Устройство для контроля толщины и диэлектрических постоянных неметаллических пластин Советский патент 1961 года по МПК G01B7/06 G01N27/90 G01R27/26 

Описание патента на изобретение SU139081A1

Известны устройства для контроля толщины и диэлектрических постоянных неметаллических пластин, например пленок, фолы и различных покрытий, основанные на применении электромагнитного датчика, потери распространения электромагнитного поля которого зависят от контролируемой толщины и диэлектрических свойств. Однако в таких устройствах необходимо использование магнитопроводов.

В описываемом устройстве для определения толщины без использования магнитопроводов с обеих сторон измеряемого изделия электромагнитный датчик выполнен в виде плоского двойного спирального контура, сочетающего индуктивные и емкостные свойства и питаемого током высокой частоты.

На фиг. 1 изображена схема устройства; на фиг. 2-электромагнитный датчик.

Устройство для контроля толщины и диэлектрических постоянных неметаллических пластин состоит из электромагнитного датчика / и высокочастотного генератора 2, смонтированных в одном блоке 3, усилителя 4 постоянного тока и блока 5 питания.

Электромагнитный датчик, нитаемый генератором, создает резко неоднородный электро.магнитный поток. При этом одна спираль датчика используется как емкость, а другая как индуктивность. Измерение потерь, возникающих при прохождении высокочастотного потока через неметаллическую пластину, производится с помощью индикатора, предварительно протарированного на пластинах, толщина и диэлектрические свойства которых известны.

Описываемое устройство позволяет производить контроль при односторонней установке устройства по отноп1ению к объекту, упростить и ускорить измерения, а также автоматизировать их.

Похожие патенты SU139081A1

название год авторы номер документа
Способ определения глубины проникновения электромагнитного поля в металл 1958
  • Григулис Ю.К.
SU121857A1
Устройство для бесконтактного измерения сопротивления проводящих пленок 1975
  • Григулис Ю.К.
  • Гаврилин В.В.
SU575934A1
ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫЙ СПОСОБ 1971
SU313179A1
Способ замера толщины покрытий 1958
  • Грикулис Ю.К.
SU122879A1
ВЫСОКОЧАСТОТНЫЙ ЕМКОСТНЫЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ ПАРАМЕТРОВ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЛАСТИН 1971
SU314159A1
СПОСОБ ВИХРЕТОКОВОГО ИЗМЕРЕНИЯ ФИЗИКО-МЕХАНИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ 2020
  • Кибрик Григорий Евгеньевич
RU2747916C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛЕНТЫ 2006
  • Иливанов Виктор Михайлович
  • Кандрин Юрий Викторович
  • Цымбалист Василий Арсентьевич
  • Цымбалист Ольга Васильевна
RU2318181C1
ДАТЧИК ДЛЯ КОНТРОЛЯ СВАРНЫХ ШВОВ 1995
  • Герасимов В.Я.
  • Парышев Н.В.
  • Егий В.П.
RU2089892C1
СПОСОБ УВЕЛИЧЕНИЯ ДЕЙСТВУЮЩЕЙ ВЫСОТЫ МАЛОГАБАРИТНОГО АНТЕННОГО УСТРОЙСТВА С УПРАВЛЯЕМОЙ ДИАГРАММОЙ НАПРАВЛЕННОСТИ И МАЛОГАБАРИТНОЕ АНТЕННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА 2003
  • Зайцев Г.М.
  • Зайцев И.Г.
RU2251178C2
Датчик для измерения холловской подвижности носителей заряда в полупроводнике 1988
  • Сидорин Виктор Викторович
  • Сидорин Юрий Викторович
  • Пориньш Виестурс Мартынович
  • Григулис Юрис Карлович
SU1665290A1

Иллюстрации к изобретению SU 139 081 A1

Реферат патента 1961 года Устройство для контроля толщины и диэлектрических постоянных неметаллических пластин

Формула изобретения SU 139 081 A1

SU 139 081 A1

Авторы

Григулис Ю.К.

Матисс И.Г.

Даты

1961-01-01Публикация

1960-03-21Подача