Изобретение относится к спектральному анализу и может быть использовано для определения химического состава электропроводных материалов с при- дуговых источников возбужде- ния спектра.
Цель изобретения - расширение функциональных возможностей устройства путем обеспечения возможности проведения атомно-абсорбционного анализа.
На фиг. схематически изображено предлагаемое устройство, разрез по оси каналов, формирующих стабилизирующий поток и расположенных в плоскостях, перпендикулярных оптической оси; на фиг,2 - профилированная калиброванная прокладка, вид сверху Для обеспечения возможности использования известного устройства для прямого атомно-абсорбционпого анализа монолитных металлических образцов стабилизирующий дугу газ подают к поверхности образца по цьшинд рической щели. Затем включают источник питания дугового разряда, атоми- зирующего контролируемый образец, используя при этом прианоднт,то зону разряда в качестве ячейки, поглощающей просвечивающее излучение.
. Устройство для осуществления способа спектрального анализа электро-- проводных материалов содержит при- электродную диафрагму 1, выполненную разъемной с корпусом 2 по цилиндрическим поверхностям 3 и 4 равного радиуса, промелсуток меж,цу которыми заполнен профилированной прокладкой 5, служащей для подачи стабилизирующего газа через канал б из газораспределительных линейных камер 7 и 8 в зону приэлектродного пятна 9, контролируемого образца 10, служащего в,качестве одного из электродов, установлен- кого на плоской поверхности II, выполняющей функции стола и ограничивающей приэлектродную диафрагму сверху, а снизу - поверхностью 3, ка напы 12, сходящиеся в отверстие 13, ограничены поверхностями 3 и 4 и бо- ковьп ш поверхностями 14 зубьев 15 прокладки 5, причем изгибы зубьев задаются радиусами, обеспечивающими касание поверхностями.вершин зубьев с образующей выходного отверстия 13 приэлектродной диафрагмы I. На оси корпуса 2 размещена разрядная камера 16, слз. жащая для прохода дугового
5
0
5
0
5
0 45 jO
55
разряда 17 и паров атомизирован- ного материала, в плоских торцах 18 которой вьтолнены светопроводящие окна 19, касающиеся своей образующей 20 поверхности 4 в зоне 21, Торцовые поверхности 22 каналов 12 прокладки 5 сочленены с плоскими внешникш поверхностями, камер 7 и 8.
Пример, Контролируемый образец 10, служащий одним из электродов, устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму - стол 11 размером 70 X 70 мм с выходным отверстием диаметром 6 мм. Затем подают стабилизирующий газ в газораспределительные камеры 7 и 8, из которых по цилиндрической щели радиусом 100 мм по направляющим каналам 12 в виде вихря подают в приэлектроднуто зону дугового разряда 17, просвечиваемого излучением, направляемым параллельно плоскости стола 1I в направлении образующей цилиндра, формирующего ка- лIiбpoвaннyю прокладку 5, изготовлен- нЗ ю из медной фольги толщиной 0,1мм. .Вихревой поток стабилизирующего газа образован в результате слияния потоков из обеих газораспределительных камер 7 и 8. Таким образом при протяженности газораспределительР1ых камер, равной 35 мм, ширина основания вихреобразующих зубьев, как и основания каналов, определяется величиной 5 мм. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна 9 диаметром 8 мм, расположенные в торцах, выполняющих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы, имеющих толщину 15 мм. При этом оптическая ось излучения, совпадающая с осью окон 19, проходит на удалении 4,5 мм от плоскости стола 11 приэлектродной диафрагмы 1,
Использование стабилизации приэлектродного участка дуги путем подачи газа к поверхности контролируемого образца в виде цилиндрической кольцевой струи сходящихся в вихрь отдельных потоков газа, из двух газораспределительных камер позволяет расширить применение дуги постоянного тока в области атомно-абсорбционного анализа, обеспечивая рост чувствительности определения микропримеси в металлах с возможностью перехода на единый градуированный график для различных марок спла вов, повышая качество технологического контроля.
312
Формула изобретения Устройство для спектрального анализа образцов электропроводных материалов, содержащее корпус с разрядной камерой, с отверстиями для подво да и отвода газов, приэлектродную диафрагму, на которой установлен электрод, являющийся образцом, газораспределительную камеру, полость для подачи стабилизирующего газа, вы полненную в виде кольцевой щели, рас поло женной между корпусом и диафрагмой, изготовленными с разъемом по поверхности щели диафрагмы, снабженной по внешнему периметру разъема герме- тизирующей калиброванной прокладкой, имеющей набор клиновидных зубьев, вершины которых лежат на образующей входного отверстия в разрядный канал а основания расположены на наружной поверхности газораспределительной камеры, отличающееся тем.
что, с целью расширения функциональных возможностей за счет возможности обеспече1шя проведения атомно-абсорб- ционного анализа, щелевое отверстие диафрагмы выполнено цилиндрической формы, газораспределительная камера образована двумя прямолинейными камерами, расположенными в корпусе симметрично относительно оптической оси устройства, а клиновидные зубья калиброванной прокладки вьшолнены изог нутыми с основаниями, опирающимися на плоские наружные поверхности обеих гй йораспределительных камер, при этом изгибы зубьев задаются радиусами, обеспечивающими касание вершин зубьев с образующей выходного отверстия приэлектродной диафрагмы в точках, равноудаленных друг от друга, при равенстве сечений выходных отверстий каждого из образованных газо- проводящих каналов.
Изобретение относится к спектральному анализу и обеспечивает возможность применения просвечивающих излучений, направляемых через дуго- . вой столб параллельно плоскости стола в направлении, совпадающем с обра, JO 8 зугащей цилиндра, формирующего калиброванную прокладку, т.к. стабилизирующий дугу газ подается по цилиндрической щели, а светоотбор осуществляется в направлении, аксиальном образукхцей цилиндра. Контролируемый образец 10 устанавливают неподвижно на приэлектродную диафрагму - стол 11, затем подают стабилизирующий газ в газораспределительные камеры 7 и 8, из которых по цилиндрической щели по направляющим каналам в виде вихря подают в приэлектродную зону дугового разряда 17, просвечиваемого излучением, направляемым параллельно плоскости стола 11 в направлении образующей цилиндра, форьшрующего калиброванную прокладку 5. Просвечивающее дугу излучение направляют в окна 19, расположенные в торцах, вьтолняю- щих роль ребер жесткости корпуса и диафрагмы. 2 ил. 9 L. В (Л N9 СО С5 00 ел 2t 20 is 17 fff Т6 fpuff.l
15 15
22
(ftu&.Z
Редактор С.Лисина
Составитель Б.Широков Техр ед М. Ходанич
Заказ 766/42
Тираж 777Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
Корректор С.Шекмар
Рыжов В.В., Шанов В.П., Фиш- ман И.И | |||
Атомно-абсорбционный анализ монолитных образцов в дуге переменного тока | |||
- Заводская лаборатория, 1984, 50, № 6, fc | |||
Машина для изготовления проволочных гвоздей | 1922 |
|
SU39A1 |
Способ спектрального анализа и устройство для его осуществления | 1983 |
|
SU1262297A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Авторы
Даты
1987-03-15—Публикация
1985-05-31—Подача