлены в корпусе 14,

Эндоскоп работает следующим образом.

Внешний световод 7 подсветки подсоединяют одним концом к осветителю 8, вторым - к противоположной рабо

14084i

чей части 6. Включают осветитель 8 и погружаемую трубку 5 вводят внутрь исследуемой полости. Вначале полость рассматривае гся с помощью оптической

5 системы 3 формирования изображения и оптического канала 10 подачи информации, окуляра 13 и измерительных элементов 11 и 12, так как оптическая система формирования изобра10 жения настроена на постоянную фокусировку и с одинаковой резкостью передает изображения объектов, , находящихся внутри полости на расстояниях от ближнего до дальнего

S5 планов визирования, а также имеет угол поля зрения больший, чем оптическая система 2 формирования изображения,

При обнаружении дефекта посредст20 вом оптической системы 2 формирования изображение (линейное поле зрения которой совмещено с линейным полем зрения объектива) фокусируется на дефект и осуществляется его

25 детальный осмотр, поскольку увеличение оптической системы 2 формирования изображения больше, чем у оптической системы 3 формирования изображения.

3)

Измерение размеров дефекта и расстояния до дефекта ведется с помощью параллактического треугольника, одна из сторон которого равна базовому расстоянию f, а угол Cf равен

35 углу между оптическими осями оптических систем 2 и 3 формирования изображения и выбирается из соотношения

arctg -- etf fc arctg -- . 2

Соответственно точка пересечения оптических осей определяется значе« ниями

4S

Sg 1/tgif ; S j. f/sincf .

Если наблюдаемый дефект находится в точке пересечения оптических

50 осей, то его изображение совпадает с центрами перекрестий измерительных элементов 11 и 12. Если дефект находится ближе или дальше точки пересечения оптических осей, то его

5S изображение смещается относительно перекрестия какого-либо измерительного элемента, например 12, при условии нахождения этого дефекта в

центре второго перекрестия, например измерительного элемента 11.

Для определения размеров дефектов или определения расстояния от оптической системы 2 формирования изображения до дефекта изображения дефекта устанавливают в центр перекрес тия измерительного элемента 11, а по сетке измерительного элемента 12 определяют величину смещения t j Е

214084Л

по оси X. Смещение i д пропорционально расстоянию, которое определяется либо решением параллактического треугольника, либо по заранее сос- 5 тавленным табличным данным или номограммам.

Конструкция данного эндоскопа позволяет повысить оперативность обнаружения дефектов с одновременным to определением их размеров.

Г::

J

(риг 7

f

{риг. 2

Составитель В.Мельников Редактор Т.Петрова Техред А.Набинец Корректор О.Луговая

Заказ 811/5 Тираж 659Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва,, Ж-35, Раушская наб., д.4/5

Филиал ШШ Патент, г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Фт,3