Устройство для измерения геометрических размеров изделия Советский патент 1988 года по МПК G01B17/00 

(Л

14)

1366879

терморегулятора 10, О равенстве остей судят по совпадению сигнапн л н н и с

лов, излученных пьезопластинами 7 основного 2 и дополнительного 3 преобразователей и принятых пьезопластина ми 8 тех же преобразователей на экране дефектоскопа 1. В режиме измерения к дефектоскопу подключают пьезопластины 4, 5, 6 и, перемещая дополнительный преобразователь 3 по эталонной линейке 9, добиваются совпадения сигналов от основного 2 и дополнительного 3 преобразователей на экране дефектоскопа 1. Отсчет размера изделия производят по шкале, нанесенной на эталонной линейке 9. 1 ил.

Изобретение относится к измерительной технике. Целью изобретения является повьшение точности измерения и расширение области применения устройства. В режиме калибровки уравнивают скорости распространения поверхностных акустических волн в изделии 11 и эталонной линейке 9 путем изменения температуры последней с помо

1,

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля геометрических размеров лромьшшенных изделий, в частности энергетического оборудования

Цель изобретения - повышение точности измерений и расширение области применения устройства путем устранения зависимости результатов измерения от величины скорости распространения поверхностных удьтразвуковых волн в материале контролируемого изделия.

На чертеже изображена принципиальная схема предлагаемого устройства.

Устройство содержит дефектоскоп 1 соединенные с ним основной 2 и дополнительный 3 ультразвуковые искатели (преобразователи) с основными пьезопластинами 4-6 и парами дополнительных пьезопластин, включающими генерирующую 7 и приемную 8 пьезопласти- ны, а также эталонную линейку 9, оснащенную терморегулятором 10. Эталонная линейка 9 имеет шкалу (не показана) и акустически связана с дополнительным преобразователем 3, имеющим возможность перемещаться вдоль нее.

Устройство для измерения геометрических размеров изделия работает следующим образом.

Основной преобразователь 2 устанавливают на поверхность контролируемого изделия 11, генерируют его пье- зопластиной 7 поверхностную акусти- ческую волну, которая, пройдя по изделию под преобразователем, принима- ется пьезопластиной 8. Принятый сиг- 1нал фиксируют на экране дефектоскопа 1. То же самое проделывается с

дополнительным преобразователем 3j | акустически связанным с эталонной ли- н ейкой 9. Изменяют скорость распространения поверхностных волн в эталонной линейке 9 путем изменения ее температуры с помощью терморегулятора 10 до значения, равного скорости распространения волн в контролируемом изделии 11.0 равенстве скоростей судят по совпадению сигналов основного 2 и дополнительного 3 преобразователей на экране дефектоскопа 1. Подключают к дефектоскопу 1 пьезопластины 4 и 5, одйа из которых возбуждает поверхностные акустические волны в изделии 11, а другая принимает их после прохождения по периметру изделия 11. Принятый сигнал фиксируют на экране дефектоскопа 1. Подключают к дефектоскопу 1 пьезопластину 6, генерирующую поверхностные акустические волны в эталонной линейке и принимающую их после отражения от

торца эталонной линейки 9. Перемещением дополнительно преобразователя 3 вдоль эталонной линейки 9 совмещают на экране дефектоскопа 1 сигнал от пьезопластины 6 с ранее зафиксированным сигналом от основного преобразователя 2. По положению дополнительного преобразователя 3 относительно шкалы эталонной линейки 9 судят о размере изделия.

Таким о бразом, благодаря, установке на основном и дополнительном преобразователях по паре дополнительных пьезопластин и оснащению эталонной линейки те рморегулятором повьш1ается точность измерений и расширяется область применения предлагаемого устройства (по сравнению с известными).

313668794

Формула изобретенияполнительрый искатели снабжены до- Устройство для измерения геометри-полнительными парами пьезопластин, ческих размеров изделия по авт.св.которые расположены на равном рас- IP 1013756, отличающеесястоянии одна от другой в каждой паре тем, что, с целью повьшения точностипод углом к рабочей поверхности пре- измерений и расширения области при-образователей, а эталонная линейка менения устройства, основной и до-снабжена терморегулятором.