Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований Советский патент 1986 года по МПК G01N1/28 G01N1/36 

fO

f5

Изобретение относится к исследоаниям физических свойств, в частости к способам приготовления обазца для микроскопических исследоаний, и может быть использовано для зучения структуры материала детали.

Целью изобретения является обес- печение идентичности деформаций образца и нагруженной детали.

На чертеже приведена схема осуществления предлагаемого способа.

Способ осуществляют следующим образом.

Деталь 1 нагружают до заданной величины нагрузки. На исследуемую область поверхности детали наносят клеевой слой и струбциной 2 к ней прижимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью. Материал накладки выбирают тверже материала детали. После затвердевания клеевого слоя деталь 1 разгружают, .снимают струбцину 2. Рифления жесткой прокладки обеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. Часть детали с закрепленной на ней накладкой 3 вырезают и получают образец, деформация которого родентичны деформациям нагру- женной детали. Поверхность образца подготавливают для микроскопических исследований, например, полируют, обрабатывают реактивами и т.п.

Способ был апробирован при изучении структуры материала в области концентраторов в полимерном материа- че (были испытаны образцы из целлуло20

25

Редактор Н.Горват

Составитель Л.Горяйнова

Техред А.Кравчук Корректор М.Пожо

Заказ 7059/47 Тираж 778Подписное

ВННИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная, 4

5

0

5

ида, эпоксидной смолы, -винипласта). Испытывали пластины с центральным надрезом, нагруженные на машине ZST-3 до заданной величины 1агрузки. Обра-- зец после вырезки шлифовали. Поверхность образца фотографировали при увеличении х340. В результате было обнаружено существование зоны пред- разрушения и определена величина раскрытия в вершине трещины ( И 0,07 мм).

Способ может быть осуществлен при наличии накладок, прижимов типа струбцин, средств нагружения детали и вырезки образцов.

Формула изобретения

Способ получения и подготовки образца для микроскопических исследований, включающий нагружение детали, разгрузку, вырезку образца, подготовку его поверхности к микроскопическим исследованиям, отлич ающий- с я тем, что, с целью обеспечения и идентичности деформаций образца и нагруженной детали, после нагружения детали фиксируют деформированное состояние в каждой точке исследуемой. части ее поверхности, путем нанесения на нее клеевого слоя, прижатия рифленой поверхности жесткой накладки, причем материал накладки выбирают тверже материала.детали, выдержки детали под нагрузкой до отверждения клея, последующего снятия усилия прижима накладки.

Изобретение относится к способу получения и подготовки образца для микроскопических исследований, может быть использовано в различных отраслях промышленности и позволяет обеспечить идентичность деформаций образца и нагруженной детали. Деталь 1 нагружают до заданной величины нагрузки. На исследуемую область поверхности детали 1 наносят клеевой слой и струбциной 2 к ней прижимают жесткую накладку 3 рифленой поверхностью. Материал накладки выбирают тверже материала детали. После снятия струбцины получают образец, де- форйац ия которого идентична деформации нагруженной детали, поскольку рифления жесткой накладки обеспечивают фиксацию деформированного состояния в каждой точке исследуемой поверхности. 1 ил. i (Л rsd 00 о i4;i ас