Способ определения отклонений в периодических структурах Советский патент 1959 года по МПК G01B9/04 

Известны визуальные способы определения отклонений в периодических структурах. Наблюдение и контроль в них ведется с помощью микроскопа. Основной недостаток подобных -способов заключается в малой точности, малой производительности и невозможности автоматизации контроля отклоненийВ предлагаемом способе указанные недостатки устранены тем, что подлежаш,ая контролю периодическая структура, например сетка лампы, пропускается между источником света и проектором. Увеличенное с помощью проектора изображение структуры проходит перед диафрагмой с двумя параллельными щелями. Изменение светового потока в щелях диафрагмы преобразуется в электрические импульсы, которые воздействуют на индикаторное устройство, позволяющее определить отклонение в периодических структурах. С целью повышения точности контроля в диафрагме можно сделать не две, а три щели.

Сущность предлагаемого способа поясняется чертежом, где изображена скелетная схема устройства по описываемому способу.

Периодическая структура, например спираль л- б. в. , продвигается между источником света 2 и проектором 5 с помощью механизма протягивания спирали 4. Увеличенное проектором изображение структуры проходит перед диафрагмой 5. Диафрагма имеет две щели, расположенные на расстоянии, равном изображению щага структуры минус половина изображения допуска шага структуры. Изменение светового потока в щелях диафрагмы вызывает периодическое изменение электрического сигнала на выходе преобразователей 5 и 7, в качестве которых могут использоваться фотоумножители. С преобразователей электрические сигналы подаются соответственно на блоки формирования импульсов 5 и 5.

Продифференцированные по переднему фронту импульсы 8 с блока формирования запускают блок 10, на выходе которого образуются импульсы с длительностью, соответствующей допуску шага. Эти импульсы