Способ определения фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел Советский патент 1988 года по МПК G01B5/26 

со со со

Oi

N

со

Изобретение относится к испытательной технике и может быть использовано для исследования контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхностями. ; Целью изобретения является повышение Информативности путем измерения зазора и давления по площади контакта. ; Способ осуществляют следующим обра- .

: Между контролируемыми поверхностями |ел помещают находящиеся во взаимном кон- ta-кте рельефографическую матрицу и термо- (ластическую пленку таким образом, что |)ельефографическая поверхность матрицы Контактирует с пленкой, нагревают пленку АО температуры, превыщающей температуру ее стеклования на 10-15°С, прикладывают /давление к взаимодействующим телам и ох- 1аждают пленку до температуры на 10- 5°С ниже температуры ее стеклования, .е. до окончания релаксационных процес- 4ов. Затем композицию из матрицы и плен- и извлекают, разъединяют и осуществля- фт планиметрирование полученного на плен- |е отпечатка, по которому судят о факти- 4еской площади контакта поверхностей взаимодействующих тел. Измеряют глубину микрорельефа отпечатка, по которой судят о величине зазора по площади контакта взаимодействующих тел, и, наконец, измеряют изменение величины регулярной оптической

плотности, по которой судят о распределении давления по площади контакта вза- и.модействующих тел.

Способ является безотходным, так как пленку можно использовать до 200 раз, сбирая микрорельеф за счет повторного нагревания.

Формула изобретения

0

5

Способ определения фактической площади контакта поверхностей взаимодействующих тел, заключающийся в том, что помещают термопластическую пленку между этими поверхностями, нагревают ее до темпе5 ратуры, превыщающей температуру стеклования на 10-15°С, прикладывают давление к взаимодействующим телам и охлаждают пленку до ее стеклования и после извлечения пленки осущ.ествляют планиметрирование полученного отпечатка, огличающий0 ся тем, что, с целью повыщения информативности путем измерения зазора и давления по площади контакта, используют рельефографическую матрицу, которую размещают между одним из взаимодействующих тел и пленкой так, что ее рельефо- графическая поверхность контактирует с пленкой, и измеряют глубину микрорельефа отпечатка и изменение величины регулярной оптической плотности пленки, по которым судят соответственно о величине зазора и давления.

Изобретение относится к испытатель- .ной технике и может быть использовано для исследования контакта поверхностей взаимодействующих матрицы и пуансона, алмазного инструмента и детали, а также тел с эластичными поверхностями. Цель изобретения - повышение информативности путем измерения зазора и давления по площади контакта. При осуществлении способа между контролируемыми поверхностями помещают находящиеся во взаимном контакте рельефографическую матрицу и термопластическую пленку, нагревают пленку до температуры, превышающей температуру стеклования на 10-15°С, прикладывают давление к телам, охлаждают пленку до окончания релаксационных процессов и после извлечения осуществляют планиметрирование полученного отпечатка, по которому судят о фактической площади контакта, глубину микрорельефа, по которой судят о зазоре по площади контакта, п изменение величины регулярной оптической плотности, по которой судят о распределении давления по площади контакта. со (Л