Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения диаметров крупных валов в электромашиностроении, тяжелом машиностроении и судостроении.
Целью изобретения является повьше- ние точности измерения за счет повышения чувствительности проекционного метода.
На фиг. 1 приведена принципиальная схема устройства; на фиг. 2 - расположение цилиндрических панкратических объектов по отношению к. диафрагме.
Устройство содержит осветитель 1, например автоколлиматор, диафрагму 2
с двумя отверстиями, два проекционных цилиндрических панкратических объектива, каждый из которых состоит из двух компонентов 3, 4 и 5, 6, оптический КЛИМ 7, первую измерительную шкалу 8, первый окуляр-микрометр 9, вторую полупрозрачную измерительную шкалу 10 и второй окуляр-микрометр 11,
На чертеже также показаны: контролируемый вал 12, марка осветителя- точка А; выход лучей из клина - точка С; угол oi - угол отклонения луча клином; точка М - точка падения оси излучения на поверхность контролируемого вала 12; угол ос - угол между осью осветителя и направлением излучения, отраженным от боковой поверхности вала; угол у - угол между осью излучения и нормалью к боковой поверхности вала в точке М; величина m - расстояние от оси осветителя до изображения марки осветителя (А ) на шкале 10; величина В - расстояние между измерительшлми шкалами; величина п - линейное смещение между изображениями марки осветителя (А), формируемое на измерительных шкалах 8, 10 (А и А).
Устройство работает следующим образом.
Осветитель 1 предварительно выставляют перпендикулярно оси контролируемого вала, совмещая его оптическую ось с центром вала. Затем освещают осветителем диафрагму 2,, которая делит начальный пучок на два. .Один из разделенных пучков проходит через цилиндрический двухкомпонент- ный панкратический объектив 3 и 5, отклоняясь при зтом на угол «, клином 7. Прошедший объектив пучок, отразившись от боковой поверхности
контролируемого вапа 12, проецируется им на первую измерительную шка-, лу 10. Перемеще}ыем компонентов ци- линдрического объектива 3 и 5 добиваются резкого изображения марки
осветителя (точка А) в плоскости измерительной шкалы (точка А ). Ее пространственное положение на измерительной шкале наблюдают с помощью
окуляра 11.
Другой пучок проходит через цилиндрический двухкомпонен ный панкратический объектив 4 и 6, отклоняясь при этом также на угол об клином 7. Прошедший объектив пучок, последовательно отразившись от боковой поверхности контролируемого вала 12 и от светоделительного покрытия измерительной шкалы 10, проектируется
на измерительную шкалу 8.
Перемещением компонентов второго цилиндрического объектива 4 и 6 добиваются резкого изображения марки осветителя (точки А) в плоскости измерительной шкалы 10 (точка А). Ее пространственное положение на измерительной шкале наблюдают с помощью окуляра 9.
По шкале 10 через окуляр-микро-
метр 11 снимают отсчет, определяя величину га, а по шкале 8 определяют
смещение изображения марки осветите. « ля А для второго пучка излучения.
Разность отсчетов по шкалам 8 и 10 позволяет определить величину п.
Определяют угол oi отклонения излучения от контролируемого вала из соот) п
ношения tg об -„- и по полученным к
I
значениям величин т, od ,06 вычисляют диаметр контролируемого вала из сле- дукнцей зависимости
D
(1
U - л
tgoC .
+ ----г) sin
tgof 2
При вращении вала вокруг своей оси данное устройство позволяет определить постоянство диаметра в контролируемом сечении, а при фиксации углов поворота позволяет определить отклонение от формы в контролируемом сечении.
Формула изобретения
Устройство для измерения диаметра вала, содержащее осветитель, окуляр и измерительную шкалу, установленную
J1254
в фокальной плоскости окуляра, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерения,оно снабжено диафрагмой, вьтолненной с двумя отверстиями, двумя проекционны- 5 ми цилиндрическими объективами, выполненными каждый из двух компонентов, оптическим клином, установленным между компонентами обоих объективов, второй измерительной шкалой, вторым окуляром, оптически связанным с второй измерительной шкалой, которая выполнена полупрозрачной, оба окуляра выполнены в виде окуляров- микрометров, а осветитель - в виде коллиматора, каждая из измерительных
5
0
5
2914
шкал установлена в плоскости изображения осветителя, формируемого одним из проекционных панкратических объективов соответственно, измерительные шкалы ориентированы параллельно между собой и перпендикулярно направлению излучения осветителя, первая измерительная шкала расположена по ходу излучения, отраженного от полупрозрачной шкалы, каждьй из окуляров установлен с возможностью перемещения вдоль одной из измерительных шкал соответственно, а диафрагма установлена между осветителем р. проекционными панкратическими обьекти - вами.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Устройство для бесконтактного контроля крупногабаритных астрономических асферических зеркал | 1973 |
|
SU729440A1 |
Офтальмометр | 1980 |
|
SU938923A1 |
Устройство для контроля центрирования оптических деталей | 1987 |
|
SU1530962A1 |
Способ определения радиусов кривизны сферических поверхностей и устройство для его осуществления | 1988 |
|
SU1562691A1 |
Устройство для измерения продольных аберраций окуляров микроскопов | 1986 |
|
SU1428970A1 |
ДИФРАКЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР (ВАРИАНТЫ) | 2003 |
|
RU2240503C1 |
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО КОНТРОЛЯ НЕПАРАЛЛЕЛЬНОСТИ ОБРАЗУЮЩИХ ЦИЛИНДРИЧЕСКИХ | 1973 |
|
SU407187A1 |
Устройство для совмещения изображений диаметрально противоположных делений лимбов угломерных приборов | 1985 |
|
SU1337660A1 |
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЙ ЭНДОСКОП | 2009 |
|
RU2413205C1 |
Микроскоп | 1983 |
|
SU1136094A1 |
Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения диаметров крупных валов. Изобретение позволяет повысить точность измерения диаметров крупногабаритных валов за счет увели чения чувствительности проекционного метода. В устройстве делят пучок от осветителя на два, пропускают разде;ленные пучки через два цилиндрических панкратических объектива, одновременно отклоняют оба пучка излучения на дискретный угол ot , прошедшие объективы пучки направляют на боковую поверхность контролируемого вала, проектируют отраженное от него излучение на две оптически связанные между собой измерительные шкалы, которые установлены паралллельно между собой и перпендикулярно направлению излучения осветителя. Наблнщают пространственное положение марки осветителя на измерительных шкалах с помощью окуляр-т икро.метров, измеряют смешение изображений марки на измерительных шкалах от оси осветителя и между собой, по измеренным значениям определяют угол отклонения излучения от по- верхности вала ос и вычисляют диаметр вала из зависимости: D 2ш(1 ( tgoi/ /tgoi) slnoi - ой/2, где m - значение смещения изображения марки, снимаемое с полупрозрачной измерительной шкалы. 2 ил. о S W
фиг. f
. .
tl
Ф«/г.2
Рубинов А.Д | |||
Контроль больших размеров в машиностроении | |||
Справочник | |||
М.: Машиностроение, 1982, с.139145, 154. |
Авторы
Даты
1986-08-30—Публикация
1984-12-10—Подача