Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл Советский патент 1959 года по МПК G01R33/02 

Описание патента на изобретение SU121857A1

Обычно применяемые способы определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл с помощью датчика и экрана, вводимого в исследуемое поле, пригодны лишь для однородного поля плоских электромагнитных волн.

Описываемый способ позволяет производить измерение глубины проникновения неравномерного электромагнитного поля. Это достигается тем, что в качестве датчика ииспользуют излучатель, создающий исследуемое поле, для чего измеряют его электрические параметры (например, полное сопротивление), изменяющиеся при внесении в это поле экранов разной толщины.

На чертеже изображены кривые зависимости свойств датчика от толщины фольг из различных материалов.

Определение глубины проникновения неравномерного электромагнитного поля (специальной формы) производится не по измерению величинь проникшего поля, а по прекращению изменения электрических свойств излучателя при увеличении толщины изучаемого слоя или. фольги: толщина слоя меняется от толщин меньщих глубины проникновения до толщин больших ее.

Для производства измерений глубины проникновения поля датчика создается система (например, Т-образный мостик), определяющая его свойства, и снимаются кривые зависимости комплексных свойств датчика от толщины фольг из различных материалов (например, Си, А), Zn, латуни и Sn). Из кривых (фиг. 1) видно, что при достижении некоторой толщины фольги, полное сопротивление Z датчика далее не меняется.

Подобным образом можно также определять потери поля.

Предмет изобретения

Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл с помощью датчика и экрана, вводимого в исследуемое поле, отличающийся тем, что, с целью возможности производства измерений в неравномерных полях, в качестве датчика используют излучатель, создающий исследуемое поле, для чего измеряют его электрические параметры (например, полное сопротивление), изменяющиеся при внесении в это поле экранов разной толщины, и глубину проникновения определяют по толщине того экрана, при котором прекращается изменение параметров излучателя.

СрГ

-Си б

iBSxTfflTff- oq

Zn Тооо //arnijH{i

5п

№JZ1857

00

McvN/

10

25

20

Похожие патенты SU121857A1

название год авторы номер документа
Устройство для контроля толщины и диэлектрических постоянных неметаллических пластин 1960
  • Григулис Ю.К.
  • Матисс И.Г.
SU139081A1
Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл 1980
  • Остапенко Владимир Дмитриевич
SU868656A1
Способ замера толщины покрытий 1958
  • Грикулис Ю.К.
SU122879A1
Способ измерения толщины проводящего слоя изделия 1982
  • Гаврилин Валерий Валентинович
  • Григулис Юрис Карлович
SU1044962A1
Способ определения поверхностного сопротивления проводящей пленки 1988
  • Григулис Юрис Карлович
  • Порис Улдис Раймондович
  • Силиньш Янис Элмарович
SU1626191A1
Способ измерения толщины тонких проводящих покрытий 1977
  • Григулис Юрис Карлович
  • Гаврилин Валерий Валентинович
  • Дагилис Мартынь Карлович
SU901938A1
Способ определения параметров полупроводниковых материалов 1990
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
  • Пориньш Виестурс Мартынович
  • Григулис Юрис Карлович
SU1746337A1
СИСТЕМЫ И СПОСОБЫ ИЗМЕРЕНИЯ ИМПЕДАНСА ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОМПОНЕНТОВ ТВЕРДЫХ И ТЕКУЧИХ ОБЪЕКТОВ 2010
  • Борис Кесил
  • Юрий Николенко
RU2629901C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕРТИКАЛЬНОГО И ГОРИЗОНТАЛЬНОГО УДЕЛЬНОГО СОПРОТИВЛЕНИЯ, А ТАКЖЕ УГЛОВ ОТНОСИТЕЛЬНОГО НАКЛОНА В АНИЗОТРОПНЫХ ГОРНЫХ ПОРОДАХ 2003
  • Отто Фанини
  • Гуламаббас Мерчант
RU2368922C2
СПОСОБ ИССЛЕДОВАНИЯ ФУНКЦИОНАЛЬНОГО СОСТОЯНИЯ СЕРДЕЧНО-СОСУДИСТОЙ СИСТЕМЫ 2002
  • Журавлев В.Ф.
RU2242919C2

Иллюстрации к изобретению SU 121 857 A1

Реферат патента 1959 года Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл

Формула изобретения SU 121 857 A1

SU 121 857 A1

Авторы

Григулис Ю.К.

Даты

1959-01-01Публикация

1958-10-30Подача