Устройство для спектрального анализа Советский патент 1987 года по МПК G01J3/10 

Описание патента на изобретение SU1296851A1

Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано для определения химического состава электропроводных материалов с при- дуговых источников возбужде- ния спектра.

Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечения возможности проведения атомно-абсорбционного анализа.

На фиг. схематически изображено предлагаемое устройство, разрез по оси каналов, формирующих стабилизирующий поток и расположенных в плоскостях, перпендикулярных оптической оси; на фиг,2 - профилированная калиброванная прокладка, вид сверху Для обеспечения возможности использования известного устройства для прямого атомно-абсорбционпого анализа монолитных металлических образцов стабилизирующий дугу газ подают к поверхности образца по цьшинд рической щели. Затем включают источник питания дугового разряда, атоми- зирующего контролируемый образец, используя при этом прианоднт,то зону разряда в качестве ячейки, поглощающей просвечивающее излучение.

. Устройство для осуществления способа спектрального анализа электро-- проводных материалов содержит при- электродную диафрагму 1, выполненную разъемной с корпусом 2 по цилиндрическим поверхностям 3 и 4 равного радиуса, промелсуток меж,цу которыми заполнен профилированной прокладкой 5, служащей для подачи стабилизирующего газа через канал б из газораспределительных линейных камер 7 и 8 в зону приэлектродного пятна 9, контролируемого образца 10, служащего в,качестве одного из электродов, установлен- кого на плоской поверхности II, выполняющей функции стола и ограничивающей приэлектродную диафрагму сверху, а снизу - поверхностью 3, ка напы 12, сходящиеся в отверстие 13, ограничены поверхностями 3 и 4 и бо- ковьп ш поверхностями 14 зубьев 15 прокладки 5, причем изгибы зубьев задаются радиусами, обеспечивающими касание поверхностями.вершин зубьев с образующей выходного отверстия 13 приэлектродной диафрагмы I. На оси корпуса 2 размещена разрядная камера 16, слз. жащая для прохода дугового

5

0

5

0

5

0 45 jO

55

разряда 17 и паров атомизирован- ного материала, в плоских торцах 18 которой вьтолнены светопроводящие окна 19, касающиеся своей образующей 20 поверхности 4 в зоне 21, Торцовые поверхности 22 каналов 12 прокладки 5 сочленены с плоскими внешникш поверхностями, камер 7 и 8.

Пример, Контролируемый образец 10, служащий одним из электродов, устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму - стол 11 размером 70 X 70 мм с выходным отверстием диаметром 6 мм. Затем подают стабилизирующий газ в газораспределительные камеры 7 и 8, из которых по цилиндрической щели радиусом 100 мм по направляющим каналам 12 в виде вихря подают в приэлектроднуто зону дугового разряда 17, просвечиваемого излучением, направляемым параллельно плоскости стола 1I в направлении образующей цилиндра, формирующего ка- лIiбpoвaннyю прокладку 5, изготовлен- нЗ ю из медной фольги толщиной 0,1мм. .Вихревой поток стабилизирующего газа образован в результате слияния потоков из обеих газораспределительных камер 7 и 8. Таким образом при протяженности газораспределительР1ых камер, равной 35 мм, ширина основания вихреобразующих зубьев, как и основания каналов, определяется величиной 5 мм. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна 9 диаметром 8 мм, расположенные в торцах, выполняющих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы, имеющих толщину 15 мм. При этом оптическая ось излучения, совпадающая с осью окон 19, проходит на удалении 4,5 мм от плоскости стола 11 приэлектродной диафрагмы 1,

Использование стабилизации приэлектродного участка дуги путем подачи газа к поверхности контролируемого образца в виде цилиндрической кольцевой струи сходящихся в вихрь отдельных потоков газа, из двух газораспределительных камер позволяет расширить применение дуги постоянного тока в области атомно-абсорбционного анализа, обеспечивая рост чувствительности определения микропримеси в металлах с возможностью перехода на единый градуированный график для различных марок спла вов, повышая качество технологического контроля.

312

Формула изобретения Устройство для спектрального анализа образцов электропроводных материалов, содержащее корпус с разрядной камерой, с отверстиями для подво да и отвода газов, приэлектродную диафрагму, на которой установлен электрод, являющийся образцом, газораспределительную камеру, полость для подачи стабилизирующего газа, вы полненную в виде кольцевой щели, рас поло женной между корпусом и диафрагмой, изготовленными с разъемом по поверхности щели диафрагмы, снабженной по внешнему периметру разъема герме- тизирующей калиброванной прокладкой, имеющей набор клиновидных зубьев, вершины которых лежат на образующей входного отверстия в разрядный канал а основания расположены на наружной поверхности газораспределительной камеры, отличающееся тем.

что, с целью расширения функциональных возможностей за счет возможности обеспече1шя проведения атомно-абсорб- ционного анализа, щелевое отверстие диафрагмы выполнено цилиндрической формы, газораспределительная камера образована двумя прямолинейными камерами, расположенными в корпусе симметрично относительно оптической оси устройства, а клиновидные зубья калиброванной прокладки вьшолнены изог нутыми с основаниями, опирающимися на плоские наружные поверхности обеих гй йораспределительных камер, при этом изгибы зубьев задаются радиусами, обеспечивающими касание вершин зубьев с образующей выходного отверстия приэлектродной диафрагмы в точках, равноудаленных друг от друга, при равенстве сечений выходных отверстий каждого из образованных газо- проводящих каналов.

Похожие патенты SU1296851A1

название год авторы номер документа
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ОБРАЗЦОВ 1993
RU2085870C1
Способ спектрального анализа и устройство для его осуществления 1983
  • Карих Феликс Гансович
SU1262297A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ЭЛЕКТРОПРОВОДНЫХ МАТЕРИАЛОВ 1999
  • Карих Ф.Г.
  • Крючков В.Н.
RU2175758C2
СПОСОБ СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА ДЫМОВ 2001
  • Карих Ф.Г.
  • Карих А.Ф.
RU2184951C1
СПОСОБ ВАКУУМНО-ДУГОВОЙ ОЧИСТКИ ПРОВОЛОКИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2000
  • Сенокосов Е.С.
  • Плитко А.П.
  • Киселев Ю.В.
  • Сенокосов А.Е.
RU2181636C2
Способ определения качества защиты дуговой атмосферы и устройство для его осуществления 1989
  • Калюжный Валерий Вилинович
SU1754375A1
Способ определения поля концентрации атомов металлов нестабильных источников света 1984
  • Огнев Владимир Романович
  • Огнева Элеонора Яковлевна
  • Гурин Василий Яковлевич
SU1330520A1
Разрядник для спектрального анализа в вакууме 1990
  • Садыков Равиль Садыкович
  • Хамзин Зинур Зинятуллович
SU1755067A1
ДВУХСТРУЙНЫЙ ДУГОВОЙ ПЛАЗМАТРОН ДЛЯ АТОМНО-ЭМИССИОННОГО СПЕКТРАЛЬНОГО АНАЛИЗА 2006
  • Герасимов Владимир Алексеевич
  • Лабусов Владимир Александрович
  • Саушкин Максим Сергеевич
RU2298889C1
Устройство для спектрального анализа 1987
  • Грачев Борис Дмитриевич
  • Грачева Ольга Александровна
  • Петухов Сергей Вячеславович
  • Рукин Евгений Михайлович
  • Хлебникова Светлана Александровна
SU1509622A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 296 851 A1

Реферат патента 1987 года Устройство для спектрального анализа

Изобретение относится к спектральному анализу и обеспечивает возможность применения просвечивающих излучений, направляемых через дуго- . вой столб параллельно плоскости стола в направлении, совпадающем с обра, JO 8 зугащей цилиндра, формирующего калиброванную прокладку, т.к. стабилизирующий дугу газ подается по цилиндрической щели, а светоотбор осуществляется в направлении, аксиальном образукхцей цилиндра. Контролируемый образец 10 устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму - стол 11, затем подают стабилизирующий газ в газораспределительные камеры 7 и 8, из которых по цилиндрической щели по направляющим каналам в виде вихря подают в приэлектродную зону дугового разряда 17, просвечиваемого излучением, направляемым параллельно плоскости стола 11 в направлении образующей цилиндра, форьшрующего калиброванную прокладку 5. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна 19, расположенные в торцах, вьтолняю- щих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы. 2 ил. 9 L. В (Л N9 СО С5 00 ел 2t 20 is 17 fff Т6 fpuff.l

Формула изобретения SU 1 296 851 A1

15 15

22

(ftu&.Z

Редактор С.Лисина

Составитель Б.Широков Техр ед М. Ходанич

Заказ 766/42

Тираж 777Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Корректор С.Шекмар

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1987 года SU1296851A1

Рыжов В.В., Шанов В.П., Фиш- ман И.И
Атомно-абсорбционный анализ монолитных образцов в дуге переменного тока
- Заводская лаборатория, 1984, 50, № 6, fc
Машина для изготовления проволочных гвоздей 1922
  • Хмар Д.Г.
SU39A1
Способ спектрального анализа и устройство для его осуществления 1983
  • Карих Феликс Гансович
SU1262297A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 296 851 A1

Авторы

Карих Феликс Гансович

Даты

1987-03-15Публикация

1985-05-31Подача