Прибор для контроля шероховатости поверхности Советский патент 1989 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU1511593A1

ел

со

с

3151

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано в частности, для контроля шероховатости поверхности.

Цель изобретения - повышение технологичности конструкции, повышение точности контроля и уменьшение продольных габаритов прибора за счет упрощения юстировки прибора, совмеще- ния оптических систем приемного и осветительного каналов в одном компоненте и увеличения несткости оптической системы.

.На чертеже изображена принципиаль- ная схема прибора для контроля шероховатости поверхности.

Прибор содержит расположенные на оптической оси однокомпонентную оптическую систему, выполненную в виде положительной линзы 1 , центральная зона которой представляет собой эллипсоид вращения с зеркальным покры- гием 2, в одном из фокусов которого установлен источник 3 излучения и ре- гистратор. Источник 3 излучения с совместно с центральной зоной положительной линзы 1 образует осветительный канал, а регистратор k совместно с периферийной зоной положительной линзы 1 - приемный канал, апертура которого в пространстве предметов пре вышает апертуру осветительного канала. В другом фокусе эллипсоида вращения устанавливают контролируемую поверхность 5.

Линза 1 может быть плосковыпуклой, двояковыпуклой, либо положительным мениском. В качестве источника 3 излучения может использоваться миниа- тюрная лампа накаливания, но лучшие результаты дает светодиод с узкой индикатрисой излучения. Регистратором Ц может быть фотоприемник, позволяющий регистрировать и оценивать величИ ну отраженной от контролируемой поверхности .5 рассеянной составляющей лучистого потока, либо обычный микроскоп, если целесообразно определение величины шероховатости по геометрическим характеристикам визуально наблюдаемых микродефектов контролируемой поверхности 5. Для обеспечения минимальных потерь энергии и максимального контраста изобранения контролируемую поверхность 5 целесообразно расположить во втором фокусе эллипсоида вращения, источник 3 излучения в первом фокусе,

а регистратор 4 лучше установить в плоскости изображения контролируемой поверхности 5 оптической системой приемного канйла.

Прибор для контроля шероховатости поверхности работает следующим образом.

Расходящий.ся пучок лучей от источника 3 излучения попадает на центральную зону положительной линзы 1, представляющую собой вогнутый эллипсоид вращения, отражаясь от которой, преобразуется в сходящийся пучок с центром на контролируемой поверхности 5, расположенной во втором фокусе эллипсоида и строит на этой поверхности . изображение излучающей площадки источника 3 излучения, который расположен в первом фокусе эллипсоида. При отражении излучения от контролируемой поверхности 5 часть лучей, попадающая на поверхность , свободную от микродефектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микродефектах шероховатой поверхности 5. Зеркальная составляющая отраженного потока возвращается в осветительный канал и в дальнейшем не используется. Лучи, рассеянные на микродефектах, попадают на периферийную зону положительной линзы 1 , которая формирует в плоскости регистратора k изображение микродефектов контролируемой поверхности 5. Так как в регистраторе 4 попадают только те лучи, которые отражаются от микродефектов, а лучи, отраженные от остальной поверхности 5 5, возвращаются в осветительный канал, то микродефекты наблюдаются в регистраторе как светлые объекты на темном фоне. Измеряя величину рассеянной составляющей отраженного потока фотоприемника или определяя геометрические параметры микродефектов при визуальном наблюдении, можно, судить о классе шероховатости поверхности 5.

Формула изобретения

Прибор для контроля шероховатости поверхности, содержащий установленные на одной оси источник излучения, оптическую систему и регистратор, отличающийся тем, что, с целью повышения технологичности конструкции, повышения точности контроля и уменьшения продольных габаритов

51311593 , 6

прибора, оптическая система располо выполнена в виде вогнутого эллипсои- жена между источником излучения и да вращения с зеркальным покрытием, регистратором и содержит положитель- а источник излучения установлен в од- ную линзу, центральная зона которой ном из фокусов эллипсоида.

Похожие патенты SU1511593A1

название год авторы номер документа
Прибор для контроля шероховатости поверхности 1985
  • Михеенко Леонид Андреевич
  • Мельник Иван Степанович
  • Свительская Елена Николаевна
SU1249325A1
Прибор для контроля шероховатости поверхности 1988
  • Мельник Иван Степанович
  • Михеенко Леонид Андреевич
  • Зотова Татьяна Александровна
SU1522033A1
Прибор для контроля шероховатости поверхности 1986
  • Михеенко Леонид Андреевич
  • Мельник Иван Степанович
  • Тимашева Марина Николаевна
SU1395946A1
Устройство для контроля шероховатости поверхности 1990
  • Мельник Иван Степанович
  • Комаров Геннадий Павлович
  • Кравченко Игорь Владимирович
  • Кривохижа Александр Михайлович
  • Лазаренко Елена Владимировна
  • Моленко Анатолий Александрович
  • Пташник Олег Владимирович
SU1747887A1
ОСВЕТИТЕЛЬНЫЙ УЗЕЛ МАЛОГАБАРИТНОГО СПЕКТРОФОТОМЕТРА 2013
  • Солдатченков Виктор Сергеевич
  • Шавард Николай Андреевич
  • Калинников Юрий Константинович
  • Качарава Алексей Язонович
  • Шавард Артемий Андреевич
RU2547891C1
Устройство для контроля шероховатости поверхности 1990
  • Таланчук Петр Михайлович
  • Мельник Иван Степанович
  • Комаров Геннадий Павлович
  • Кривохижа Александр Михайлович
  • Лазаренко Елена Владимировна
SU1712782A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ БЕСКОНТАКТНОГО НЕРАЗРУШАЮЩЕГО КОНТРОЛЯ МАТЕРИАЛОВ 1992
  • Берников Е.В.
  • Гапонов С.С.
  • Туринов В.И.
RU2073851C1
Устройство для контроля шероховатости поверхности 1990
  • Островский Андрей Сергеевич
  • Мельник Иван Степанович
  • Комаров Геннадий Павлович
  • Кравченко Игорь Владимирович
  • Лазаренко Елена Владимировна
  • Кривохижа Александр Михайлович
  • Моленко Анатолий Александрович
SU1733925A1
Интерферометр для контроля качества плоских поверхностей 1983
  • Духопел Иван Иванович
  • Серегин Александр Георгиевич
  • Иванова Наталья Евгеньевна
  • Лосев Валентин Федорович
  • Китаева Татьяна Владимировна
  • Терехина Татьяна Николаевна
  • Соловьева Лидия Петровна
SU1231400A1
Способ контроля дефектов на плоской отражающей поверхности и устройство для его осуществления 1989
  • Рыбалко Владимир Витальевич
SU1786406A1

Реферат патента 1989 года Прибор для контроля шероховатости поверхности

Изобретение относится к измерительной технике. Цель изобретения - повышение технологичности конструкции, повышение точности контроля и уменьшение продольных габаритов прибора за счет упрощения юстировки прибора, совмещения оптических систем приемного и осветительного каналов в одном компоненте и увеличения жесткости оптической системы. Прибор содержит оптическую систему в виде положительной линзы 1, центральная зона которой представляет собой эллипсоид вращения с зеркальным покрытием 2, источник 3 излучения и регистратор 4. Эллипсоид вращения строит на контролируемой поверхности 5 изображение излучающей площадки источника 3 излучения, который расположен в одном из его фокусов. При отражении излучения от поверхности 5 часть лучей, попадающая на поверхность, свободную от микродефектов, отражается зеркально, а часть рассеивается на микродефектах и попадает на периферийную зону линзы 1, которая формирует в плоскости регистратора 4 изображение светлых микродефектов на темном фоне. Зеркально отраженные лучи возвращаются на эллипсоид вращения, который собирает их на источнике 3 излучения, и на регистратор 4 не попадают. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 511 593 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1989 года SU1511593A1

Способ получения пластических масс 1926
  • Петров Г.С.
SU13959A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 511 593 A1

Авторы

Михеенко Леонид Андреевич

Мельник Иван Степанович

Сорокина Наталия Анатольевна

Даты

1989-09-30Публикация

1987-07-06Подача