Устройство для контроля радиуса кривизны вогнутой сферической поверхности Советский патент 1986 года по МПК G01B7/293 G01B7/14 

f

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля узких сферических вогнутых поясков опор газодинамических подшипников.

Целью изобретения является повышение точности контроля узких вогнутых сферических поясов и упрощение измерения за счет исключения нескольких измерительных операций в различ)

ных меридиональных плоскостях, точность которых зависит от точности установки измерительной головки, и исключения последующих расчетов, а также благодаря возможности обеспечения производственного контроля без съема контролируемых деталей с рабочего места, где производится их обработка.

На фиг, 1 изображено устройство для измерения радиуса кривизны вогнутой сферической поверхности; на фиг. 2 и 3 - относительное положение контролируемой детали и шара-эталона при радиусе шара-эталона, большем или меньшем соответственно радиуса сферы контролируемой детали.

10

15

20

Устройство для контроля радиуса кривизны содержит шар-эталон, выполненный из электропроводного материала в виде двух неравных сферических частей 1 и 2, изолированных одна от другой изоляционной прокладкой 3 с минимально возможной толщиной, выполненной, например, из стеклоткани с эпоксидным компонентом и имеющей толщину порядка 0,1 мм. Соотношение размеров обеих частей шара-эталона выбирается таким,.что изо-. ляционная прокладка располагается примерно посредине ширины контролируемого сферического пояса (фиг. 2 и 3). Обе электропроводные части 1 и 2 шара-эталона снабжены электроконтактами 4 и 5, один из которых (контакт 4) непосредственно подсоединен к большей части 2 шара-эталона, а другой контакт 5) присоединен к его меньшей части 1, например, через гайку 6 и болт 7, ввинченньй в центральное отверстие шара-эталона и изолированный от его части 2 изоляционной ручкой-втулкой 8.Электроконтакты 4 и 5 включены в схему 9 измерения электрического.сопротивления по постоянному току, содержащую источник 10 питания и регистрирующий прибор 11, например амперметр или ом1226032

метр. Шар-эталон выполнен со сферичностью 0,2 мкм. Для контроля радиуса кривизны поясков 12 вогнутой сферической поверхности детали 13 необходим набор шаров, радиусы которых отличаются один от другого, например на 0,001 мм. Количество шаров в наборе определяется полем допуска на размер радиуса кривизны контролируемой детали 13.

Устройство работает следующим образом.

Шар-эталон вводится в контролируемую деталь 13. Если радиус шара- эталона больше радиуса кривизны сферического вогнутого пояска 12 контролируемой детали, он прижимается к его внешней кромке, благодаря чему между ними остается клиновидньш воздушный зазор, препятствующий замыканию электрической цепи схемы 9 измерения сопротивления постоянному, току. Если радиус шара-эталона меньше радиуса кривизны сферического вогнутого пояска 12, шар-эталон прижимается к внутренней кромке пояска (фиг. 3), в результате чего между ними также остается клиновидньй воздушный зазор, препятствующий замыканию электрической цепи схемы 9.

При достаточно точном совпадении радиусов шара-эталона и контролируемой детали происходит плотное прилегание их поверхностей, благодаря чему электрическая схема 9 замыкается через детали 13 и омическое сопротивление, регистрируемое ею, умен.ь- шается от бесконечности до некоторого .конечного значения.

Зазор в 0,1 мкм между поверхностя- ми пояска 12 контролируемой детали и шара-эталона дает надежное размыкание электрической цепи, а замыкание происходит при максимальной разности ат- 45 тестованной детали и шара-эталона в 0,35 мкм.

25

30

35

40

50

Таким образом, устройство позволяет контролировать радиус кривизны вогнутой сферической поверхности малогабаритных деталей с узким сферическим пояском с высокой точностью.

55

Формула изобретения

Устройство для контроля радиуса кривизны вогнутой сферической поверхности, содержащее шар-эталон, о т л и

Таким образом, устройство позволяет контролировать радиус кривизны вогнутой сферической поверхности малогабаритных деталей с узким сферическим пояском с высокой точностью.

55

Формула изобретения

Устройство для контроля радиуса кривизны вогнутой сферической поверхности, содержащее шар-эталон, о т л ичающееся тем, что, с целью повышения точности контроля узких вогнутых сферических поясов и упрощения измерения, оно снабжено схемой измерения электрического сопротивления по постоянному току, а шар-эталон

выполнен состоящим из двух неравных частей, электроизолированных одна от другой изоляционной прокладкой и снабженных электроконтактами для включения их в схему измерения электрического сопротивления.

Изобретение относится к измерительной технике и позволяет контролировать с высокой точностью радиус кривизны вогнутой сферической поверхности малогабаритных деталей с узким сферическим пояском, например опор газодинамических подшипников. Устройство для контроля радиуса кривизны вогнутой сферической поверхности содержит шар-эталон, выполненный из электропроводного материала в виде двух неравных частей, электроизолированных одна от другой изоляционной прокладкой и снабженных электроконтактами для включения их в схему из- мерейия электрического сопротивления. При введении аттестованного шара-эталона с соответствующим радиусом кривизны в контролируемую деталь замыкание электрической цепи схемы измерения сопротивления происходит лишь при достаточно близком совпадении радиуса кривизны узкого пояса детали с радиусом кривизны частей шара-эталона, практически при максимальной разности между ними не более 0,35 мкм. 3 ил. (Л ю IND О5 о со ю

Фиг.2

Составитель С. Скрыпник Редактор О. Юрковецкая Техред В.Кадар Корректор С.Шекмар

.™. -«.-..--.-,«.«.- „.. ..„..--,,..

Заказ 2109/27Тираж 670Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

.Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4