Способ определения изменения толщины слоя гальванических покрытий Советский патент 1959 года по МПК G01B17/02 

Известные способы определения толщины гальванических покрытий, осуществляемые в процессе электролиза, недостаточно точны, так как основываются на косвенных методах измерения, например по количеству затраченного иа нанесения покрытия электрического тока.

Описываемый способ определения изменения толщины слоя гальванического покрытия позволяет осуществлять прямое, непрерывное определение толщины покрытия с весьма больщой точностью. Достигаемся это тем, что толщину слоя покрытия измеряют непосредственно в гальванической вапие, не извлекая из иее изделия и не прерывая электролиза, путем определеиия величины угла отражения узкого ультразвукового луча, направленного на новерхность обрабатываемого изделия. Высокая точность определеиия величины угла отражения обеспечивается при этом тем, что отраженный от поверхности изделия луч направляется на выпуклую сферическую поверхность, при отраженни от которой величина угла его увеличивается во много раз, позволяя улавливать даже ничтожные изменения величнны первичного угла отражения льтразвука от поверхности иокрытия.

Ультразвуковой луч создается электрострикционным из.чучателем. погруженным в гальваническую и соответствующим образом ориентированным. Этот луч, отражаясь от поверхности слоя покрытия, толщина которого измеряется, падает на поверхность выпуклого сферического акустического зеркала, расположенного на дне ванны, вторично отражаясь от которого он направляется на приемную пластинку, являющуюся дном прибора. На внутренней стороне пластинки наложена бумага, пропитанная звукочувствительным раствором. По мере наращивания слоя покрытия угол отражения ультразвукового луча непрерывно смещается, в результате чего на звукочувствительной бумаге вы№ 123715- 2 -

черчивается прямая линия, образующаяся от перемещения точки падения ультразвукового луча на приемную пластину по мере изменения угла отражения последнего. Длина этой линии в увеличенном виде определяет изменение толщины покрытия; измерение длины линии осуществляют визуально посредством обычно употребляемых для подобных целей оптических приборов.

Предмет изобретения

Способ определения изменения толщины слоя гальванических покрытий, отличающийся тем, что, с целью осуществления непрерывного контроля и повыщения точности измерений, изменение толщины слоя определяют но величине угла отражения узкого ультразвукового луча, направленного на поверхность обрабатываемого изделия и затем вторично-отраженного от выпуклой сферической поверхности.