Способ контроля герметичности тонкостенных изделий Советский патент 1987 года по МПК G01M3/02 

О9

сл

1,12

Изобретение относится к испытательной технике, в частности к испытаниям на герметичность, и применяется для обнаружения сквозных дефектов в тонкостенных корпусах гермети- зированных радиоэлектронных приборов, не допускающих нагрева и заполнения их полости жидкостью.

Цель изобретения .- повьшенив чув- ствит льности испытаний тонкостенных изделлй путем обе-спечения усиления светового потока источника света без увеличения подводимой мощности и без перегрева изделий.

На чертеже показана схема уст-

ройства для реализации предлагаемого способа,

Устройство содержит камеру 1 из прозрачного материала, в которую

устанавливают испытуемое изделие 2, накальный источник 3 света, в корпус 4 которого выполнены отверстия 5, соединяющие полость изделия 2 с полостью камеры 1, систему 6 вакууми- рования и датчик 7 давления,

Способ контроля герметичности изделий -осуществляется следующим образом.

Устанавливают в камере 1 испытуемое изделие 2 так, чтобы источник 3 света полностью находился в полости изделия 2 и освещал поверхность стенок изделия 2, С помощью системы 6 вакуумирования вакуумируют камеру 1 одновременно через отверстия 5 - полость изделия 2 до давления ниже 10 мм рт.ст,, которое контролируют по датчику 7 давления, Затемютют помещение, в котором установлена камера 1, периодически включают источник 3 света, осматривают поверхность стенок изделия 2 и определяют сквозные дефекты по их свечению. После этого напус- кают в камеру I и полость изде

Редактор Н,Швыдкая Заказ 373/42

Составитель С.Малькевич Техред М.Ходанич

Корректор

Тираж 777Подписное

ВНИИПИ. Государственного комитета СССР

. по делам изобретений и открытий П3035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д, 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г.Ужгород, ул,Проектная,4

О

-5

0

5 0 5

5

0

О ;2

ЛИЯ 2 атмосферу и извлекают изделие 2 из камеры 1,

При давлении ниже 10 мм рт,ст, исключается конвективный теплообмен, в резул ьтате чего снижается тепло- подвод к поверхности стенок изделия 2 и к функциональным элементам в его полости, а также значительно уменьшается теплопроводность окружающей среды, в результате чего отвод тепла от накального источника 3 света уменьшается. Спираль источника 3 света разогревается до более высокой температуры, чем при наличии в изделии 2 газа, и световой поток от нее увеличивается при той же величине подводимой мощности.

Способ позволяет также исключить силовую нагрузку на корпус изделия 2, возникающую при подаче в него избыточного давления или создании в нем вакуума, и может быть применен для определегшя микронегшотностей в изделиях, допускающих перепада давления, заполнения жидкостью,и перегрева.

Формула изобретения

1,Способ контроля герметичности тонкостенных изделий, заключающийся в том, что поверхность стенки изделия с одной стороныпе риодически освещают с помощью накального источника света, а на другой поверхности стенки регистрируют лучи света, прошедшие через дефектные места, отличающий- с я тем, что,, с целью повышения чувствительности,, вакуумируют пространство со стороны освещаемой поверхности изделия,

2, Способ по п,I, о тли ч а ю- щ и и с. я тем, что одновременно вакуумируют пространство со стороны поверхности, на которой регистрируют лучи света.

Корректор Л.Шлипенко

Изобретение относится к области испытаний на герметичность и применяется для обнаружения сквозных дефектов в тонкостенных корпусах изделий, не допускающих перепада давления, заполнения жидкостью и перегрева. Цель.изобретения - повышение чувствительности испытаний вследствие того, что в условиях вакуума исключается конвективный теплообмен, в связи с этим при неизменной.мощности питания источника 3 света повышается яркость его свечения. Помещают изделие 2 в камеру 1 из про-р зрачного материала, вводят в полость изделия 2 накальный источник 3 света для освещения поверхностей стенок контролируемого изделия 2. Создают одновременно вакуум в полостях камеры 1 и изделия 2 и определяют дефекты в изделии 2 путем регистрации лучей света, прошедших через дефекты. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. с В Л