Способ анализа электронного спектра вещества Советский патент 1987 года по МПК G01N23/02 

Изобретение относн гся к физическим методам исследования структуры и свойств вещества, а именно к методам, основанным на регистрации характеристик аннигиляции позитронов в веществе, и может быть использовано для анализа электронных спектров различных материалов.

Цель изобретения - повышение точности измерений за счет снижения влияния поглощения аннигиляционных квантов в веществе исследуемого объета.

Способ осуществляют следующим образом.

На установке для измерения угловых распределений аннигиляционных квантов проводят измерения зависимости скорости совпадения, от ух ла между осями детекторов для образца кремния с ориентацией поверхности (100), имеющего форму половины круга диаметром 76 мм и толщиной 0,3 мм. Образец помещают между двумя детекторами,По- зитрон.ами источника облучают, крем- ашй, в котором они аннигилируют. С помощью двух детекторов, один из которых подвижный, на основе сцинтилля торов Nal(Tl) диаметром 15 см и толщиной 15 см регистрируют аннигиля- цнонные гамма-кванты. С помощью схемы совпадений с разрешающим временем 100.НС выделяют совпадения, которые подсчитывают счетчиком. Изменяя угол установки подвижного детектора относительно оси неподвршного детектора, проходящей через образец, в диапазоне ±20 мрад измеряют скорость счета совпадений в зависимости от этого угла. Полученная кривая искажена поглощением квантов в образце.

Для .снижения влияния поглощения квантов одновременно с измерением скорости совпадений с помощью дополнительного счетчик фиксируют интенсивность регистрируемых подвижным дектором аннигиляционных к.вантов и определяют для каждого угла отношение скорости совпадений к интенсивности зарегистрированньк квантов.

Полученная в результате такой процедуры зависимость не искалсена погло

щением квантов в образце. Эту зависимость используют для расчета импульсного распределения электронов.в веществе (электронного спектра в соответствии с выражением

п(р) -1- Ami,

- 8 d0

10

где

0

тс

15

0

25

0

5

0

5

0

угол установки подвижного детектора; Р - импульс электрона; m - его масса; с - скорость света. Способ не требует юстировки образца, т.е. регулировки его положения по трем пространственным координатам, трем углам наклона и углу поворота около оси образца. Точность измерений повышается в несколько раз за счет снижения влияния поглощения квантов в материале исследуемого объекта.

Формула изобретения

Способ анализа электронного спектра вещества, включающий облучение исследуемого объекта потоком позитроЧ нов, регистрацию аннигиляционных гамма-квантов двумя расположенными с противоположных сторон объекта колли- мированными детекторами, измерение скорости совпадений импульсов детекторов .при изменении углового положения одного из детекторов относительно оси другого детектора, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерений за счет снижения влияния поглощения аннигиляционных квантов в в.еществе исследуемого объекта, одновременно с измерением скорости совпадений фиксируют интенсивно сть регистрируемых подвижным детектором аннигиляционных квантов, определяют для каждого угла между осями детекторов величину отношения между скоростью совпадений и интенсивностью регистрируемых подвижным детектором квантов, анализируют зависимость упомянутой величины от угла между осями детекторов, по которой определяют электронный спектр вещества объекта.

Изобретение относится к области физических методов исследования структуры и свойств вещества, конкретнее к методам, основанным на регистрации характеристик аннигиляции . позитронов в веществе, и мож-ет быть использовано для анализа электронных спектров различных материалов,Целью изобретения является повьщгение точности измерений за счет снижения влияния поглощения аннигиляционных квантов в веществе исследуемого объекта. Способ заключается в том, что измеряют скорость совпадений импульсов двух детекторов аннигиляционных квантов при различных углах между осями детекторов, один из которых в процессе измерений перемещают, а другой остается неподвижным. Одновременно с этим регистрируют интенсивность аннигиляционных квантов подвижным детектором и определяют отношение скорости совпадений к зарегистрированной интенсивности квантов дпя каждого угла между осями детекторов. По характеру зависимости указанного отношения от упомянутого угла судят об электронном спектре вещества объекта. i о:) tsD О5 О5 CD