Прибор для контроля шероховатости поверхности Советский патент 1988 года по МПК G01B11/30 

со

i;O

сл

;о

4

Oi

Изобретение относится к измеритель- - ной технике и может быть использовано, в частности, для контроля шероховатости поверхности,с

Цель изобретения - уменьшение продольных габаритов прибора за счет применения простой положительной линзы вместо сложной отрицательной линзы с отверстием, а также за счет того, ю что эквивалентное фокусное расстояние системы двух положительных линз меньше эвивалентного фокусного расстояния системы из положительной и отрицательной линз.15

На чертеже изображена принципиальная схема прибора для контроля шеро- ховатости поверхности.

Прибор содержит установленньте на 20 одной, оптической оси источник 1 излучения, положительные линзы 2 и 3 и регистратор 4.

Источник 1 излучения совместно с 25 линзой 2 меньшего диаметра и с центральной зоной линзы 3 большего диаметра образуют короткофокусный осве тительный канал, а регистратор 4 совместно с периферийной зоной линзы 3 30 большего диаметра образуют длиннофокусный приемный канал, апертура которого в пространстве предметов превышает апертуру осветительного канала,

35

Линзы 2, 3 могут быть плосковьшук- лыми, двояковыпуклыми либо положительными менисками, В качестве источника 1 излучения может использоваться миниатюрная лампа накаливания, но лучшие i 40 результаты дает применение светодио- дов с узкой индикатрисой излучения. Регистратором А может быть фотоприемник, позволяющий регулировать и оценивать величину отраженной от контро- 45 лируемой поверхности 5 рассеянной составляющей лучистого потока, либо обычный микроскоп, если целесообразно определение величины шероховатости по геометрическим характеристикам 50 визуально наблюдаемых микродефектов контролируемой поверхности 5.

Прибор работает следующим образом

Расходящийся пучок лучей от источника 1 излучения, пройдя через положительную линзу 2 меньшего диаметра попадает на центральную зону положительной линзы 3, которая преобразует его в сходящийся пучок с центром на контролируемой поверхности 5 и строит на этой поверхности изображение излучающей площадки источника 1 излучения. При отражении излучения от контролируемой поверхности 5 часть лучей, попадающая на поверхность, свободную от микродефектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микроде- фектах шероховатой поверхности. Зеркальная составляющая отраженного потока возвращается обратно к источнику 1 излучения через центральную зону линзы 3 и линзу 2 и в дальнейшем ие рассматривается. Лучи, рассеянные на микродеЛектах, попадают на пери- ферийную зону положительной линзы 2, которая формирует в плоскости регистратора 4 изображение микродефектов контролируемой поверхности 5. Так как в регистратор 4 попадают только те лучи, .которые отражаются от микро дефектов, а лучи, отраженные от остальной поверхности, возвращаются обратно к ИСТОЧ.НИКУ 1 излучения, то микродефекты наблюдаются в регистраторе 4 как световые объекты на темном фоне. Измеряя величину рассеян-- ной составляющей отраженного потока, например, фотоприемником или определяя геометрические параметры микрог- дефектов при визуальном наблюдении, можно судить о классе шероховатости поверхности 5, Формула изобретения

Прибор для контроля шероховатости поверхности, содержащий источник излучения, положительную линзу, установленную по ходу излучения, и регист ратор, отличающийся тем, что, с целью уменьшения продольных габаритов поибора, он снабжен второй положительной линзой, установленной между источником излучения и первой положительной линзой.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для контроля шероховатости поверхности по методу темного поля. Цель изобретения - уменьшение продольных: габаритов прибора за. счет применения в оптической системе прибора простых положительных линз. Прибор содержит установленные на одной оптической оси источник I излучения, положительные линзы 2 и 3 и регистратор 4. Линза 2 совместно с центральной зоной линзы 3 строят на контролируемой поверхности 5 изображение из- Случающей площадки источника 1 излучения. При отражении излучения от поверхности 5 часть лучей, лопадающая на поверхность, свободную от микроде- Лектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микродеЛектах и попадает на периферийную зону линзы 3, которая формирует в плоскости регистратора 4 изображение светлых микроде- фектов на темном фоне. Зеркально отраженные лучи через центральную зону линзы 3 и линзу 2 возвращаются обратно к источнику 1 излучения и на регистратор 4 не попадают. 1 ил. i (Л

ВНИИГО Заказ 2485/40 Тираж 680

Произв.-полигр, пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

Подписное